高頻Q表法介電常數介質損耗測試儀由(you)916測試裝置(zhi)（夾具）、GDAT型高頻Q表、數據采集和tanδ自動測量控件(jian)（裝入GDAT)、及LKI-1型電感器組成，它依據(ju)國標GB/T 1409-2006、美標ASTM D150以及電工(gong)委(wei)員(yuan)會IEC60250的(de)規定設計制作。系統提供(gong)了絕緣材(cai)料的(de)高(gao)頻介質損耗角正切值(tanδ)和(he)介(jie)電常數(shu)(ε)自動測量的解決(jue)方(fang)案(an)。

高頻Q表法介電常數介質損耗測試儀主要技術指標：

2.1 tanδ和ε性(xing)能：

2.1.1 固體絕緣(yuan)材料測(ce)(ce)試頻率10kHz～120MHz的(de)(de)tanδ和ε變(bian)化(hua)的(de)(de)測(ce)(ce)試。

2.1.2 tanδ和ε測量(liang)范(fan)圍：

tanδ：0.1～0.00005，ε：1～50

2.1.3 tanδ和ε測量精(jing)度（1MHz）：

tanδ：±5%±0.00005，ε：±;2%

工作頻(pin)率范圍(wei)：50kHz～50MHz  ;  四位數顯，壓控振蕩器(qi)

Q值(zhi)測量范圍：1～1000三位數顯，±1Q分(fen)辨率

可調電容范圍：40～500 pF  ΔC±3pF

電容(rong)測量(liang)誤差：±1%±1pF

Q表(biao)殘余電感(gan)值：約20nH

電感測量(liang)

a．測量范圍：0.1μH～1H。

b．分 檔(dang)：分七個量程。

0.1～1μH， 1～10μH， 10～100μH，

0.1～lmH， 1～10mH， 10～100mH， 100 mH～1H。

振蕩頻(pin)率(lv)

a．振蕩(dang)頻率(lv)范圍：25kHz～50MHz；

b．頻(pin)率(lv)分檔：

25～74kHz， 74～213kHz， 213-700kHz， 700kHz～1.95MHz，

1.95MHz～5.2MHz， 5.2MHz～17MHz， 17～50MHz。

c．頻率誤差：2×10±1個字。

Q合格(ge)指(zhi)示(shi)預(yu)(yu)置(zhi)功能，預(yu)(yu)置(zhi)范圍：5～999。

各(ge)種(zhong)電(dian)(dian)瓷(ci)、裝置瓷(ci)、電(dian)(dian)容器(qi)等陶瓷(ci)，還(huan)有復合材(cai)(cai)料等的一(yi)項重要的物理(li)性(xing)質，通(tong)過測定(ding)介質損耗(hao)角(jiao)正切tanδ及介電(dian)(dian)常數(shu)（ε），可進(jin)一(yi)步了解影(ying)響介質損耗(hao)和(he)介電(dian)(dian)常數(shu)的各(ge)種(zhong)因素，為提高(gao)材(cai)(cai)料的性(xing)能提供(gong)依據；儀器(qi)的基本原理(li)是(shi)采(cai)用(yong)高(gao)頻諧振(zhen)法，并提供(gong)了，通(tong)用(yong)、多用(yong)途、多量(liang)程的阻(zu)抗測試(shi)。

它以(yi)單片(pian)計算機作(zuo)為儀(yi)器的(de)(de)(de)控制，測量(liang)(liang)核心采用(yong)了頻(pin)率(lv)數字鎖定，標準頻(pin)率(lv)測試點(dian)自動(dong)設定，諧(xie)振(zhen)點(dian)自動(dong)搜索，Q值(zhi)量(liang)(liang)程自動(dong)轉換，數值(zhi)顯示等新(xin)(xin)技術，改進(jin)了調(diao)諧(xie)回路(lu)(lu)，使(shi)(shi)得調(diao)諧(xie)測試回路(lu)(lu)的(de)(de)(de)殘(can)余電(dian)(dian)感減至zui低(di)，并保留了原Q表中自動(dong)穩幅等技術，使(shi)(shi)得新(xin)(xin)儀(yi)器在使(shi)(shi)用(yong)時更為方便，測量(liang)(liang)值(zhi)更為精確(que)。儀(yi)器能(neng)在較高(gao)(gao)的(de)(de)(de)測試頻(pin)率(lv)條(tiao)件下，測量(liang)(liang)高(gao)(gao)頻(pin)電(dian)(dian)感或諧(xie)振(zhen)回路(lu)(lu)的(de)(de)(de)Q值(zhi)，電(dian)(dian)感器的(de)(de)(de)電(dian)(dian)感量(liang)(liang)和分布電(dian)(dian)容量(liang)(liang)，電(dian)(dian)容器的(de)(de)(de)電(dian)(dian)容量(liang)(liang)和損耗(hao)(hao)角正切值(zhi)，電(dian)(dian)工材(cai)料(liao)的(de)(de)(de)高(gao)(gao)頻(pin)介質損耗(hao)(hao)，高(gao)(gao)頻(pin)回路(lu)(lu)有效并聯(lian)及(ji)串聯(lian)電(dian)(dian)阻，傳輸線的(de)(de)(de)特性(xing)阻抗等。該儀(yi)器用(yong)于科研機關(guan)、學校、工廠(chang)等單位(wei)對無機非(fei)金屬新(xin)(xin)材(cai)料(liao)性(xing)能(neng)的(de)(de)(de)應用(yong)研究。

1、液體(ti)介電常數測定(ding)儀

2、低頻(pin)介電常(chang)數(shu)測試儀(yi)

3、高頻介電常數測試(shi)儀

4、塑(su)料介電常數測試儀(yi)

5、聚乙(yi)烯介(jie)電常數測定儀

6、硅橡膠介電常數測定(ding)儀

7、橡膠介電常數測定儀

8、材(cai)料介電常數測定儀

9、薄膜介電常數(shu)測定儀

10、聚酯薄膜介電常數測試儀

11、聚(ju)合物介(jie)電常數測量儀

12、介(jie)電常數及介(jie)質損耗測試(shi)儀

裝置：

2.3.1 平板(ban)電容器極片尺(chi)寸：:Φ38mm和Φ50mm二種.
2.3.2 平(ping)板電容器間距可(ke)調范(fan)圍和分辨(bian)率(lv)：0～8mm， ±0.01mm
2.3.3 圓筒電(dian)容(rong)器線(xian)性(xing)： 0.33 pF /mm±0.05 pF, 
2.3.4 圓(yuan)筒電容器可調范圍：±12.5mm（±4.2pF）
2.3.5 裝置插頭間距：25mm±0.1mm
2.3.6 裝置損耗角正(zheng)切值(zhi):≤2.5×10-4