四探針導電材料電阻率測試儀在測試過程中，在滿足基本條件下可以不考慮探針間距、樣品尺寸及探針在樣品表面上的位置等因素。四探針導電材料電阻率測試儀自動(dong)(dong)修(xiu)正(zheng)，降低了(le)其對(dui)測(ce)試結(jie)果的(de)(de)影(ying)響，從而提高了(le)測(ce)量(liang)(liang)(liang)結(jie)果的(de)(de)準確度。通過采用(yong)四探(tan)針雙位(wei)組(zu)合測(ce)量(liang)(liang)(liang)技(ji)術，將范德(de)堡測(ce)量(liang)(liang)(liang)方法應用(yong)到直線四探(tan)針上。利用(yong)電(dian)流探(tan)針和電(dian)壓探(tan)針的(de)(de)組(zu)合變換，進行兩次電(dian)測(ce)量(liang)(liang)(liang)，其最后(hou)計算(suan)結(jie)果能(neng)自動(dong)(dong)消除由樣品幾何尺(chi)寸、邊界(jie)效應以及探(tan)針不(bu)等(deng)距和機(ji)械游移等(deng)因素所(suo)引起的(de)(de)，對(dui)測(ce)量(liang)(liang)(liang)結(jie)果的(de)(de)不(bu)利影(ying)響。適(shi)用(yong)于生產企(qi)業、高等(deng)院校(xiao)、科(ke)研部(bu)門，是(shi)檢驗和分析半導體(ti)材料質量(liang)(liang)(liang)的(de)(de)工具；液晶(jing)顯示，自動(dong)(dong)測(ce)量(liang)(liang)(liang)和系數(shu)補(bu)償(chang)，并帶有溫度補(bu)償(chang)功能(neng)，自動(dong)(dong)轉換量(liang)(liang)(liang)程；采用(yong)AD芯片控制，恒流輸(shu)出，選配：PC軟件，保存和打印數(shu)據，生成報(bao)表

用于：覆(fu)蓋膜(mo);導(dao)(dao)電(dian)(dian)高分子(zi)膜(mo)，高、低溫電(dian)(dian)熱(re)膜(mo);隔(ge)熱(re)、導(dao)(dao)電(dian)(dian)窗膜(mo) 導(dao)(dao)電(dian)(dian)(屏蔽)布(bu)、裝飾(shi)膜(mo)、裝飾(shi)紙;金屬化標簽(qian)、合金類箔膜(mo);熔煉、燒結(jie)、濺射、涂(tu)(tu)覆(fu)、涂(tu)(tu)布(bu)層，電(dian)(dian)阻式、電(dian)(dian)容式觸屏薄膜(mo);電(dian)(dian)極涂(tu)(tu)料，其(qi)他半導(dao)(dao)體材(cai)料、薄膜(mo)材(cai)料方阻測試等相(xiang)關產品

電阻測量范圍： 
1、電阻率： 1×10-6～2×106Ω.cm、

電   阻：1×10-5～2×105Ω

電導率：5×10-6～1×108ms/cm

分辨率：  最小1μΩ
測量誤差±5%
2、測量電壓量程： 2mV   20mV  200mV 2V 
   測量精度±（0.1%讀數）

分辨率：  0.1uV  1uV  10uV  100uV
3、⑴電流輸出：直流電流 0～1000mA 連續可調，由交流電源供電。
   ⑵量程：1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，1000mA, 
   ⑶誤(wu)差(cha)：±0.2%讀數(shu)±2字

4. 主機外形尺寸：330mm*350mm*110mm

5、顯(xian)示方(fang)式：液晶顯(xian)示6、電源(yuan)：220±10% 50HZ/60HZ

7、標配：測試平臺(tai)一套、主機一套、電源線數據線一套。

四端(duan)測試(shi)法是目(mu)前較先進(jin)之測試(shi)方法，主要針對高精度要求(qiu)之產(chan)品測試(shi)；本(ben)儀器(qi)廣泛(fan)用于(yu)生產(chan)企(qi)業、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導體(ti)材料和半導體(ti)材料質量的一種(zhong)重要的工具。

本儀器配(pei)置各類測(ce)量(liang)裝置可(ke)以測(ce)試(shi)不同材料之(zhi)電導(dao)率。液晶(jing)顯示，無需人(ren)(ren)工(gong)計算，并(bing)帶有(you)溫度(du)補償功(gong)能，電導(dao)率單位自動(dong)(dong)選擇，BEST-300C 材料電導(dao)率測(ce)試(shi)儀自動(dong)(dong)測(ce)量(liang)并(bing)根據測(ce)試(shi)結果自動(dong)(dong)轉換量(liang)程(cheng)，無需人(ren)(ren)工(gong)多(duo)次和(he)重復設置。選配(pei)：配(pei)備軟件可(ke)以由電腦(nao)操控，并(bing)保(bao)存和(he)打印數據，自動(dong)(dong)生成圖表和(he)報表。

本(ben)儀器(qi)采(cai)用(yong)4.3吋大液(ye)晶屏幕顯示，同(tong)時顯示電阻(zu)值(zhi)、電阻(zu)率、方阻(zu)、電導率值(zhi)、溫度、壓強值(zhi)、單位自動(dong)換算，配置(zhi)不(bu)(bu)同(tong)的(de)測試治具可(ke)以滿足不(bu)(bu)同(tong)材料的(de)測試要求(qiu)。測試治具可(ke)以根據產(chan)品(pin)及(ji)測試項目要求(qiu)選購(gou).

提供中(zhong)文或英(ying)文兩種語言操作(zuo)界面(mian)選擇，滿(man)足(zu)國內(nei)及國外客戶需求(qiu)硅(gui)(gui)片電阻(zu)率測(ce)(ce)量的標準（ASTM F84）及國家標準設計制造；GB/T 1551-2009 《硅(gui)(gui)單(dan)晶(jing)電阻(zu)率測(ce)(ce)定方(fang)法》、GB/T 1552-1995《硅(gui)(gui)、鍺單(dan)晶(jing)電阻(zu)率測(ce)(ce)定直流四探針法》.