四探針低電阻率測試儀功(gong)能概(gai)述Overview：

　　1. 可以測(ce)試(shi)到1uΩ方阻值

　　2. 恒流輸出

　　3. 液晶顯示

　　4. 自動數據(ju)測量

　　5. 雙電組合測試方法.

　　6. 提供(gong)中文或(huo)英文語言(yan)版本.

　　7. PC軟件運行.

四探針低電阻率測試儀

適用(yong)范圍Widely used：

　　1.覆蓋膜(mo)(mo);導電(dian)(dian)高分子膜(mo)(mo)，高、低溫(wen)電(dian)(dian)熱(re)膜(mo)(mo);隔熱(re)、導電(dian)(dian)窗膜(mo)(mo) 導電(dian)(dian)(屏(ping)蔽)布(bu)、裝飾膜(mo)(mo)、裝飾紙(zhi);金屬化標簽、合金類箔膜(mo)(mo);熔煉、燒結、濺(jian)射(she)、涂覆、涂布(bu)層，電(dian)(dian)阻式(shi)、電(dian)(dian)容式(shi)觸屏(ping)薄膜(mo)(mo);電(dian)(dian)極涂料(liao)(liao)，其他半導體材料(liao)(liao)、薄膜(mo)(mo)材料(liao)(liao)方阻測試

　　2.硅晶(jing)(jing)塊、晶(jing)(jing)片電(dian)(dian)阻率及擴散(san)層(ceng)、外延層(ceng)、ITO導(dao)電(dian)(dian)箔(bo)膜(mo)(mo)、導(dao)電(dian)(dian)橡(xiang)膠等(deng)材料方塊電(dian)(dian)阻 半導(dao)體材料/晶(jing)(jing)圓(yuan)、太陽(yang)能電(dian)(dian)池、電(dian)(dian)子元器(qi)件，導(dao)電(dian)(dian)薄膜(mo)(mo)（ITO導(dao)電(dian)(dian)膜(mo)(mo)玻璃等(deng)），金屬膜(mo)(mo)，導(dao)電(dian)(dian)漆膜(mo)(mo)，蒸發(fa)鋁膜(mo)(mo)，PCB銅(tong)箔(bo)膜(mo)(mo)，

　　3.EMI涂層等物質的(de)薄層電阻與電阻率(lv) 導(dao)電性(xing)(xing)(xing)油漆(qi)，導(dao)電性(xing)(xing)(xing)糊狀物，導(dao)電性(xing)(xing)(xing)塑料(liao)，導(dao)電性(xing)(xing)(xing)橡膠，導(dao)電性(xing)(xing)(xing)薄膜，金(jin)屬薄膜，

　　4.抗靜電材(cai)料， EMI 防護材(cai)料，導(dao)(dao)電性纖維，導(dao)(dao)電性陶瓷等(deng)

步驟及流程

　　1. 開啟電源，預熱5分鐘.

　　2. 裝配好探頭和測試平臺.

　　3. 設定(ding)所需參數(shu).

　　4. 測量樣品

　　5. 導出數據.

　　優點描述：

　　1. 自動量程

　　2. 準確穩定性.

　　3. 雙電組(zu)合(he)測試方法

　　4. 標準電阻校準儀器

　　5. PC軟件運行

　　6. 同時顯示電(dian)阻(zu)、電(dian)阻(zu)率、電(dian)導率數據(ju).

　　7. 可顯示5位數字.

　　8. 中、英(ying)文界(jie)面

1.方塊電阻范圍： 10-6～2×105Ω/□

2.電阻率范圍(wei)： 10-7～2×105Ω-cm

3.測試電流(liu)范圍： 1A、100mA、10mA、1mA、100uA、10uA、1uA、0.1uA

4.電流精度： ±0.1%讀數

5.電阻(zu)精度： ≤0.3%

6.PC軟件界(jie)面： 電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換(huan)算(suan)、溫度系數、電流、電壓(ya)、

探針形狀、探針間距、厚度 、電導率(lv)、電阻率(lv)、壓強

7.測(ce)試方式: 四探(tan)針測(ce)量(liang)（體(ti)電阻(zu)(zu)率）和四端(duan)法（接觸電阻(zu)(zu)測(ce)量(liang)）