薄膜直流體積電阻率測試儀符合標準：

　　GB/T 1410-2006《 塑料薄膜電(dian)阻(zu)率(lv)測定儀固體(ti)絕緣材料體(ti)積電(dian)阻(zu)率(lv)和表面電(dian)阻(zu)率(lv)試驗方法》

　　ASTM D257-99 《絕緣材料的直(zhi)流電阻或電導試驗方(fang)法》

　　GB/T 2439-2001《硫化(hua)橡膠或熱塑性橡膠導電性能和耗散性能電阻率的測定(ding)》

　　GB/T 10581-2006《絕緣材料在高溫下電(dian)阻(zu)(zu)和電(dian)阻(zu)(zu)率的試驗方法》

　　GB/T 1692-2008《硫化(hua)橡膠(jiao)絕緣電阻率的測定》

　　GB/T 12703.4-2010《紡織品 靜電(dian)性(xing)能的評定 第４部(bu)分：電(dian)阻率》

　　GB/T 10064-2006《測定固體絕(jue)(jue)緣(yuan)材料絕(jue)(jue)緣(yuan)電阻(zu)的(de)試驗(yan)方法》

薄膜直流體積電阻率測試儀每撥一(yi)次稍停(ting)留3～5秒以便(bian)觀察顯(xian)(xian)(xian)示(shi)(shi)數(shu)(shu)字(zi)，當(dang)有顯(xian)(xian)(xian)示(shi)(shi)值時應(ying)停(ting)下，記(ji)錄當(dang)前的 數(shu)(shu)字(zi)即是被測電(dian)阻值。若顯(xian)(xian)(xian)示(shi)(shi)“1”時，表示(shi)(shi)欠量程應(ying)往高次檔(dang)拔。直到有顯(xian)(xian)(xian)示(shi)(shi) 數(shu)(shu)字(zi)時為止。當(dang)有顯(xian)(xian)(xian)示(shi)(shi)數(shu)(shu)字(zi)時不能(neng)再(zai)往高次檔(dang)撥，否則有可能(neng)損壞儀器(機內(nei)有過(guo)電(dian)流保護(hu)電(dian)路)。除104 Ω檔(dang)之外，當(dang)顯(xian)(xian)(xian)示(shi)(shi)低(di)于1.99，表示(shi)(shi)過(guo)量程應(ying)換(huan)低(di)檔(dang)!

如接在電(dian)阻(zu)箱或被測量物體上時調(diao)零后測量會(hui)產(chan)生很大(da)的誤差。一(yi)(yi)般一(yi)(yi)次調(diao)零 后在測試過程中不需(xu)再調(diao)零，但(dan)改變(bian)測量電(dian)壓(ya)后可能要重新調(diao)零。禁止將“電(dian)壓(ya)與電(dian)流”兩端短(duan)路，以免微電(dian)流放大(da)器受(shou)大(da)電(dian)流沖擊。