產品概述
BEST-121 聚酯薄(bo)膜體積電阻率測試儀
一、符合(he)標準:
GB/T 10581-2006 《絕(jue)緣材料在(zai)高(gao)溫下電(dian)阻和電(dian)阻率的試驗(yan)方法》
GB/T 1692-2008 《硫化橡(xiang)膠(jiao) 絕(jue)緣電(dian)阻率的(de)測定》
GB/T 2439-2001《硫化橡膠或熱(re)塑性橡膠 導電(dian)性能(neng)和耗散(san)性能(neng)電(dian)阻率的測(ce)定》
GB/T 12703.4-2010 《紡織(zhi)品 靜電性能(neng)的評定(ding) 第(di)4部(bu)分:電阻率》
GB/T 1410-2006《 固(gu)體絕(jue)緣材料體積電(dian)阻率和(he)表面電(dian)阻率試驗(yan)方(fang)法》
ASTM D257-99《絕緣材料的直流電(dian)阻或電(dian)導(dao)試驗(yan)方法》
GB/T 10064-2006_《測(ce)定固體絕(jue)緣(yuan)材料絕(jue)緣(yuan)電阻(zu)的試驗方法》
GB/T 22042-2008《服裝(zhuang) 防靜電性能(neng) 表面電阻率(lv)試驗(yan)方(fang)法》
EN 1149-1-1995 《防(fang)護服 靜(jing)電性能 第1部分表面電阻檢(jian)驗(yan)方法和要求》
GB/T 1410-2006《固體(ti)絕(jue)緣材料體(ti)積電阻率(lv)和表面電阻率(lv)試驗方(fang)法》(與(yu)標準IEC93-1980等效(xiao))
FZ/T 64013-2008 《靜電植絨毛(mao)絨》
SJ/10694-2006《電子(zi)產品制(zhi)造與應用(yong)系統防(fang)靜電檢測通用(yong)規范(fan)》6.1
二、概述
BEST-121 聚(ju)酯薄膜(mo)體積電阻率測試儀 限從1×104Ω ~1×1018 Ω,是目前國內測量范圍0寬,準確度0高的數字超高阻測量儀。電流測量范圍為2×10-4 ~1×10-16A。機內測試電壓10V/50V/100V/250V/500V/1000V任意可調。本儀器具有精度高、顯示迅速、性好穩定、讀數方便,適用于橡膠、塑料、薄膜、地毯、織物及粉體、液體、及固體和膏體形狀的各種絕緣材料體積和表面電阻值的測定。
三、主要(yao)特(te)點(dian)
電阻測量范(fan)圍寬(kuan) 1×104Ω ~1×1018Ω
電流(liu)測量(liang)范(fan)圍為 2×10-4A ~1×10-16A
體(ti)積(ji)小、重量(liang)輕、準確度高(gao)
電阻(zu)、電流(liu)雙顯示
性能好穩定、讀數(shu)方便
所有測(ce)(ce)試電(dian)(dian)壓(10V/50V/100/250/500/1000V) 測(ce)(ce)試時電(dian)(dian)阻結(jie)果直讀,免去老式高阻計在不同(tong)測(ce)(ce)試電(dian)(dian)壓下(xia)或不同(tong)量程時要乘以系數等(deng)使用不便(bian)的麻煩,使測(ce)(ce)量超高電(dian)(dian)阻就如用萬用表測(ce)(ce)量普通電(dian)(dian)阻樣簡便(bian)。既能測(ce)(ce)超高電(dian)(dian)阻又(you)能測(ce)(ce)微電(dian)(dian)流(liu)
四、技術指標
1、電阻測量范(fan)圍: 0.01×104Ω ~1×1018Ω。
2、電(dian)流(liu)測量范圍(wei)為(wei): 2×10-4A~1×10-16A
3、顯(xian) 示 方 式:數字(zi)液晶顯(xian)示
4、內置測試電壓: 10V 、50V、100V、250、500、1000V
5、基本準確度:1% (*注)
6、使用環境: 溫度:0℃~40℃,相對濕度<80%
7、機內測(ce)試電(dian)壓: 10V/50V/100/250/500/1000V 任意切換(huan)
8、供(gong)電形式: AC 220V,50HZ,功(gong)耗(hao)約5W
9、儀器尺寸: 285mm× 245mm× 120 mm
10、質(zhi)量: 約5KG
五、工作原理
根據(ju)歐姆(mu)定律,被測(ce)(ce)電(dian)(dian)阻(zu)Rx等(deng)于施加(jia)電(dian)(dian)壓(ya)V除以通(tong)過(guo)的(de)(de)(de)(de)電(dian)(dian)流(liu)I。傳統的(de)(de)(de)(de)高(gao)阻(zu)計(ji)的(de)(de)(de)(de)工(gong)作(zuo)原理(li)是(shi)(shi)測(ce)(ce)量電(dian)(dian)壓(ya)V固定,通(tong)過(guo)測(ce)(ce)量流(liu)過(guo)取樣電(dian)(dian)阻(zu)的(de)(de)(de)(de)電(dian)(dian)流(liu)I來得到(dao)電(dian)(dian)阻(zu)值。從歐姆(mu)定律可以看出,由于電(dian)(dian)流(liu)I是(shi)(shi)與(yu)電(dian)(dian)阻(zu)成反比,而不是(shi)(shi)成正比,所(suo)以電(dian)(dian)阻(zu)的(de)(de)(de)(de)顯示值是(shi)(shi)非(fei)線性(xing)的(de)(de)(de)(de),即電(dian)(dian)阻(zu)無窮大時(shi),電(dian)(dian)流(liu)為零,即表頭的(de)(de)(de)(de)零位處是(shi)(shi)∞,其(qi)附近的(de)(de)(de)(de)刻度(du)非(fei)常(chang)密,分(fen)(fen)辨率很(hen)低(di)(di)。整個刻度(du)是(shi)(shi)非(fei)線性(xing)的(de)(de)(de)(de)。又由于測(ce)(ce)量不同的(de)(de)(de)(de)電(dian)(dian)阻(zu)時(shi),其(qi)電(dian)(dian)壓(ya)V也會(hui)有些變(bian)化,所(suo)以普通(tong)的(de)(de)(de)(de)高(gao)阻(zu)計(ji)是(shi)(shi)精度(du)差、分(fen)(fen)辨率低(di)(di)。
本儀器是同時(shi)測(ce)(ce)(ce)出電(dian)(dian)阻(zu)(zu)兩端的(de)(de)(de)電(dian)(dian)壓(ya)(ya)(ya)(ya)(ya)V和流(liu)過(guo)電(dian)(dian)阻(zu)(zu)的(de)(de)(de)電(dian)(dian)流(liu)I,通過(guo)內部的(de)(de)(de)大(da)規(gui)模集(ji)成電(dian)(dian)路(lu)完(wan)成電(dian)(dian)壓(ya)(ya)(ya)(ya)(ya)除(chu)以(yi)電(dian)(dian)流(liu)的(de)(de)(de)計(ji)算(suan),然(ran)后(hou)把所(suo)得到(dao)的(de)(de)(de)結(jie)果經過(guo)A/D轉換(huan)后(hou)以(yi)數字顯示出電(dian)(dian)阻(zu)(zu)值,即便是電(dian)(dian)阻(zu)(zu)兩端的(de)(de)(de)電(dian)(dian)壓(ya)(ya)(ya)(ya)(ya)V和流(liu)過(guo)電(dian)(dian)阻(zu)(zu)的(de)(de)(de)電(dian)(dian)流(liu)I是同時(shi)變(bian)化,其(qi)(qi)顯示的(de)(de)(de)電(dian)(dian)阻(zu)(zu)值不(bu)象普通高(gao)阻(zu)(zu)計(ji)那樣因被(bei)測(ce)(ce)(ce)電(dian)(dian)壓(ya)(ya)(ya)(ya)(ya)V的(de)(de)(de)變(bian)化或電(dian)(dian)流(liu)I的(de)(de)(de)變(bian)而變(bian),所(suo)以(yi),即使測(ce)(ce)(ce)量電(dian)(dian)壓(ya)(ya)(ya)(ya)(ya)、被(bei)測(ce)(ce)(ce)量電(dian)(dian)阻(zu)(zu)、電(dian)(dian)源電(dian)(dian)壓(ya)(ya)(ya)(ya)(ya)等發生變(bian)化對(dui)其(qi)(qi)結(jie)果影(ying)響不(bu)大(da),其(qi)(qi)測(ce)(ce)(ce)量精度很高(gao)(0),從理論上講(jiang)其(qi)(qi)誤(wu)差可以(yi)做到(dao)零,而實(shi)際誤(wu)差可以(yi)做到(dao)千(qian)分之幾或萬分之幾。
產品名(ming)稱:體積(ji)表面(mian)電(dian)阻(zu)測(ce)試(shi)儀/電(dian)阻(zu)率測(ce)試(shi)儀
產品型號:BEST-121、BEST-212
產(chan)品(pin)品(pin)牌:北京北廣精儀
測(ce)試項目:體(ti)(ti)積電(dian)阻、表面電(dian)阻、體(ti)(ti)積電(dian)阻率(lv)、表面電(dian)阻率(lv)、絕緣電(dian)阻、電(dian)阻率(lv)、微電(dian)流等
符合標(biao)準:GB/T1410-2006、ASTM D257-99
顯示方式:液晶(jing)屏、觸(chu)摸屏
試用(yong)材料:固體(ti)(ti)、液(ye)體(ti)(ti)、粉體(ti)(ti)等絕緣(yuan)材料類
電阻范圍:0.01×104Ω~1×1018Ω
電流(liu)范圍:2×10-4A~1×10-16A
電壓檔位(wei):10V、25V、100V、250V、500V、1000V
精 度:1%
主機重量:5KG
主機尺寸:300*170*120mm、360*350*170mm
屏蔽(bi)箱尺寸:200*200*100mm
采用方法:三(san)電極法
主要組成(cheng):主機(ji)、屏(ping)蔽箱、電極
出據證書:514所(suo)、304所(suo)、科學研究院等單位(wei)均可
產(chan)品特點:體(ti)積小、重量輕(qing)、精(jing)度高、讀(du)數方便等
典型應用(yong)
1、測(ce)量絕緣材料電阻(率)
2、測量防(fang)靜電(dian)(dian)材料的電(dian)(dian)阻(zu)及電(dian)(dian)阻(zu)率
3、測量計算機房用活動地板的系統電阻(zu)值
4、測量(liang)防靜(jing)電鞋、導(dao)電鞋的電阻(zu)值
5、光電二極管(guan)暗(an)電流測量
6、物理,光學和材料(liao)研究(jiu)
標準配置:
1、測試儀器(qi):1臺(tai)
2、電源(yuan)線:1條(tiao)
3、測量線(xian)(xian):3根(屏蔽線(xian)(xian)、測試接(jie)線(xian)(xian)、接(jie)地線(xian)(xian))
4、使用說明書:1份(fen)
備注:
本儀器配不同的(de)測量電極(ji)(夾具)可(ke)以測量不同材(cai)(cai)料(liao)(liao)(固體(ti)、粉體(ti)或(huo)液(ye)體(ti))的(de)體(ti)積電阻(zu)率和表面(mian)電阻(zu)率或(huo)電導率,*符合國家標(biao)準GB1410-2006固體(ti)電工絕(jue)緣(yuan)材(cai)(cai)料(liao)(liao)絕(jue)緣(yuan)電阻(zu)、體(ti)積電阻(zu)系數和表面(mian)電阻(zu)試驗(yan)方(fang)法,ASTM D257 絕(jue)緣(yuan)材(cai)(cai)料(liao)(liao)的(de)直(zhi)流電阻(zu)或(huo)電導試驗(yan)方(fang)法等標(biao)準要(yao)求(qiu)。
其他相(xiang)關產品:
序號(hao) | 設備(bei)名稱(cheng) | 設(she)備型號 | 測試指標 | 備注 |
1 | 電壓擊(ji)穿試驗儀(yi) | BDJC10KV-150KV | 介(jie)電強度、泄(xie)漏電流 | 介電強度、泄漏電流 |
2 | 體積表面電阻測定儀 | BEST-121 | 體積電阻率、表面電阻率 | 液晶顯示 |
3 | 體積表面電阻(zu)率(lv)測定儀(yi) | BEST-212 | 體積(ji)電(dian)阻(zu)率、表面電(dian)阻(zu)率 | 液晶(jing)觸(chu)摸(mo)、電阻率直接測試(shi) |
4 | 導體電阻(zu)率測定(ding)儀 | BEST -19 | 導體電阻(zu)率 | 導(dao)電(dian)材質(zhi)電(dian)阻測試 |
6 | 半導(dao)體(ti)電阻率測定(ding)儀(yi) | BEST-300C | 半導體電(dian)阻率 | 四探針(zhen) 電阻(zu)率直接測試 |
7 | 高頻介電常數測試儀(yi) | GDAT--A | 介電常數、介質損耗 | 測試頻率50HZ-160MHZ |
8 | 工頻介電(dian)常(chang)數(shu)測(ce)試(shi)儀(yi) | BQS-37A | 介(jie)電常(chang)數、介(jie)質損(sun)耗 | 測(ce)試頻(pin)率(lv)50HZ |
9 | 耐電(dian)弧試驗儀 | BDH-20KV | 耐電弧 | 微機控制、觸摸屏(ping)控制 |
10 | 高壓漏電起痕試驗(yan)儀(yi) | BLD-6000V | 高壓等級測試 | zui高(gao)電壓6KV |
11 | 耐電痕化指數測(ce)定儀(yi) | BLD-600V | 漏電(dian)痕(hen)跡、電(dian)痕(hen)化CTIPTI | zui高電壓600V |
- 上一(yi)個: BDJC-100KVBDJC-100KV高分子材料擊穿強度測試儀
- 下一個(ge): GDAT-C電信電纜料介電常數及損耗因數檢測儀