產品概述
一、塑料(liao)介電常(chang)數和介質損耗(hao)因素測試(shi)滿足標準:GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻(pin)、音頻(pin)、高頻(pin)(包括(kuo)米波(bo)波(bo)長(chang)在內)下電容率(lv)和介(jie)質損耗因數的(de)推薦(jian)方法
二、 塑料介電常數和(he)介質(zhi)損耗(hao)因素(su)測(ce)試概述
介質(zhi)損耗和(he)介電(dian)常(chang)數是各種(zhong)電(dian)瓷(ci)、裝(zhuang)置瓷(ci)、電(dian)容器等(deng)(deng)陶瓷(ci),還有復合(he)材料(liao)(liao)等(deng)(deng)的(de)一項重(zhong)要的(de)物(wu)理性質(zhi),通過測(ce)定介質(zhi)損耗角正(zheng)切tanδ及介電(dian)常(chang)數(ε),可進一步(bu)了解影響介質(zhi)損耗和(he)介電(dian)常(chang)數的(de)各種(zhong)因素,為提高材料(liao)(liao)的(de)性能提供(gong)依據;該儀器用于科研(yan)機關、學(xue)校、工廠等(deng)(deng)單位對(dui)無(wu)機非金屬新材料(liao)(liao)性能的(de)應(ying)用研(yan)究。
三、 塑(su)料介(jie)電常數和介(jie)質損耗因素測試測試(shi)原理
采(cai)用(yong)(yong)高頻(pin)諧(xie)振法,并提供了(le),通用(yong)(yong)、多(duo)用(yong)(yong)途(tu)、多(duo)量(liang)(liang)(liang)程(cheng)的(de)(de)阻抗測(ce)試(shi)。它以單片計算機作為儀器的(de)(de)控制(zhi),測(ce)量(liang)(liang)(liang)核(he)心采(cai)用(yong)(yong)了(le)頻(pin)率數字鎖定,標準頻(pin)率測(ce)試(shi)點(dian)自(zi)動設定,諧(xie)振點(dian)自(zi)動搜(sou)索,Q值(zhi)量(liang)(liang)(liang)程(cheng)自(zi)動轉換,數值(zhi)顯(xian)示(shi)等(deng)新技(ji)術,改進了(le)調諧(xie)回(hui)(hui)路,使(shi)得(de)(de)調諧(xie)測(ce)試(shi)回(hui)(hui)路的(de)(de)殘余電(dian)(dian)感減至(zhi)低(di),并保(bao)留了(le)原(yuan)Q表中自(zi)動穩幅等(deng)技(ji)術,使(shi)得(de)(de)新儀器在使(shi)用(yong)(yong)時更為方(fang)便(bian),測(ce)量(liang)(liang)(liang)值(zhi)更為精確。儀器能(neng)在較高的(de)(de)測(ce)試(shi)頻(pin)率條件下,測(ce)量(liang)(liang)(liang)高頻(pin)電(dian)(dian)感或諧(xie)振回(hui)(hui)路的(de)(de)Q值(zhi),電(dian)(dian)感器的(de)(de)電(dian)(dian)感量(liang)(liang)(liang)和分布電(dian)(dian)容量(liang)(liang)(liang),電(dian)(dian)容器的(de)(de)電(dian)(dian)容量(liang)(liang)(liang)和損耗角正切值(zhi),電(dian)(dian)工材料(liao)的(de)(de)高頻(pin)介質損耗,高頻(pin)回(hui)(hui)路有效并聯(lian)及串聯(lian)電(dian)(dian)阻,傳輸線的(de)(de)特性阻抗等(deng)。
本測(ce)試裝置是(shi)由二(er)只(zhi)測(ce)微電(dian)容(rong)器(qi)(qi)(qi)(qi)組成(cheng),平(ping)板(ban)電(dian)容(rong)器(qi)(qi)(qi)(qi)一般(ban)用來夾持被測(ce)樣(yang)品(pin),園筒電(dian)容(rong)器(qi)(qi)(qi)(qi)是(shi)一只(zhi)分(fen)辨率高(gao)達0.0033pF的(de)線性可變電(dian)容(rong)器(qi)(qi)(qi)(qi),配(pei)用儀(yi)器(qi)(qi)(qi)(qi)作為指示(shi)儀(yi)器(qi)(qi)(qi)(qi),絕緣(yuan)材料(liao)的(de)損耗(hao)角正切值(zhi)是(shi)通過被測(ce)樣(yang)品(pin)放進(jin)平(ping)板(ban)電(dian)容(rong)器(qi)(qi)(qi)(qi)和(he)不(bu)放進(jin)樣(yang)品(pin)的(de)Q值(zhi)變化(hua),由園筒電(dian)容(rong)器(qi)(qi)(qi)(qi)的(de)刻度讀(du)值(zhi)變化(hua)值(zhi)而換(huan)算(suan)得到(dao)的(de)。同時,由平(ping)板(ban)電(dian)容(rong)器(qi)(qi)(qi)(qi)的(de)刻度讀(du)值(zhi)變化(hua)而換(huan)算(suan)得到(dao)介電(dian)常數。
四(si)、塑料介電常數和(he)介質損耗因素測試(shi)儀器(qi)的技術指(zhi)標
1.Q值測(ce)量范(fan)圍:2~1023
2.Q值量程分(fen)檔(dang):30、100、300、1000、自(zi)動換檔(dang)或手動換檔(dang);
3.電(dian)(dian)感測(ce)量范圍:自身殘余電(dian)(dian)感和測(ce)試(shi)引線電(dian)(dian)感的(de)自動扣除功能4.5nH-100mH 分(fen)別有0.1μH、0.5μH、2.5μH、10μH、50μH、100μH、1mH、5mH、10mH九個(ge)電(dian)感組成。
4.電容直接測量范(fan)圍:1~460pF
5.主(zhu)電容調節范圍: 30~500pF
6.電容(rong)準確度 150pF以下±1.5pF;150pF以上±1%
7.信(xin)號源頻(pin)率覆蓋范圍20KHz-70MHz (雙頻(pin)對向搜(sou)索 確保頻率(lv)不被外界干擾)
8、型號頻率指示(shi)誤差:1*10-6 ±1
Q值合格指示預置功能范圍:5~1000
Q值自(zi)動鎖定,無需人(ren)工搜索
9.Q表正(zheng)常(chang)工作條件
a. 環境溫度:0℃~+40℃
b.相(xiang)對濕度:<80%;
c.電源:220V±22V,50Hz±2.5Hz。
10.其他
a.消耗功率(lv):約25W;
b.凈重(zhong):約7kg;
c. 外型尺寸:(l×b×h)mm:380×132×280。
11.產品(pin)配置:
a.測試主機一臺(tai);
b.電感一套;
c.夾具一 套
五(wu)、塑料介(jie)電常數(shu)和介(jie)質損耗因素測試性能特點:
1. 平板電容器(qi)
極(ji)片(pian)尺寸:φ25.4mmφ50mm
極片間(jian)距可調范圍和分辨(bian)率:≥10mm,±0.01mm
2. 園筒(tong)電容器
電容量(liang)線性:0.33pF / mm±0.05 pF
長度可調范(fan)圍(wei)和分辨率:≥0~20mm,±0.01mm
3. 夾具插頭間距:25mm±1mm
4. 夾角損耗角正切值:≤4×10-4(1MHz時)
5、數顯電極
六. 塑料介電常(chang)數(shu)和(he)介質損耗(hao)因素(su)測試維修保養
本測(ce)試(shi)(shi)裝置是由精(jing)密機(ji)械(xie)構(gou)件組成的測(ce)微設(she)備,所以在使用(yong)(yong)和(he)保(bao)(bao)存時要避免(mian)振動和(he)碰(peng)撞,要求在不(bu)含腐蝕氣體和(he)干燥的環境中使用(yong)(yong)和(he)保(bao)(bao)存,不(bu)能自(zi)行拆裝,否則其工(gong)作性能就不(bu)能保(bao)(bao)證,如(ru)測(ce)試(shi)(shi)夾具受(shou)到碰(peng)撞,或者作為定(ding)期檢查(cha),要檢測(ce)以下幾個指(zhi)標:
1. 平(ping)板電容器二(er)極片平(ping)行度不超過(guo)0.02mm。
2. 園(yuan)筒電(dian)容器的(de)軸和軸同(tong)心度誤差不超過0.1mm。
3. 保證二個(ge)測微桿0.01mm分辨率(lv)。
4. 用精密電(dian)容測量儀(±0.01pF分辨(bian)率(lv)(lv))測(ce)量園(yuan)筒(tong)電(dian)(dian)容器,電(dian)(dian)容呈線性(xing)率(lv)(lv),從0~20mm,每隔(ge)1mm測試一點,要求符合工作特性要求。
附表一,介質損耗測(ce)試系統主要性能參(can)數一覽表
BH916測(ce)試(shi)裝置 GDAT高頻Q表
平板電(dian)容極片 Φ50mm/Φ25.4mm 可選頻(pin)率(lv)范圍10KHz-70MHz/200KHz-160MHz
間距可調范(fan)圍(wei)≥15mm 頻率指示誤差3×10-5±1個字
夾具(ju)插頭(tou)間距(ju)25mm±0.01mm 主電容調(diao)節范圍30-500/18-220pF
測微桿分(fen)辨率0.001mm 主調電(dian)容誤差<1%或1pF
夾具損(sun)耗(hao)角正(zheng)切(qie)值≦4×10-4 (1MHz) Q測試范圍(wei)2~1023
七、塑料(liao)介電常數和介質損(sun)耗因素測試售后服務(wu)
培訓:
1、儀器安裝調試期間,廠家(jia)安排(pai)工(gong)程技術人(ren)員(yuan)在業主現場進(jin)行(xing)技術指(zhi)導和培訓,包括:儀器構造,工(gong)作(zuo)(zuo)原理,儀器操作(zuo)(zuo)使(shi)用(yong),樣品分析,日(ri)常(chang)的(de)維護保養(yang)(yang)等方(fang)面的(de)內容(rong),直(zhi)到業主操作(zuo)(zuo)人(ren)員(yuan)能夠獨(du)立使(shi)用(yong),進(jin)行(xing)維護保養(yang)(yang)并(bing)提供(gong)儀器操作(zuo)(zuo)規程為止。
2、廠(chang)家工(gong)程師根據(ju)業主(zhu)要(yao)求進行定期回訪,每年(nian)不少(shao)于2次(dianhua或上門),對維修人員進行專業儀(yi)器(qi)維修培訓,并對儀(yi)器(qi)的常(chang)見故障的診斷及處理提出(chu)建(jian)議。
售后服務:
1、自儀器調試驗收合(he)格(ge)簽(qian)字之日起, 北(bei)京北(bei)廣精儀儀器設(she)備有限(xian)公(gong)司 免費(fei)提供三(san)年(nian)的現場保修服(fu)務(回訪(fang)),解決排除(chu)故障,保證良好(hao)正常使(shi)用。質保期限(xian)自雙方簽字驗收之日(ri)起計算。
2、零備(bei)件乙方保(bao)證在10年內(nei)以優惠的價(jia)格提供給(gei)業主。
3、如(ru)產品軟件升(sheng)級,乙(yi)方為甲(jia)方免費進行軟(ruan)件的(de)升級(ji)。,
4、保修期過后至10年內(nei),儀(yi)器出現故障,需要更換零件時(shi),甲方支(zhi)付零部件的成本費(fei)(fei);需要乙(yi)方工(gong)程(cheng)師前往維(wei)修時(shi),維(wei)修費(fei)(fei)用(yong)包括(kuo)乙(yi)方工(gong)程(cheng)師的差旅費(fei)(fei)和(he)食(shi)宿費(fei)(fei),免除(chu)人工(gong)費(fei)(fei)用(yong)。若(ruo)甲方因設(she)備急(ji)需,乙(yi)方應能(neng)及(ji)時(shi)提供所需零配件,保證設(she)備正常(chang)運行。
北廣公司自主(zhu)研發(fa)電性能(neng)專(zhuan)業檢測儀器
序號 | 設備名(ming)稱(cheng) | 設備型(xing)號 | 測試(shi)標準 | 測試(shi)指標 | 備注 |
1 | 電壓擊穿試驗儀 | BDJC10KV-150KV | GB1408、GB/T1695、GB/T3333、GB12656、ASTM D149 | 介電強度(du)、泄漏電流 | 介電強度、泄漏電流(liu) |
2 | 體積(ji)表面(mian)電阻測定(ding)儀 | BEST-121 | GB1410、ASTM D257、GB/T 1692、GB/T 2439 、GB/T 10581、GB/T 10064 | 體(ti)積電阻率(lv)、表面電阻率(lv) | 液晶顯示 |
3 | 體積表面電阻(zu)率測定儀 | BEST-212 | GB1410、ASTM D257、GB/T 1692、GB/T 2439 、GB/T 10581、GB/T 10064 | 體(ti)積電阻率(lv)、表面電阻率(lv) | 液晶觸摸(mo)、電阻(zu)(zu)、電阻(zu)(zu)率(lv)直接測試 |
4 | 導體電(dian)阻率(lv)測定儀 | BEST -19 | GB11210、GB/T15662、GB2439、ASTM D991 | 導(dao)體電阻率 | 觸摸(mo)屏 |
6 | 半導體電阻率測定(ding)儀 | BEST-300C | GB/T 1551 | 半導體電阻率 | 觸(chu)摸(mo)屏 |
7 | 高頻介(jie)電常數測試儀 | GDAT--A | GB1410 | 介電常數(shu)、介質(zhi)損耗 | 測試頻(pin)率50HZ-160MHZ |
8 | 工頻介電常數測(ce)試儀 | BQS-37A | GB1410 | 介(jie)電常數(shu)、介(jie)質損耗(hao) | 測試頻率50HZ |
9 | 耐電弧試驗儀 | BDH-20KV | GB1411-2002 IEC 61621 ASTMD495 | 耐電弧 | 微機控制、觸摸屏(ping)控制 |
10 | 高壓漏電起(qi)痕試驗儀 | BLD-6000V |
| 高壓(ya)等級測(ce)試(shi) | 五組(zu)高壓6KV |
11 | 耐電痕化(hua)指數(shu)測定儀 | BLD-600V | IEC60112、ASTM D 3638-92、DIN53480 | 漏電(dian)痕跡(ji)、電(dian)痕化CTI\PTI | zui高電壓600V |
12 | 滑(hua)動摩擦磨損試驗(yan)儀 | M-200 | GB3960 | 滑動(dong)摩擦,摩損性能測試 | 摩擦(ca)力、摩擦(ca)系數曲線顯示 |
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