直讀式介質常數測試儀簡介：

采用(yong)高(gao)頻諧(xie)(xie)振法，并提(ti)供了(le)(le)通用(yong)、多用(yong)途、多量(liang)(liang)程(cheng)(cheng)的(de)阻抗測試(shi)(shi)。它以單片計算機控制儀(yi)器(qi)(qi)，測量(liang)(liang)核心(xin)采用(yong)了(le)(le)頻率數字鎖定(ding)、標準頻率測試(shi)(shi)點自(zi)動設(she)定(ding)、諧(xie)(xie)振點自(zi)動搜索(suo)、Q值量(liang)(liang)程(cheng)(cheng)自(zi)動轉換(huan)、數值顯(xian)示等(deng)新技(ji)術，改(gai)進(jin)了(le)(le)調(diao)諧(xie)(xie)回(hui)路，使得(de)調(diao)諧(xie)(xie)測試(shi)(shi)回(hui)路的(de)殘余電感(gan)(gan)減至低(di)，并保留了(le)(le)原(yuan)Q表中自(zi)動穩幅等(deng)技(ji)術，使得(de)新儀(yi)器(qi)(qi)在(zai)使用(yong)時更(geng)為方(fang)便，測量(liang)(liang)時更(geng)為。儀(yi)器(qi)(qi)能在(zai)較高(gao)的(de)測試(shi)(shi)頻率條(tiao)件下，測量(liang)(liang)高(gao)頻電感(gan)(gan)或(huo)諧(xie)(xie)振回(hui)路的(de)Q值，電感(gan)(gan)器(qi)(qi)的(de)電感(gan)(gan)量(liang)(liang)和分布電容(rong)量(liang)(liang)，電容(rong)器(qi)(qi)的(de)電容(rong)量(liang)(liang)和損耗角正(zheng)切值，電工材料的(de)高(gao)頻介質損耗，高(gao)頻回(hui)路有效并聯及串聯電阻，傳(chuan)輸線的(de)特性阻抗等(deng)。

工作原理

1．“Q"的定義

Q表是(shi)根據串聯諧振(zhen)原理設計(ji)，以諧振(zhen)電壓(ya)的比值(zhi)來定位Q值(zhi)。

“Q"表示元件(jian)(jian)或(huo)系統的“品質因數"，其物(wu)理含義是(shi)在(zai)一(yi)個振蕩周期內貯存的能量與(yu)損耗的能量之比。對于電抗元件(jian)(jian)(電感或(huo)電容)來說，即在(zai)測試頻率(lv)上呈現(xian)的電抗與(yu)電阻(zu)之比。

電容器容量的測量

A. 在測量范圍內的(de)小于主調(diao)電容量的(de)電容器的(de)測量

a．選一(yi)個(ge)適當的諧振電感接到“Lx"的兩端；

b．將(jiang)調諧電(dian)容器調到(dao)最大值附近，令這個(ge)電(dian)容是C1，如未知電(dian)容是小數值的(de)，C1應調到(dao)較小電(dian)容值附近，以便達到(dao)盡可能高的(de)分辨率(lv)；

c．調訊號源的(de)頻率，使測(ce)試回路(lu)諧振，令諧振器(qi)Q的(de)讀(du)數為Q1；

d．將被測(ce)電(dian)容接在(zai)“Cx"兩端(duan)，調節調諧電(dian)容器(qi)，使測(ce)試電(dian)路再諧振，令(ling)新(xin)的調諧電(dian)容值(zhi)為C2和指示Q值(zhi)為Q2。

被測電(dian)容的有(you)效電(dian)容為(wei)：Cx= C1－C2

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直讀式介質常數測試儀測試注意事項

1．本儀器應水平安放。

2．如果你需要較精確(que)地測量，請接(jie)通電(dian)源(yuan)后，預熱30分(fen)鐘。

3．調節(jie)主調電(dian)容數碼開關(guan)時，當接(jie)近諧振點時請緩調。

4．被測(ce)件和測(ce)試電(dian)路接線柱間(jian)的(de)(de)接線應盡(jin)量短，足夠粗，并應接觸良(liang)好、可(ke)靠，以(yi)減少因(yin)接線的(de)(de)電(dian)阻和分布參(can)數所帶(dai)來的(de)(de)測(ce)量誤差。

5．被測(ce)件不(bu)要直接擱(ge)在面板頂部(bu)，離頂部(bu)一公分以上，必要時可用低(di)損耗(hao)的絕(jue)緣材料(liao)如(ru)聚苯乙烯等做成的襯墊物襯墊。

6．手不得靠近試(shi)件(jian)，以(yi)免人體感應影響(xiang)造成測量誤(wu)差，有屏蔽(bi)(bi)的試(shi)件(jian)，屏蔽(bi)(bi)罩應連接(jie)在低(di)電位端的接(jie)線柱。