四探針碳素電阻測試儀參數：

1. 材料尺寸(由選配測試臺和測試方式決定)

直 徑：圓(yuan)測試臺(tai)直接(jie)測試方式(shi) Φ15～130mm，手(shou)持方式(shi)不(bu)限

方(fang)測試臺(tai)直(zhi)接(jie)(jie)測試方(fang)式 180mm×180mm，手持方(fang)式不(bu)限. 長(高)度： 測試臺(tai)直(zhi)接(jie)(jie)測試方(fang)式 H≤100mm, 手持方(fang)式不(bu)限.

BEST-300C 測(ce)試儀(yi)能夠測(ce)量半(ban)導體(ti)材料體(ti)電(dian)阻(zu)率ρ、方(fang)塊(kuai)電(dian)阻(zu)（薄(bo)片電(dian)阻(zu)率）R 口

以及體電阻 R，測量時需調整相應(ying)的(de)修(xiu)正系(xi)數(shu)和選擇相應(ying)的(de)功(gong)能。

本產品(pin)(pin)不但提供(gong)了(le)電(dian)(dian)(dian)阻(zu)率ρ、方(fang)塊電(dian)(dian)(dian)阻(zu) R 口(kou)以及(ji)(ji)體電(dian)(dian)(dian)阻(zu) R 測試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)的基本修正(zheng)(zheng)系數(shu)設定， 還提供(gong)了(le)產品(pin)(pin)厚度(du)(du)(du) G、外形和測試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)位(wei)(wei)置的修正(zheng)(zheng)系數(shu) D 設定，極大的提高(gao)了(le)測試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)精度(du)(du)(du)。測試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)類別的快捷(jie)選(xuan)擇方(fang)式，方(fang)便了(le)用戶同時測試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)多(duo)(duo)個參(can)數(shu)，提高(gao)測試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)效(xiao)率。整機測量(liang)(liang)(liang)最大相對(dui)誤(wu)差(cha)：≤±3%；整機測量(liang)(liang)(liang)標準不確(que)定度(du)(du)(du)：≤±3%四位(wei)(wei)半顯(xian)示讀數(shu)；八量(liang)(liang)(liang)程自動(dong)或(huo)手動(dong)測試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)；范圍寬： 電(dian)(dian)(dian)阻(zu)：10-4Ω～105Ω ；方(fang)阻(zu)：10-4Ω/□～105Ω/□；正(zheng)(zheng)反向(xiang)電(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)源修正(zheng)(zheng)測量(liang)(liang)(liang)電(dian)(dian)(dian)阻(zu)誤(wu)差(cha)恒流(liu)(liu)源：電(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)量(liang)(liang)(liang)程分(fen)為： 1uA、10uA、100uA、1mA、10mA 、100mA六檔；儀器配(pei)有恒流(liu)(liu)源開(kai)(kai)(kai)關(guan)可(ke)(ke)有效(xiao)保(bao)護被(bei)測件，即先讓(rang)探針頭(tou)壓觸(chu)在被(bei)測材(cai)料(liao)(liao)上(shang)，后(hou)開(kai)(kai)(kai)恒流(liu)(liu)源開(kai)(kai)(kai)關(guan)，避免接觸(chu)瞬間打火。為了(le)提高(gao)工作效(xiao)率，如探針帶電(dian)(dian)(dian)壓觸(chu)單晶對(dui)材(cai)料(liao)(liao)及(ji)(ji)測量(liang)(liang)(liang)并無(wu)(wu)影響時，恒流(liu)(liu)源開(kai)(kai)(kai)關(guan)可(ke)(ke)一直處于(yu)開(kai)(kai)(kai)的狀(zhuang)態。可(ke)(ke)配(pei)合(he)(he)多(duo)(duo)種探頭(tou)進(jin)行(xing)(xing)(xing)測試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)；也可(ke)(ke)配(pei)合(he)(he)多(duo)(duo)種測試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)臺進(jin)行(xing)(xing)(xing)測試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)。校正(zheng)(zheng)功能(neng)：可(ke)(ke)手動(dong)或(huo)自動(dong)選(xuan)擇測試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)量(liang)(liang)(liang)程 全量(liang)(liang)(liang)程自動(dong)清零。厚度(du)(du)(du)可(ke)(ke)預設，自動(dong)修正(zheng)(zheng)樣品(pin)(pin)的電(dian)(dian)(dian)阻(zu)率,無(wu)(wu)需(xu)查(cha)表即可(ke)(ke)計算出電(dian)(dian)(dian)阻(zu)率自動(dong)進(jin)行(xing)(xing)(xing)電(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)換向(xiang),并進(jin)行(xing)(xing)(xing)正(zheng)(zheng)反向(xiang)電(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)下的電(dian)(dian)(dian)阻(zu)率(或(huo)方(fang)塊電(dian)(dian)(dian)阻(zu))測量(liang)(liang)(liang),顯(xian)示平均值.測薄片時,可(ke)(ke)自動(dong)進(jin)行(xing)(xing)(xing)厚度(du)(du)(du)修正(zheng)(zheng)。雙電(dian)(dian)(dian)測測試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)模式，測量(liang)(liang)(liang)精度(du)(du)(du)高(gao)、穩定性(xing)好.具備溫度(du)(du)(du)補償功能(neng)，修正(zheng)(zheng)被(bei)測材(cai)料(liao)(liao)溫漂帶來的測試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)結果偏(pian)差(cha)。比較器判(pan)斷燈直接顯(xian)示，勿需(xu)查(cha)看屏幕，作業效(xiao)率得(de)以提高(gao)。

3檔分(fen)(fen)選功能(neng)：超上限，合格，超下限，可(ke)(ke)對被(bei)測(ce)(ce)(ce)件(jian)進行HI/LOW判斷(duan)，可(ke)(ke)直接(jie)在(zai)LCD使用標志顯示；也可(ke)(ke)通過USB接(jie)口、RS232接(jie)口輸出(chu)更為詳(xiang)細的分(fen)(fen)選結果。測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)模式：可(ke)(ke)連(lian)接(jie)電(dian)腦測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)、也可(ke)(ke)不(bu)連(lian)接(jie)電(dian)腦單機(ji)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)。接(jie)口，Handler接(jie)口、RS232接(jie)口、USB HOST、USB DEVICE。實現(xian)遠程控(kong)制。U盤可(ke)(ke)記錄(lu)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)數(shu)據軟件(jian)功能(neng)（選配）：軟件(jian)可(ke)(ke)記錄(lu)、保存(cun)、各點的測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)數(shu)據；可(ke)(ke)供用戶(hu)對數(shu)據進行各種數(shu)據分(fen)(fen)

在設定模式下（設定完(wan)畢，保存好數據(ju)后），選擇測量類別（電(dian)阻率ρ、方塊電(dian)阻

（薄片電阻(zu)率）R 口或體電阻(zu) R 中三(san)選一，切(qie)換儀(yi)器到“測(ce)(ce)量(liang)(liang)"模(mo)式(shi)，窗(chuang)口左側(ce)“測(ce)(ce)量(liang)(liang)" 模(mo)式(shi)燈(deng)亮。電阻(zu)測(ce)(ce)量(liang)(liang),注意良(liang)好(hao)接(jie)(jie)觸，電壓測(ce)(ce)試(shi)(shi)端(duan)在內側(ce)；半導(dao)體參數(shu)測(ce)(ce)試(shi)(shi)，將探(tan)針與樣品良(liang)好(hao)接(jie)(jie)觸，注意壓力(li)要(yao)適中；由數(shu)字顯示窗(chuang)直(zhi)接(jie)(jie)讀出測(ce)(ce)量(liang)(liang)值(zhi)。

注(zhu)意！測量(liang)(liang)狀態中，電(dian)(dian)流量(liang)(liang)程(cheng)(cheng)默認為自(zi)動方式(shi)，也可(ke)調整為手動方式(shi)，手動方式(shi)下(xia)， 電(dian)(dian)流量(liang)(liang)程(cheng)(cheng)適合的，儀器會穩定顯示數(shu)據，電(dian)(dian)流量(liang)(liang)程(cheng)(cheng)不適合的會給出超(chao)量(liang)(liang)程(cheng)(cheng)或欠量(liang)(liang)程(cheng)(cheng)閃爍提示，對于(yu)(yu)超(chao)量(liang)(liang)程(cheng)(cheng)，說明電(dian)(dian)流過(guo)大(da)(da)，要調到(dao)較(jiao)小電(dian)(dian)流檔；對于(yu)(yu)欠量(liang)(liang)程(cheng)(cheng)，說明電(dian)(dian)流過(guo)小， 要調到(dao)較(jiao)大(da)(da)電(dian)(dian)流檔。

四探針碳素電阻測試儀操作：

1、測試溫度23±2℃，相對濕度65±5%，無外界電磁場干擾環境中(zhong)進(jin)行。

2、測試(shi)時對(dui)試(shi)樣所加電壓為100V~500V的(de)直流電壓，選(xuan)擇電壓檔(dang)次。

3、將試樣倒入高壓電(dian)(dian)極(ji)(ji)內，使(shi)液面(mian)剛好和環(huan)電(dian)(dian)極(ji)(ji)下綠全部接觸為止。

4、將充分放電后的試樣和電極，按(an)固(gu)體(ti)(ti)(液體(ti)(ti))體(ti)(ti)積(ji)及(ji)表面電阻率(lv)測試儀要求(qiu)接線。