碳素四探針電阻測試儀參數：

1. 材料尺寸(由選配測試臺和測試方式決定)

直 徑：圓(yuan)測試臺直接測試方(fang)式(shi) Φ15～130mm，手持方(fang)式(shi)不限

方測(ce)(ce)試臺(tai)直接(jie)測(ce)(ce)試方式(shi) 180mm×180mm，手(shou)持(chi)方式(shi)不(bu)限. 長(高)度(du)： 測(ce)(ce)試臺(tai)直接(jie)測(ce)(ce)試方式(shi) H≤100mm, 手(shou)持(chi)方式(shi)不(bu)限.

BEST-300C 測試儀能夠測量半導(dao)體材料體電(dian)(dian)阻率(lv)ρ、方(fang)塊(kuai)電(dian)(dian)阻（薄片電(dian)(dian)阻率(lv)）R 口

以及體電阻 R，測量時需調(diao)整相應的修正系數和選擇相應的功能(neng)。

本(ben)產品(pin)(pin)(pin)不但提(ti)(ti)供了(le)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)(zu)率(lv)(lv)ρ、方(fang)(fang)塊(kuai)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)(zu) R 口以(yi)及體電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)(zu) R 測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)的(de)(de)(de)基本(ben)修(xiu)正(zheng)系數(shu)設(she)定(ding)， 還提(ti)(ti)供了(le)產品(pin)(pin)(pin)厚(hou)度(du) G、外形和(he)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)位(wei)置的(de)(de)(de)修(xiu)正(zheng)系數(shu) D 設(she)定(ding)，極大(da)的(de)(de)(de)提(ti)(ti)高了(le)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)精度(du)。測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)類(lei)別的(de)(de)(de)快(kuai)捷(jie)選(xuan)擇方(fang)(fang)式，方(fang)(fang)便(bian)了(le)用戶同時(shi)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)多(duo)(duo)(duo)個參數(shu)，提(ti)(ti)高測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)效率(lv)(lv)。整機(ji)測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)最大(da)相對誤(wu)差(cha)(cha)：≤±3%；整機(ji)測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)標準不確定(ding)度(du)：≤±3%四位(wei)半顯示(shi)讀數(shu)；八量(liang)(liang)(liang)(liang)程自(zi)(zi)動(dong)或(huo)手(shou)動(dong)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)；范圍寬： 電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)(zu)：10-4Ω～105Ω ；方(fang)(fang)阻(zu)(zu)(zu)：10-4Ω/□～105Ω/□；正(zheng)反(fan)向(xiang)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)流源(yuan)(yuan)(yuan)(yuan)修(xiu)正(zheng)測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)(zu)誤(wu)差(cha)(cha)恒流源(yuan)(yuan)(yuan)(yuan)：電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)流量(liang)(liang)(liang)(liang)程分為(wei)： 1uA、10uA、100uA、1mA、10mA 、100mA六檔；儀器(qi)(qi)配(pei)有(you)恒流源(yuan)(yuan)(yuan)(yuan)開(kai)關(guan)(guan)可(ke)(ke)(ke)有(you)效保護被(bei)測(ce)(ce)(ce)(ce)件，即(ji)先(xian)讓探(tan)針頭(tou)壓觸在(zai)被(bei)測(ce)(ce)(ce)(ce)材(cai)料(liao)上，后開(kai)恒流源(yuan)(yuan)(yuan)(yuan)開(kai)關(guan)(guan)，避(bi)免接觸瞬間打火(huo)。為(wei)了(le)提(ti)(ti)高工(gong)作效率(lv)(lv)，如探(tan)針帶電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)壓觸單晶對材(cai)料(liao)及測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)并無影(ying)響時(shi)，恒流源(yuan)(yuan)(yuan)(yuan)開(kai)關(guan)(guan)可(ke)(ke)(ke)一直處于開(kai)的(de)(de)(de)狀態。可(ke)(ke)(ke)配(pei)合(he)多(duo)(duo)(duo)種(zhong)探(tan)頭(tou)進行(xing)(xing)(xing)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)；也可(ke)(ke)(ke)配(pei)合(he)多(duo)(duo)(duo)種(zhong)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)臺進行(xing)(xing)(xing)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)。校(xiao)正(zheng)功能：可(ke)(ke)(ke)手(shou)動(dong)或(huo)自(zi)(zi)動(dong)選(xuan)擇測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)量(liang)(liang)(liang)(liang)程 全量(liang)(liang)(liang)(liang)程自(zi)(zi)動(dong)清零(ling)。厚(hou)度(du)可(ke)(ke)(ke)預設(she)，自(zi)(zi)動(dong)修(xiu)正(zheng)樣品(pin)(pin)(pin)的(de)(de)(de)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)(zu)率(lv)(lv),無需(xu)查表(biao)即(ji)可(ke)(ke)(ke)計算出電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)(zu)率(lv)(lv)自(zi)(zi)動(dong)進行(xing)(xing)(xing)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)流換向(xiang),并進行(xing)(xing)(xing)正(zheng)反(fan)向(xiang)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)流下的(de)(de)(de)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)(zu)率(lv)(lv)(或(huo)方(fang)(fang)塊(kuai)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)(zu))測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang),顯示(shi)平均(jun)值.測(ce)(ce)(ce)(ce)薄片時(shi),可(ke)(ke)(ke)自(zi)(zi)動(dong)進行(xing)(xing)(xing)厚(hou)度(du)修(xiu)正(zheng)。雙(shuang)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)測(ce)(ce)(ce)(ce)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)模式，測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)精度(du)高、穩定(ding)性好.具備(bei)溫度(du)補償功能，修(xiu)正(zheng)被(bei)測(ce)(ce)(ce)(ce)材(cai)料(liao)溫漂帶來的(de)(de)(de)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)結果偏差(cha)(cha)。比較器(qi)(qi)判斷燈直接顯示(shi)，勿需(xu)查看屏(ping)幕，作業效率(lv)(lv)得(de)以(yi)提(ti)(ti)高。

3檔分選(xuan)功(gong)能：超(chao)上限，合格，超(chao)下限，可(ke)(ke)對(dui)(dui)被測(ce)(ce)(ce)件(jian)進(jin)(jin)行(xing)HI/LOW判(pan)斷(duan)，可(ke)(ke)直接(jie)(jie)(jie)在LCD使用(yong)標(biao)志顯示；也可(ke)(ke)通過USB接(jie)(jie)(jie)口(kou)(kou)、RS232接(jie)(jie)(jie)口(kou)(kou)輸(shu)出更為詳(xiang)細(xi)的(de)分選(xuan)結果。測(ce)(ce)(ce)試模式：可(ke)(ke)連(lian)接(jie)(jie)(jie)電腦(nao)測(ce)(ce)(ce)試、也可(ke)(ke)不連(lian)接(jie)(jie)(jie)電腦(nao)單機測(ce)(ce)(ce)試。接(jie)(jie)(jie)口(kou)(kou)，Handler接(jie)(jie)(jie)口(kou)(kou)、RS232接(jie)(jie)(jie)口(kou)(kou)、USB HOST、USB DEVICE。實現遠(yuan)程控制(zhi)。U盤(pan)可(ke)(ke)記(ji)錄(lu)測(ce)(ce)(ce)試數(shu)(shu)據軟件(jian)功(gong)能（選(xuan)配）：軟件(jian)可(ke)(ke)記(ji)錄(lu)、保存、各點(dian)的(de)測(ce)(ce)(ce)試數(shu)(shu)據；可(ke)(ke)供用(yong)戶對(dui)(dui)數(shu)(shu)據進(jin)(jin)行(xing)各種(zhong)數(shu)(shu)據分

在設定(ding)(ding)模式下（設定(ding)(ding)完畢(bi)，保存好數據后），選擇測量(liang)類別（電阻(zu)率ρ、方塊(kuai)電阻(zu)

（薄片電阻(zu)(zu)率）R 口或體電阻(zu)(zu) R 中三選一，切換儀器到“測量(liang)(liang)"模(mo)式，窗口左側“測量(liang)(liang)" 模(mo)式燈亮。電阻(zu)(zu)測量(liang)(liang),注(zhu)意良好接觸，電壓測試端在內側；半(ban)導體參數測試，將探針與樣(yang)品良好接觸，注(zhu)意壓力要適中；由數字顯示(shi)窗直接讀出測量(liang)(liang)值。

注意！測量(liang)(liang)狀態中，電(dian)(dian)流(liu)(liu)(liu)量(liang)(liang)程(cheng)默認為(wei)自(zi)動(dong)方(fang)式(shi)，也可調整為(wei)手(shou)動(dong)方(fang)式(shi)，手(shou)動(dong)方(fang)式(shi)下， 電(dian)(dian)流(liu)(liu)(liu)量(liang)(liang)程(cheng)適(shi)合(he)(he)的，儀(yi)器會穩定顯示數(shu)據，電(dian)(dian)流(liu)(liu)(liu)量(liang)(liang)程(cheng)不適(shi)合(he)(he)的會給出超(chao)量(liang)(liang)程(cheng)或欠(qian)量(liang)(liang)程(cheng)閃爍提示，對于超(chao)量(liang)(liang)程(cheng)，說明(ming)電(dian)(dian)流(liu)(liu)(liu)過大(da)，要調到(dao)較小電(dian)(dian)流(liu)(liu)(liu)檔(dang)；對于欠(qian)量(liang)(liang)程(cheng)，說明(ming)電(dian)(dian)流(liu)(liu)(liu)過小， 要調到(dao)較大(da)電(dian)(dian)流(liu)(liu)(liu)檔(dang)。

碳素四探針電阻測試儀操作：

1、測試溫度23±2℃，相(xiang)對濕度65±5%，無外界電磁場(chang)干擾環境中進行。

2、測試時對試樣所加電壓為100V~500V的直流電壓，選擇電壓檔次。

3、將試樣倒入高壓(ya)電極(ji)內，使液面剛(gang)好(hao)和環(huan)電極(ji)下綠全部接(jie)觸為止(zhi)。

4、將充分放電后(hou)的試樣和電極，按固體(液體)體積及表面電阻率測試儀要求(qiu)接線。

注意事項：