比(bi)較-電流(liu)(liu)(liu)計(ji)(ji)——計(ji)(ji)算電阻或電導的(de)(de)(de)*百(bai)分(fen)比(bi)誤(wu)差(cha)是指Rs,電流(liu)(liu)(liu)計(ji)(ji)偏(pian)移或放大(da)(da)器(qi)(qi)讀(du)(du)(du)數的(de)(de)(de)百(bai)分(fen)比(bi)誤(wu)差(cha)總和,同時假設電流(liu)(liu)(liu)靈敏度(du)與偏(pian)移無關。對于(yu)(yu)新式電流(liu)(liu)(liu)計(ji)(ji)(直流(liu)(liu)(liu)電流(liu)(liu)(liu)放大(da)(da)器(qi)(qi)可(ke)(ke)能發生(sheng)1/3刻(ke)(ke)度(du)偏(pian)移),后者的(de)(de)(de)假設精度(du)到(dao)(dao)±2%有用(yong)范(fan)圍(wei)之(zhi)內(在(zai)1/10滿刻(ke)(ke)度(du)偏(pian)移之(zhi)上)。Rs的(de)(de)(de)誤(wu)差(cha)取決于(yu)(yu)采(cai)(cai)(cai)用(yong)的(de)(de)(de)電阻器(qi)(qi)類型,但是1MΩ電阻的(de)(de)(de)誤(wu)差(cha)極限低至(zhi)0.1%是適用(yong)的(de)(de)(de)。對于(yu)(yu)滿刻(ke)(ke)度(du)偏(pian)移,采(cai)(cai)(cai)用(yong)靈敏度(du)為(wei)10nA的(de)(de)(de)電流(liu)(liu)(liu)計(ji)(ji)或直流(liu)(liu)(liu)電流(liu)(liu)(liu)放大(da)(da)器(qi)(qi),500V施(shi)加到(dao)(dao)5TΩ電阻上將(jiang)能產生(sheng)1%的(de)(de)(de)偏(pian)移。在(zai)該電壓處,采(cai)(cai)(cai)用(yong)先(xian)前標(biao)記(ji)的(de)(de)(de)標(biao)準電阻器(qi)(qi),Fs=105,ds將(jiang)大(da)(da)約為(wei)1/2的(de)(de)(de)滿刻(ke)(ke)度(du)偏(pian)移,可(ke)(ke)讀(du)(du)(du)性(xing)(xing)誤(wu)差(cha)不(bu)大(da)(da)于(yu)(yu)±1%。如果dx大(da)(da)約為(wei)1/4滿刻(ke)(ke)度(du)偏(pian)移,可(ke)(ke)讀(du)(du)(du)性(xing)(xing)誤(wu)差(cha)將(jiang)不(bu)超過±4%,同時可(ke)(ke)以在(zai)±5-1/2%*誤(wu)差(cha)下測量200GΩ電阻。

電(dian)壓變化速率——測量(liang)精度(du)(du)直接(jie)與施(shi)加(jia)電(dian)壓和(he)電(dian)流計(ji)(ji)讀數變化的(de)時間率測量(liang)精度(du)(du)成比例(li)。靜電(dian)計(ji)(ji)開關打開的(de)時間長短和(he)采用的(de)刻(ke)度(du)(du)應使得(de)可(ke)以精確(que)測量(liang)時間,同時可(ke)獲得(de)滿刻(ke)度(du)(du)讀數。在這(zhe)些條件下,精度(du)(du)將與其它測量(liang)電(dian)流方法的(de)精度(du)(du)相當。

比較電(dian)(dian)橋——當(dang)探(tan)測(ce)(ce)(ce)器具有(you)適當(dang)的(de)靈敏度(du),電(dian)(dian)腦電(dian)(dian)阻的(de)*百(bai)(bai)分(fen)比誤(wu)(wu)差(cha)是指(zhi)臂A,B和N的(de)百(bai)(bai)分(fen)比誤(wu)(wu)差(cha)總和。當(dang)采用(yong)1 mV/分(fen)刻(ke)(ke)度(du)的(de)探(tan)測(ce)(ce)(ce)器靈敏度(du)時,500V電(dian)(dian)壓施(shi)加到電(dian)(dian)橋上,RN=1GΩ,電(dian)(dian)阻為1000TΩ將能產生一個分(fen)刻(ke)(ke)度(du)的(de)探(tan)測(ce)(ce)(ce)器偏(pian)移。假設忽略RA和RB的(de)誤(wu)(wu)差(cha),已知RN=1GΩ在(zai)(zai)±2%之(zhi)內(nei),同時電(dian)(dian)橋平衡(heng)在(zai)(zai)一個探(tan)測(ce)(ce)(ce)器分(fen)刻(ke)(ke)度(du),可采用(yong)±6%的(de)*誤(wu)(wu)差(cha)來測(ce)(ce)(ce)量100TΩ的(de)電(dian)(dian)阻。

 幾個(ge)制造(zao)商可提供必(bi)要(yao)的滿足本方法要(yao)求的零件或(huo)專用系統。

涂層漆體積電阻率測試儀測試(shi)電(dian)壓(ya)10V/50V/100V/250V/500V/1000V任意可調(diao)。具有(you)精(jing)度高、顯(xian)示迅速(su)、性(xing)好穩定、讀數方便。適用(yong)于橡膠(jiao)、塑料、薄膜、地(di)毯、織物及(ji)粉體(ti)、液體(ti)、及(ji)固體(ti)和膏體(ti)形(xing)狀的(de)各(ge)種(zhong)絕緣材料體(ti)積和表面電(dian)阻值(zhi)的(de)測定。

 ?

測量參數(shu)  絕緣電(dian)阻 R，泄漏電(dian)流 I，表面(mian)電(dian)阻 Rs，體積電(dian)阻 Rv

測試電(dian)壓 1-1000v任(ren)意電(dian)壓  

測試范圍  5*102Ω~1X10 20Ω（超出顯示電流最大(da)換算可到(dao)20次方），2mA ~ 0.01pA  

測(ce)試速(su)度（MAX）  快速(su) 5 次(ci)(ci)/秒(miao)(miao)，慢速(su) 1 次(ci)(ci)/秒(miao)(miao)，

回讀電壓精(jing)度  0.5%±1V

量程(cheng)超(chao)限顯(xian)示(shi)  量程(cheng)上(shang)超(chao)

輸入端子(zi)  香蕉插(cha)頭(tou)，BNC 插(cha)頭(tou)

操作鍵(jian)(jian)  橡膠(jiao)鍵(jian)(jian)

顯示(shi)  4.3寸TFT

精(jing)度保證期  1年(nian) 根據計(ji)量(liang)證書有(you)效期

操作(zuo)溫度(du)(du)和濕度(du)(du) 0℃到40℃80%RH以下(xia)(無凝結)

存儲(chu)溫度(du)和濕度(du) -10℃到60℃ 80%RH以下(無凝結)

符合標準：

GB/T 1410-2006《 固(gu)體(ti)絕緣(yuan)材料體(ti)積電阻(zu)率(lv)和表面電阻(zu)率(lv)試驗方法》

ASTM D257-99《絕緣(yuan)材料的直流電(dian)(dian)阻或電(dian)(dian)導試驗方法(fa)》

GB/T 10581-2006 《絕緣(yuan)材料在高溫(wen)下電阻和電阻率的試驗(yan)方法》

GB/T 1692-2008 《硫化(hua)橡膠 絕緣電阻率(lv)的測定》

GB/T 2439-2001《硫化橡膠或熱塑(su)性橡膠 導電性能和耗散性能電阻率的測定》

GB/T 12703.4-2010 《紡織品(pin) 靜(jing)電性能的評定 第4部(bu)分(fen)：電阻率》

GB/T 10064-2006_《測定固體絕(jue)緣材料絕(jue)緣電阻(zu)的試驗方法》

涂層漆體積電阻率測試儀陶瓷(ci)介(jie)(jie)電(dian)(dian)常數測(ce)試(shi)儀可以在較高(gao)(gao)測(ce)試(shi)頻(pin)率下測(ce)量(liang)高(gao)(gao)頻(pin)電(dian)(dian)感或諧振(zhen)電(dian)(dian)路的(de)Q值，電(dian)(dian)感的(de)電(dian)(dian)感和(he)分布電(dian)(dian)容(rong)以及電(dian)(dian)容(rong)器的(de)電(dian)(dian)容(rong)和(he)損耗角正切(qie)。電(dian)(dian)氣材料(liao)的(de)高(gao)(gao)頻(pin)介(jie)(jie)電(dian)(dian)損耗，高(gao)(gao)頻(pin)回路的(de)有效并聯(lian)和(he)串聯(lian)電(dian)(dian)阻，傳輸線的(de)特性阻抗等。 該設備廣泛用于科研機構，學校，工廠等部門。 它(ta)主要用于測(ce)量(liang)玻璃(li)，陶瓷(ci)和(he)其(qi)他材料(liao)在高(gao)(gao)頻(pin)信號下的(de)介(jie)(jie)電(dian)(dian)損耗和(he)介(jie)(jie)電(dian)(dian)常數。

電源——要求采用穩定的直流電壓電源(見X1.7.3)。蓄電池或其它穩定直流電壓電源已經證明適用于該用途。

保護回路——不管是采(cai)用(yong)兩個電(dian)(dian)(dian)極(ji)(沒有(you)保護)測(ce)量(liang)(liang)絕(jue)緣(yuan)材料的(de)(de)電(dian)(dian)(dian)阻,或者(zhe)是采(cai)用(yong)三個終端(duan)系(xi)統(兩個電(dian)(dian)(dian)極(ji)加上保護)測(ce)量(liang)(liang)絕(jue)緣(yuan)材料的(de)(de)電(dian)(dian)(dian)阻,都要考慮怎樣(yang)在(zai)試驗(yan)(yan)設備和(he)試驗(yan)(yan)樣(yang)本之(zhi)(zhi)間進(jin)行電(dian)(dian)(dian)連接(jie)。如果試驗(yan)(yan)樣(yang)本遠離(li)試驗(yan)(yan)設備一段距離(li),或者(zhe)試驗(yan)(yan)樣(yang)本在(zai)濕熱(re)條(tiao)件下進(jin)行測(ce)試,或者(zhe)樣(yang)本電(dian)(dian)(dian)阻預期相對比較高(1010~1015ohms),則試驗(yan)(yan)設備和(he)試驗(yan)(yan)樣(yang)本之(zhi)(zhi)間可(ke)能容(rong)易存在(zai)虛(xu)假的(de)(de)電(dian)(dian)(dian)阻通路。有(you)必要采(cai)用(yong)保護回路來使得這(zhe)些虛(xu)假通路的(de)(de)干涉降至*(也可(ke)見X1.9)。

帶(dai)保護(hu)電極(ji)——使用同軸電纜(lan),其(qi)芯部通向(xiang)保護(hu)電極(ji),屏蔽端通向(xiang)保護(hu)電極(ji),以使得(de)(de)試(shi)驗(yan)設備和試(shi)驗(yan)樣本之間獲得(de)(de)適當的保護(hu)連接。

沒有保(bao)護電(dian)極——使用同軸電(dian)纜,芯部通(tong)向某一電(dian)極,屏蔽(bi)端端接到(dao)從芯部末端大約(yue)1cm處(也可見圖10)。

直(zhi)接測(ce)量(liang)(liang)——采用任何設備(bei)(bei)(設備(bei)(bei)具有±10%的(de)靈敏度(du)和(he)精(jing)度(du))測(ce)量(liang)(liang)在(zai)固定(ding)電(dian)壓下通過樣本的(de)電(dian)流。適(shi)用的(de)電(dian)流測(ce)量(liang)(liang)設備(bei)(bei)包括靜電(dian)計(ji)(ji),帶指示(shi)器的(de)直(zhi)流放大器,和(he)電(dian)流計(ji)(ji)。典型方(fang)法和(he)回路見附錄X3規定(ding)。當校準測(ce)量(liang)(liang)設備(bei)(bei)刻度(du)盤來直(zhi)接讀取歐姆電(dian)阻(zu)值(zhi)時,則不要求計(ji)(ji)算(suan)電(dian)阻(zu)測(ce)量(liang)(liang)值(zhi)。

比較法——惠斯登電橋回路可采用標準電阻器電阻來比較樣本電阻(見附錄X3)。

精度和偏差考慮:

概述(shu)——作為設(she)備選(xuan)擇(ze)的(de)(de)(de)指導(dao),表(biao)2總結了相關的(de)(de)(de)考(kao)慮(lv)因(yin)素,但是不暗示(shi)(shi)列(lie)舉(ju)的(de)(de)(de)示(shi)(shi)例是*適用(yong)(yong)的(de)(de)(de)。該(gai)擬用(yong)(yong)于(yu)采用(yong)(yong)現代(dai)設(she)備顯示(shi)(shi)明顯可能(neng)(neng)的(de)(de)(de)范圍(wei)。在(zai)任何場合(he),只(zhi)有小心選(xuan)擇(ze)設(she)備組合(he),才可以獲得(de)或者超過這些范圍(wei)。然而,必須強調考(kao)慮(lv)的(de)(de)(de)誤(wu)(wu)差只(zhi)是測量儀(yi)器的(de)(de)(de)誤(wu)(wu)差。如附錄(lu)X1討論的(de)(de)(de)誤(wu)(wu)差是一個*不同問題。在(zai)后面的(de)(de)(de)連接中,表(biao)2的(de)(de)(de)*一列(lie)列(lie)舉(ju)了采用(yong)(yong)不同方法(fa)由保護(hu)電(dian)(dian)極和保護(hu)體系(xi)之(zhi)間(jian)的(de)(de)(de)絕緣電(dian)(dian)阻分流(liu)的(de)(de)(de)電(dian)(dian)阻。通常來說,該(gai)電(dian)(dian)阻值越低,由于(yu)過度分流(liu)導(dao)致的(de)(de)(de)誤(wu)(wu)差可能(neng)(neng)性就越小。

注2:不(bu)管采(cai)(cai)用(yong)何(he)種測量(liang)方(fang)(fang)(fang)法(fa)(fa),只有認真評估所有誤(wu)差源,才(cai)可(ke)(ke)獲(huo)得*的(de)(de)精度(du)。有可(ke)(ke)能確(que)立這些零部件的(de)(de)任何(he)測量(liang)方(fang)(fang)(fang)法(fa)(fa),或(huo)者獲(huo)得完整試驗(yan)裝置的(de)(de)測量(liang)方(fang)(fang)(fang)法(fa)(fa)。通常來說(shuo),采(cai)(cai)用(yong)高靈敏度(du)電(dian)(dian)(dian)流(liu)計的(de)(de)方(fang)(fang)(fang)法(fa)(fa)要(yao)求(qiu)比采(cai)(cai)用(yong)指(zhi)示器或(huo)記錄器的(de)(de)方(fang)(fang)(fang)法(fa)(fa)獲(huo)得更(geng)加*得安裝。采(cai)(cai)用(yong)指(zhi)示器(例如電(dian)(dian)(dian)壓(ya)表,電(dian)(dian)(dian)流(liu)計,直流(liu)放大器和(he)靜電(dian)(dian)(dian)計)的(de)(de)方(fang)(fang)(fang)法(fa)(fa)要(yao)求(qiu)手動調節最小,同時(shi)容易(yi)讀數,但是要(yao)求(qiu)操作者在(zai)特定(ding)時(shi)間內進行讀數。惠斯登電(dian)(dian)(dian)橋(圖(tu)X1.4)和(he)電(dian)(dian)(dian)位計方(fang)(fang)(fang)法(fa)(fa)(圖(tu)X1.2(b))要(yao)求(qiu)操作者專心保持平衡,但是允許在(zai)空閑時(shi)設定(ding)在(zai)特定(ding)時(shi)間時(shi)讀數。