產品概述
北京絕緣材料巖石介電常數測試儀生產廠家主要(yao)技(ji)術特性:介(jie)質損(sun)耗和(he)介(jie)電常數(shu)是各(ge)種電瓷(ci)、裝(zhuang)置瓷(ci)、電容器等陶瓷(ci),還有(you)復合材料等的一項重要(yao)的物理性質,通過(guo)測定(ding)介(jie)質損(sun)耗角正(zheng)切tanδ及介電(dian)常數(shu)(ε),可(ke)進(jin)一步了解影響介質損(sun)耗和介電常數的各種因素,為提高材料的性能提供依據;
北京絕緣材料巖石介電常數測試儀生產廠家儀器的基本原理(li)是采用(yong)高(gao)頻諧振(zhen)法,并(bing)提供了(le),通用(yong)、多(duo)(duo)用(yong)途、多(duo)(duo)量(liang)程的阻抗測試。
它以單片計算機作為儀(yi)器的控制,測量核心采用了頻(pin)率數(shu)字鎖定,標準頻(pin)率測試點自動設定,諧振(zhen)點自動搜(sou)索(suo),Q值量程自動(dong)轉換,數值顯示等新技術,改進了調諧回路,使得調諧測(ce)試回路的殘余電感(gan)減(jian)至zui低,并保留了原Q表中自動穩幅(fu)等(deng)技術(shu),使得新儀器在使用時更為方便,測量值更為精確。
高頻介質樣品(選購件):
在現行高頻介質材料檢定系統中,檢定部門為高頻介質損耗測量儀提供的測量標準是高頻標準介質樣品。
該樣品(pin)由人工藍寶石,石英(ying)玻(bo)璃,氧(yang)化鋁陶瓷,聚(ju)四(si)氟乙烯(xi),環氧(yang)板等材料做成Φ50mm,厚(hou)1~2mm測(ce)試樣品(pin)。用(yong)戶可按(an)需訂購,以保證(zheng)測(ce)試裝置的重復性(xing)和準確性(xing)。
較高的測(ce)試(shi)頻率條件下,測(ce)量高頻電感或諧(xie)振回路的Q值,電感(gan)器的電感(gan)量和分布電容量,電容器的電容量和損(sun)耗(hao)角(jiao)正(zheng)切值,電工材(cai)料(liao)的高頻(pin)介質(zhi)損(sun)耗(hao),高頻(pin)回路(lu)有效并聯及串聯電阻,傳(chuan)輸線的特(te)性阻抗等
電感器:
按(an)測試(shi)頻率要求,需要配置不同(tong)量的電(dian)感(gan)器。
例如:在(zai)1MHz測試頻率時,要(yao)配250μH電感器,在(zai)50MHz測試頻率時,要(yao)配0.1μH電感器等。
特點:
◎ 本公司創(chuang)新(xin)的自動(dong)Q值保持技術(shu),使測Q分(fen)辨率(lv)至0.1Q,使tanδ分(fen)辨率(lv)至0.00005 。
◎ 能對(dui)固體(ti)絕緣材(cai)料在10kHz~120MHz介質損耗角(tanδ)和介電(dian)常數(ε)變化的測試。
◎ 調諧回路(lu)殘余電感值低(di)至8nH,保(bao)證100MHz的(tanδ)和(ε)的誤差(cha)較小。
◎ 特制(zhi)LCD屏菜單式(shi)顯示多參數:Q值,測試(shi)頻率,調(diao)諧狀態(tai)等。
◎ Q值量程自動(dong)/手(shou)動(dong)量程控制。
◎ DPLL合(he)成發生(sheng)1kHz~60MHz, 50kHz~160MHz測試信號(hao)。獨立(li)信號(hao) 源輸出口,所以(yi)本機又是一臺合(he)成信號(hao)源。
◎ 測試裝(zhuang)置符(fu)合國(guo)標GB/T 1409-2006,美標ASTM D150以(yi)及IEC60250規范(fan)要求。
工作頻(pin)(pin)率(lv)范圍是10kHz~160MHz,它能完成工作頻(pin)(pin)率(lv)內材(cai)料的高頻(pin)(pin)介質(zhi)損耗角(tanδ)和介電常數(ε)變化的測(ce)試。
本儀器(qi)中測試裝(zhuang)置是由平板(ban)電容器(qi)和測微圓(yuan)筒線(xian)性電容器(qi)組成,平板(ban)電容器(qi)一般用來夾(jia)被(bei)測樣品,配用Q表作為(wei)指示儀器(qi)。
絕緣材(cai)料的(de)(de)損耗角正切值(zhi)是通(tong)過(guo)被測(ce)樣(yang)品放(fang)入平(ping)板電容器(qi)和不放(fang)樣(yang)品的(de)(de)Q值(zhi)變化(hua)和厚度的(de)(de)刻度讀(du)數通(tong)過(guo)公(gong)式計算得到。
同(tong)樣,由測(ce)微圓(yuan)筒線性電(dian)容器的電(dian)容量(liang)讀數變化,通過公式計算(suan)得到(dao)介電(dian)常數。
主要技術指標:
2.1 tanδ和ε性能:
2.1.1 固體絕緣(yuan)材料測(ce)試(shi)頻率10kHz~120MHz的tanδ和(he)ε變(bian)化的測(ce)試(shi)。
2.1.2 tanδ和ε測量范圍:
tanδ:0.1~0.00005,ε:1~50
2.1.3 tanδ和(he)ε測量精(jing)度(1MHz):
tanδ:±5%±0.00005,ε:±2%
工作頻率范(fan)圍:50kHz~50MHz 四位(wei)數顯,壓控(kong)振蕩器(qi)
Q值(zhi)測量(liang)范(fan)圍:1~1000三位(wei)數顯,±1Q分辨率
可調電容范圍:40~500 pF ΔC±3pF
電容測量(liang)誤差:±1%±1pF
Q表殘(can)余電感值:約20nH
電感測(ce)量(liang)
a.測量范圍:0.1μH~1H。
b.分 檔:分七個量(liang)程。
0.1~1μH, 1~10μH, 10~100μH,
0.1~lmH, 1~10mH, 10~100mH, 100 mH~1H。
振蕩頻率
a.振蕩頻率范圍:25kHz~50MHz;
b.頻率分檔:
25~74kHz, 74~213kHz, 213-700kHz, 700kHz~1.95MHz,
1.95MHz~5.2MHz, 5.2MHz~17MHz, 17~50MHz。
c.頻率誤差:2×10±1個字。
Q合格指示預置功能,預置范圍:5~999。
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