紫外可見光分光光度計儀器(qi)功能：

光度測試，定(ding)量(liang)測試（標準曲(qu)線），波(bo)長掃(sao)描(miao)（光譜掃(sao)描(miao)），時間(jian)掃(sao)描(miao)（動力學），核酸(suan)蛋(dan)白測試，多波(bo)長測試，系統應用等。

紫外可見光分光光度計聯機功能：（選配PC掃(sao)描軟件）

光度測試(shi)，定量(liang)測試(shi)（標準曲線(xian)），波(bo)長掃描(miao)（光譜(pu)掃描(miao)），時間(jian)掃描(miao)（動力(li)學），核酸蛋白(bai)測試(shi)，數據處(chu)(chu)理、圖譜(pu)處(chu)(chu)理、報(bao)告(gao)打印等。

儀(yi)器特點(dian)：

7寸TFT大屏幕真彩液(ye)晶顯示(shi)，數字式薄膜按鍵輸入；

ARM處理器，高精度AD，高運(yun)算速度，海量(liang)數(shu)據存儲；

豐富輸(shu)(shu)入(ru)輸(shu)(shu)出(chu)接口，支持U盤功能；

加厚底板(ban)和(he)光學支架，進口(kou)關鍵零部件(jian)，經久耐用；

高精度，低雜散光，低噪聲。

技術指標和基(ji)本參數(shu)：

概述：

分(fen)子(zi)(zi)的(de)(de)(de)(de)紫外可(ke)見吸(xi)(xi)收(shou)光(guang)譜是由(you)于(yu)分(fen)子(zi)(zi)中的(de)(de)(de)(de)某些基團(tuan)吸(xi)(xi)收(shou)了紫外可(ke)見輻(fu)射光(guang)后(hou)，發生(sheng)了電子(zi)(zi)能級躍遷而產生(sheng)的(de)(de)(de)(de)吸(xi)(xi)收(shou)光(guang)譜。由(you)于(yu)各種物(wu)質(zhi)具有(you)各自不同的(de)(de)(de)(de)分(fen)子(zi)(zi)、原(yuan)子(zi)(zi)和不同的(de)(de)(de)(de)分(fen)子(zi)(zi)空間(jian)結構，其吸(xi)(xi)收(shou)光(guang)能量的(de)(de)(de)(de)情況也就不會相同，因(yin)此(ci)，每種物(wu)質(zhi)就有(you)其*的(de)(de)(de)(de)、固定(ding)的(de)(de)(de)(de)吸(xi)(xi)收(shou)光(guang)譜曲線(xian)，可(ke)根據吸(xi)(xi)收(shou)光(guang)譜上的(de)(de)(de)(de)某些特(te)征波長處的(de)(de)(de)(de)吸(xi)(xi)光(guang)度(du)(du)的(de)(de)(de)(de)高(gao)低判別或(huo)測定(ding)該物(wu)質(zhi)的(de)(de)(de)(de)含量，這就是分(fen)光(guang)光(guang)度(du)(du)定(ding)性和定(ding)量分(fen)析的(de)(de)(de)(de)基礎。

分(fen)光(guang)光(guang)度分(fen)析就是(shi)根據物(wu)質(zhi)的(de)吸(xi)收(shou)光(guang)譜(pu)(pu)(pu)研究物(wu)質(zhi)的(de)成分(fen)、結構和物(wu)質(zhi)間相(xiang)互作用的(de)有(you)效手段(duan)。它是(shi)帶狀光(guang)譜(pu)(pu)(pu)，反映了分(fen)子中某(mou)些基團的(de)信息。可以用標準光(guang)圖譜(pu)(pu)(pu)再結合其(qi)它手段(duan)進行(xing)定性分(fen)析。

根據(ju)Lambert-Beer定律說明光(guang)的吸(xi)(xi)(xi)收(shou)(shou)與(yu)吸(xi)(xi)(xi)收(shou)(shou)層厚度(du)成正(zheng)(zheng)比，比耳定律說明光(guang)的吸(xi)(xi)(xi)收(shou)(shou)與(yu)溶(rong)(rong)(rong)液濃度(du)成正(zheng)(zheng)比；如果同時考慮吸(xi)(xi)(xi)收(shou)(shou)層厚度(du)和溶(rong)(rong)(rong)液濃度(du)對(dui)光(guang)吸(xi)(xi)(xi)收(shou)(shou)率的影響，即得朗(lang)伯-比耳定律。即A=εbc，(A為(wei)吸(xi)(xi)(xi)光(guang)度(du)，ε為(wei)摩爾吸(xi)(xi)(xi)光(guang)系數，b為(wei)液池厚度(du)，c為(wei)溶(rong)(rong)(rong)液濃度(du))就可以對(dui)溶(rong)(rong)(rong)液進行定量分析。

將(jiang)分析樣(yang)品(pin)和(he)標準樣(yang)品(pin)以(yi)相同(tong)濃度配(pei)制(zhi)在同(tong)一(yi)(yi)溶劑(ji)中，在同(tong)一(yi)(yi)條件下分別測定紫外可(ke)見吸收(shou)光譜(pu)。若(ruo)兩者是(shi)同(tong)一(yi)(yi)物質，則兩者的(de)光譜(pu)圖應(ying)**。如果(guo)沒有標樣(yang)，也(ye)可(ke)以(yi)和(he)現(xian)成的(de)標準譜(pu)圖對照進行比較。這種方法要求儀器準確，精密度高，且測定條件要相同(tong)。

實驗證明，不(bu)同(tong)的極性(xing)溶(rong)劑(ji)產生氫鍵的強度也不(bu)同(tong)，這可以(yi)利(li)用紫(zi)外光(guang)譜(pu)來判斷(duan)化合物在(zai)不(bu)同(tong)溶(rong)劑(ji)中氫鍵強度，以(yi)確定選擇哪一種溶(rong)劑(ji)。

應(ying)用：

在水(shui)(shui)和廢水(shui)(shui)監測中的應用(yong)，對于一個(ge)水(shui)(shui)系的監測分(fen)析和綜合評價，一般(ban)包括水(shui)(shui)相(xiang)（溶液本身）、固相(xiang)（懸浮物、底質）、生(sheng)(sheng)物相(xiang)（水(shui)(shui)生(sheng)(sheng)生(sheng)(sheng)物）。在水(shui)(shui)質的常規監測中，紫外可見分(fen)光光度(du)法(fa)占有較大(da)的比重。由于水(shui)(shui)和廢水(shui)(shui)的成(cheng)分(fen)復雜多(duo)變，待測物的濃(nong)度(du)和干擾物的濃(nong)度(du)差(cha)別很大(da)，在具體分(fen)析時必須選擇好分(fen)析方法(fa)。

在農產(chan)品(pin)和食品(pin)分(fen)析(xi)中(zhong)可用于檢測的組分(fen)或成分(fen)有蛋白(bai)質、賴氨(an)酸(suan)(suan)、葡(pu)萄糖、維生素(su)C、硝酸(suan)(suan)鹽(yan)、亞硝酸(suan)(suan)鹽(yan)、砷、汞等;

在植(zhi)物生化分析(xi)中可用于(yu)檢(jian)測葉綠素、全氮和酶的活力(li)等；

在飼料分析中可用于(yu)檢(jian)測煙酸、棉酚、磷化氫和(he)甲(jia)酯等(deng)。

日常維護

要懂得分析儀器的日常維護和對主要技術指標的簡易測試方法，經常對儀器進行維護和測試，以保證儀器工作在*狀態。
　　一、溫度和濕度是影響儀器性能的重要因素。他們可以引起機械部件的銹蝕，使金屬鏡面的光潔度下降，引起儀器機械部分的誤差或性能下降；造成光學部件如光柵、反射鏡、聚焦鏡等的鋁膜銹蝕，產生光能不足、雜散光、噪聲等，甚至儀器停止工作，從而影響儀器壽命。維護保養時應定期加以校正。應具備四季恒濕的儀器室，配置恒溫設備，特別是地處南方地區的實驗室。
　　二、環境中的塵埃和腐蝕性氣體也會影響機械系統的靈活性、降低各種限位開關、按鍵、光電偶合器的可靠性，也是造成必須學部件鋁膜銹蝕的原因之一。因此必須定期清潔，保障環境和儀器室內衛生條件，防塵等。
　　三、儀器使用一定周期后，內部會積累一定量的塵埃，由維修工程師或在工程師指導下定期開啟儀器外罩對內部進行除塵工作，同時將各發熱元件的散熱器重新緊固，對光學盒的密封窗口進行清潔，必要時對光路進行校準，對機械部分進行清潔和必要的潤滑，zui后，恢復原狀，再進行一些必要的檢測、調校與記錄。

紫外可見分光光度計注意事項和問題處理
　　1.開機前將樣品室內的干燥劑取出，儀器自檢過程中禁止打開樣品室蓋。
　　2.比色皿內溶液以皿高的2/3～4/5為宜，不可過滿以防液體溢出腐蝕儀器。測定時應保持比色皿清潔，池壁上液滴應用擦鏡紙擦干，切勿用手捏透光面。測定紫外波長時，需選用石英比色皿。
　　3.測定時，禁止將試劑或液體物質放在儀器的表面上，如有溶液溢出或其它原因將樣品槽弄臟，要盡可能及時清理干凈。
　　4.實驗結束后將比色皿中的溶液倒盡，然后用蒸餾水或有機溶劑沖洗比色皿至干凈，倒立晾干。關電源將干燥劑放入樣品室內，蓋上防塵罩，做好使用登記，得到管理老師認可方可離開。
　　紫外可見分光光度計問題處理：
　　1、如果儀器不能初始化，關機重啟。
　　2、如果吸收值異常，依次檢查：波長設置是否正確（重新調整波長，并重新調零）、測量時是否調零（如被誤操作，重新調零）、比色皿是否用錯（測定紫外波段時，要用石英比色皿）、樣品準備是否有誤（如有誤，重新準備樣品）。