產品概述
硅膠材料擊穿試驗儀產品常規型號:
01、BDJC-10KV
02、BDJC-30KV
03、BDJC-50KV
04、BDJC-100KV
技術要求:
A、試驗方式:
直流試驗(yan):1、勻(yun)速升(sheng)壓 2、階梯升(sheng)壓 3、耐壓試驗(yan)
交流試驗:1、勻速升(sheng)壓 2、階梯升(sheng)壓 3、耐壓試驗
注:根據(ju)(ju)不同行(xing)業(ye)的標準(zhun),我們(men)可以根據(ju)(ju)用戶的要求,依據(ju)(ju)貴行(xing)業(ye)標準(zhun),為您(nin)定制行(xing)業(ye)標準(zhun)所(suo)需的特殊測試功能。
B、電極規格:1、片(pian)材電極 ¢25mm 兩個 片(pian)材電極 ¢75mm一只
2、管用電(dian)極 兩個 、一(yi)套(tao)。
C、輸(shu)入電壓: 交流 220 V
D、輸出電壓: 交流 0--50 KV ;
直流 0--70 KV ;(同(tong)類產品做(zuo)到50kv)
E、電器容量(liang): 5KVA
F、高(gao)壓(ya)(ya)(ya)分(fen)級: 0--50KV 全程可調(diao)(采用高(gao)精(jing)度電(dian)壓(ya)(ya)(ya)采樣(yang)器件,取(qu)消了同類廠家由于(yu)電(dian)壓(ya)(ya)(ya)采樣(yang)精(jing)度不夠必(bi)須采用高(gao)壓(ya)(ya)(ya)分(fen)級的(de)方式(shi))
G、升壓速(su)率(lv):
100 V/S 200 V/S 500 V/S 1000 V/S 2500 V/S 3000 V/S (此(ci)項滿足 標準里面極快速升壓試(shi)驗(yan)要求)
備(bei)注(zhu):本產(chan)品(pin)采用 直流伺服(fu)電機(ji)(ji)加載(zai)減速(su)(su)(su)機(ji)(ji)構(gou),保證(zheng)了(le) 標準里面關(guan)于(yu)極(ji)慢(man)速(su)(su)(su)試(shi)驗(yan)和(he)極(ji)快速(su)(su)(su)試(shi)驗(yan)的(de) 要(yao)求(qiu),(一般(ban)廠家(jia)為皮帶輪(lun)機(ji)(ji)構(gou),誤差(cha)較(jiao)大(da))保證(zheng)用戶可(ke)以自由選擇升壓(ya)速(su)(su)(su)率(lv),是(shi)目前同類產(chan)品(pin)中 滿足國標對于(yu)升壓(ya)速(su)(su)(su)率(lv)要(yao)求(qiu)的(de)測試(shi)設備(bei)。可(ke)以根據用戶需求(qiu)設定不同的(de)升壓(ya)速(su)(su)(su)率(lv)
H、電壓試(shi)驗精度(du): ≤ 1%
適(shi)用范圍
硅膠材料擊穿試驗儀主要適用于固體絕緣材料(如:塑料、橡膠、層壓材料、薄膜、樹脂、云母、陶瓷、玻璃、絕緣漆等絕緣材料及絕緣件)在工頻電壓或直流電壓下擊穿強度和耐電壓的測試。
設備安(an)全保(bao)護功能:
1、 試(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)在試(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)箱(xiang)中進行,試(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)箱(xiang)門打開時電(dian)源加不到高(gao)(gao)壓(ya)變(bian)壓(ya)器輸入端,即(ji)高(gao)(gao)壓(ya)側(ce)無電(dian)壓(ya)。100KV測試(shi)(shi)(shi)設備高(gao)(gao)壓(ya)電(dian)極距(ju)(ju)離(li)試(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)箱(xiang)壁(bi)的(de)(de) 近距(ju)(ju)離(li)大(da)于370mm,50KV測試(shi)(shi)(shi)設備高(gao)(gao)壓(ya)電(dian)極距(ju)(ju)離(li)試(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)箱(xiang)壁(bi)的(de)(de) 近距(ju)(ju)離(li)大(da)于250mm,試(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)時即(ji)使人接(jie)觸箱(xiang)壁(bi)也不會有危(wei)險。
2、 設備要安裝單(dan)獨的保(bao)(bao)護地線(xian)。接保(bao)(bao)護地線(xian),主要是減(jian)少(shao)試(shi)樣擊穿時(shi)對周圍產生的較強的電磁干(gan)擾。也(ye)可避免控制計算機失控。
2、 該試驗(yan)設備的電路(lu)設有多項保(bao)護措(cuo)施,主要有:過流保(bao)護、失壓保(bao)護、漏電保(bao)護、短路(lu)保(bao)護、直流試驗(yan)放電報警(jing)等。
3、直流試(shi)(shi)驗(yan)放(fang)電報(bao)警(jing)(jing)功能:在設備(bei)做完直流試(shi)(shi)驗(yan)時(shi),當開啟試(shi)(shi)驗(yan)門時(shi)設備(bei)會自動報(bao)警(jing)(jing),直至(zhi)使用設備(bei)上的放(fang)電裝(zhuang)置放(fang)電后報(bao)警(jing)(jing)會自動取(qu)(qu)消.(注:因(yin)為直流試(shi)(shi)驗(yan)后不(bu)放(fang)電會危險到人身安全,不(bu)能直接(jie)拿(na)取(qu)(qu)電極,起到提醒(xing)使用人員放(fang)電以(yi)免(mian)造人身傷害(hai))。
4、 試驗放電裝置,隨主機為一(yi)體化(hua),改進了(le)以往單獨配備一(yi)根放電桿的(de)功能。
5、 六級高壓(ya)安全斷電(dian)控制(zhi):①總電(dian)源開(kai)關②高壓(ya)斷電(dian)開(kai)關(鑰匙開(kai)關)③調(diao)壓(ya)器復位開(kai)關④試(shi)驗箱(xiang)門安全開(kai)關⑤高壓(ya)變壓(ya)器輸(shu)入側(ce)限流空開(kai)⑥漏電(dian)保護開(kai)關
固體電介質擊穿
導致(zhi)擊穿(chuan)(chuan)的(de)(de) 低臨界電(dian)壓稱(cheng)(cheng)為擊穿(chuan)(chuan)電(dian)壓.均勻電(dian)場(chang)中,擊穿(chuan)(chuan)電(dian)壓與(yu)介(jie)(jie)(jie)質(zhi)(zhi)(zhi)厚度之(zhi)比稱(cheng)(cheng)為擊穿(chuan)(chuan)電(dian)場(chang)強(qiang)(qiang)度(簡稱(cheng)(cheng)擊穿(chuan)(chuan)場(chang)強(qiang)(qiang),又(you)稱(cheng)(cheng)介(jie)(jie)(jie)電(dian)強(qiang)(qiang)度).它反(fan)映固體電(dian)介(jie)(jie)(jie)質(zhi)(zhi)(zhi)自身的(de)(de)耐電(dian)強(qiang)(qiang)度.不(bu)均勻電(dian)場(chang)中,擊穿(chuan)(chuan)電(dian)壓與(yu)擊穿(chuan)(chuan)處介(jie)(jie)(jie)質(zhi)(zhi)(zhi)厚度之(zhi)比稱(cheng)(cheng)為平均擊穿(chuan)(chuan)場(chang)強(qiang)(qiang),它低于均勻電(dian)場(chang)中固體介(jie)(jie)(jie)質(zhi)(zhi)(zhi)的(de)(de)介(jie)(jie)(jie)電(dian)強(qiang)(qiang)度.固體介(jie)(jie)(jie)質(zhi)(zhi)(zhi)擊穿(chuan)(chuan)后,由于有巨(ju)大(da)電(dian)流通過,介(jie)(jie)(jie)質(zhi)(zhi)(zhi)中會(hui)出現熔(rong)化或燒焦的(de)(de)通道,或出現裂紋.脆性介(jie)(jie)(jie)質(zhi)(zhi)(zhi)擊穿(chuan)(chuan)時,常發(fa)生材料(liao)的(de)(de)碎裂,可據此破碎非金(jin)屬(shu)礦石.
固(gu)體電(dian)介質擊(ji)穿(chuan)有3種形式 :電(dian)擊(ji)穿(chuan),熱擊(ji)穿(chuan)和電(dian)化學擊(ji)穿(chuan).
電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)擊穿(chuan)是(shi)因(yin)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)場(chang)使(shi)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)介(jie)(jie)質(zhi)中積(ji)聚(ju)起足夠數量(liang)和(he)能(neng)量(liang)的(de)帶電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)質(zhi)點而(er)導(dao)致電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)介(jie)(jie)質(zhi)失(shi)去絕緣性能(neng).熱(re)(re)(re)擊穿(chuan)是(shi)因(yin)在(zai)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)場(chang)作(zuo)用(yong)(yong)下(xia),電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)介(jie)(jie)質(zhi)內(nei)部熱(re)(re)(re)量(liang)積(ji)累,溫(wen)度(du)(du)(du)過高(gao)而(er)導(dao)致失(shi)去絕緣能(neng)力.電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)化(hua)(hua)學(xue)擊穿(chuan)是(shi)在(zai)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)場(chang),溫(wen)度(du)(du)(du)等因(yin)素作(zuo)用(yong)(yong)下(xia),電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)介(jie)(jie)質(zhi)發(fa)生緩(huan)慢的(de)化(hua)(hua)學(xue)變(bian)化(hua)(hua),性能(neng)逐漸劣化(hua)(hua), 終喪(sang)失(shi)絕緣能(neng)力.固體電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)介(jie)(jie)質(zhi)的(de)化(hua)(hua)學(xue)變(bian)化(hua)(hua)通常使(shi)其(qi)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)導(dao)增加 , 這會使(shi)介(jie)(jie)質(zhi)的(de)溫(wen)度(du)(du)(du)上升(sheng),因(yin)而(er)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)化(hua)(hua)學(xue)擊穿(chuan)的(de) 終形式(shi)是(shi)熱(re)(re)(re)擊穿(chuan).溫(wen)度(du)(du)(du)和(he)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)壓作(zuo)用(yong)(yong)時(shi)間對電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)擊穿(chuan)的(de)影響(xiang)小,對熱(re)(re)(re)擊穿(chuan)和(he)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)化(hua)(hua)學(xue)擊穿(chuan)的(de)影響(xiang)大;電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)場(chang)局部不均勻性對熱(re)(re)(re)擊穿(chuan)的(de)影響(xiang)小,對其(qi)他兩種影響(xiang)大.
試(shi)驗(yan)環境:
⑴常態(tai)試驗環(huan)境:
溫度為(wei)20±5℃,相(xiang)對(dui)濕度為(wei)65±5%。
⑵熱態試驗或潮濕環(huan)境試驗條件由產品標準參照錄(lu)中表(biao)2予(yu)以規定。
擊穿的判斷(duan):
試樣沿(yan)施(shi)(shi)加電壓方向及(ji)位置有貫穿(chuan)小孔、開裂、燒焦等痕(hen)跡為(wei)擊穿(chuan),如痕(hen)跡不清可用重復(fu)施(shi)(shi)加試驗電壓來判斷。
影響表觀(guan)電氣強度的因素:
隨(sui)著樣品(pin)厚度(du)的增加而降低(di)。(見下面的“缺陷”)
隨著工作溫度的升高而降低。
它隨著頻率的增加而降低(di)。
對于(yu)氣體(例如氮氣,六(liu)氟化硫),通常隨著濕(shi)度的增(zeng)加而降低。
對于空氣,介電(dian)強度(du)(du)(du)隨(sui)著(zhu)濕度(du)(du)(du)的增加而略有增加,但隨(sui)著(zhu)相對濕度(du)(du)(du)的增加而減小
軟(ruan)件功能(neng):
1、試(shi)(shi)驗(yan)過(guo)程(cheng)中(zhong)可(ke)動(dong)態繪制出試(shi)(shi)驗(yan)曲(qu)線(xian),試(shi)(shi)驗(yan)的曲(qu)線(xian)可(ke)以多種顏(yan)色疊加對比,局部放大,曲(qu)線(xian)上任意一段可(ke)進行區(qu)域放大分析;
2、可對(dui)試驗(yan)數據進行編輯修(xiu)改,靈活(huo)適用;
3、試(shi)驗條件及測試(shi)結(jie)果等數據可自動存儲(chu);
4、試驗報告(gao)格式靈活可變,適用于不(bu)同(tong)用戶(hu)的(de)不(bu)同(tong)需求(qiu);
5、可對一組試驗中曲(qu)線數據的有(you)效與否進行人為選(xuan)定;
6、試驗結果數據(ju)可導入EXECL、WORD文檔編輯;
7、軟件設(she)備人員管理功能,試驗人員可設(she)置(zhi)自己的(de)試驗項(xiang)目和試驗參數,設(she)置(zhi)自己的(de)試驗內容后(hou)別人無法進(jin)入程序;
8、過電(dian)流(liu)保護裝置有足夠的靈敏(min)度,能夠保證試樣擊穿(chuan)時在0.1s內切(qie)斷電(dian)源;
9、儀器(qi)運行的持(chi)久性: 儀器(qi)可連續運行使用,不需(xu)為保護儀器(qi)而定期(qi)停(ting)機。
整機組成:
1、升壓部(bu)(bu)件(jian):由(you)調(diao)壓器(qi)和高(gao)壓變(bian)壓器(qi)組(zu)成0~50KV的升壓部(bu)(bu)分。
2、動部件:由步(bu)進電(dian)機均(jun)勻調節調壓器使(shi)加給(gei)高壓變壓器的(de)電(dian)壓變化。
3、檢測(ce)部件:由集成電路組成的測(ce)量電路。通過信號(hao)線把檢測(ce)的模(mo)擬信號(hao)和開關信號(hao)傳給計算機。
4、計算(suan)機軟件:通(tong)過智能(neng)電路把(ba)由(you)檢測(ce)設備采集的(de)測(ce)控信號(hao)傳給計算(suan)機。計算(suan)機根據(ju)采集的(de)信息(xi)控制(zhi)設備運行(xing)并(bing)處理試驗(yan)結(jie)果。
5、試驗電(dian)極:根據國家標準(1408.1-2006)隨設備(bei)提供三個(ge)電(dian)極,體規格為:Ф25mm×25mm兩個(ge);Ф75mm×25mm一個(ge)。
使用說明:
1、試(shi)驗單位(wei):對材料進行試(shi)驗檢測的(de)單位(wei)名稱;
2、送試單位(wei):送材(cai)料檢(jian)測的單位(wei)名稱;
3、試驗(yan)方式:選擇進(jin)行“交流試驗(yan)”或“直流試驗(yan)”;
4、試驗方法:可進(jin)行“擊(ji)穿”,“耐壓”,“梯度(du)耐壓”試驗;
5、試驗人員(yuan):輸入檢測人員(yuan)姓(xing)名;
6、試驗(yan)溫度(du):輸入試驗(yan)溫度(du);
7、試(shi)驗(yan)濕度(du):輸入試(shi)驗(yan)濕度(du);
8、設備型號:顯示(shi)機器型號,此處不可變(bian);
9、執行標(biao)準:選擇所使用的標(biao)準;
10、試(shi)驗介質:選擇試(shi)驗介質,或可以(yi)自己編(bian)輯寫入;
11、電(dian)極形狀:輸入(ru)電(dian)極形狀;
12、電極尺寸(cun):輸(shu)入電極尺寸(cun);
13、使(shi)用(yong)量(liang)程(cheng):選擇使(shi)用(yong)量(liang)程(cheng),分為10KV、20kV、30kv、50kv、100kv;
14、峰降(jiang)電壓:用(yong)于判斷(duan)材料是否擊(ji)穿,必須輸入項;
15、初始(shi)電壓(ya):用于耐(nai)壓(ya)和梯度耐(nai)壓(ya)試(shi)驗(yan),在試(shi)驗(yan)開始(shi)時將電壓(ya)升到(dao)的位置;
16、升壓(ya)速(su)度:選擇(ze)升壓(ya)的(de)速(su)度,控制在試驗過程中升壓(ya)的(de)快慢;
17、梯度電壓(ya):用于梯度耐壓(ya)試驗,設置每次升(sheng)壓(ya)的梯度值;
18、梯(ti)度(du)時(shi)間:用于梯(ti)度(du)耐壓試驗,設置在相(xiang)應梯(ti)度(du)的耐壓時(shi)間;
19、終(zhong)止電(dian)壓:設置在試驗過(guo)程中電(dian)壓的(de)上(shang)限值;
20、試(shi)樣制備(bei):設置試(shi)樣的制備(bei)信息;
21、材(cai)(cai)料名稱:設置試驗材(cai)(cai)料的名稱;
22、試驗時間:選擇試驗時期(qi),或寫入試驗日期(qi)和(he)時間;
23、報告(gao)編(bian)(bian)號:設(she)置報告(gao)編(bian)(bian)號信息;
24、試樣編(bian)(bian)號(hao):設置試樣編(bian)(bian)號(hao)信息,試驗樣品的規格(ge)編(bian)(bian)碼及(ji)編(bian)(bian)號(hao);
25、試樣形狀(zhuang):設(she)置試樣形狀(zhuang);
26、試樣尺寸:輸入試樣的尺寸;
27、試(shi)樣厚度:輸(shu)入(ru)試(shi)樣厚度,用于計算試(shi)驗強度,必須輸(shu)入(ru);
28、應 用:確認此界面(mian)所做設置;
29、退 出(chu):返(fan)回(hui)主界面,設置無效;
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