工業直流式探針測試儀簡介：

儀器適用于半導體材料廠器件廠、科研單位、高等院校對導體、半導體、類半導體材料的導電性能的測試。

BEST-300C 型材料電導率測試儀是運用四探針測量原理測試試導體、半導體材料電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器設計符合單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準。

儀器成套組成：由主機、選配的四探針探頭和測試臺等三部分組成。

主機主要由數控恒流源，高分辨率 ADC、嵌入式單片機系統組成。自動/手動量程可選；電阻率、方阻、電阻測試類別快捷切換：儀器所有參數設定、功能轉換全部采用數字化鍵盤輸入，簡便可靠；具有零位、滿度自校功能；測試結果由數字表頭直接顯示。本測試儀采用可充電鋰電池供電，適合手持式變動場合操作使用！

工業直流式探針測試儀參數特點：

1. 便于查看的(de)(de)顯示/直觀(guan)(guan)的(de)(de)操作(zuo)性：高亮度、超清晰4.3寸彩色LCD顯示；操作(zuo)易學(xue)，直觀(guan)(guan)使用；

2. 基本設置(zhi)操(cao)作簡單，方阻、電阻、電阻率、電導率和分選結果(guo)；多種參數同時顯(xian)示。

3. 精(jing)度(du)高：電(dian)阻(zu)基(ji)本(ben)(ben)準確度(du)： 0.05％；方阻(zu)基(ji)本(ben)(ben)準確度(du)：3%；電(dian)阻(zu)率基(ji)本(ben)(ben)準確度(du)：3%

4. 整機(ji)測(ce)量最大相對誤差：≤±3%；整機(ji)測(ce)量標準不確(que)定度：≤±3%

5. 四位半顯示(shi)讀(du)數；八(ba)量程自動(dong)或手動(dong)測試；

6. 測(ce)量范圍寬： 電阻：10-4Ω～105Ω ；方阻：10-4Ω/□～105Ω/□；

7. 正(zheng)反向電(dian)流源修正(zheng)測量(liang)電(dian)阻誤差

8. 恒(heng)流(liu)源：電流(liu)量程(cheng)分為： 1uA、10uA、100uA、1mA、10mA 、100mA六檔；儀器(qi)配有恒(heng)流(liu)源開(kai)關可有效(xiao)(xiao)保護被(bei)測件，即先讓(rang)探針(zhen)頭壓觸在被(bei)測材料上，后開(kai)恒(heng)流(liu)源開(kai)關，避免接(jie)觸瞬間打火。為了提高(gao)工作效(xiao)(xiao)率，如探針(zhen)帶電壓觸單晶(jing)對材料及測量并(bing)無影響時，恒(heng)流(liu)源開(kai)關可一(yi)直處(chu)于開(kai)的狀態。

9. 可(ke)配合(he)多種(zhong)探頭進行測試(shi)；也可(ke)配合(he)多種(zhong)測試(shi)臺(tai)進行測試(shi)。

10. 校(xiao)正功能：可手動(dong)或(huo)自動(dong)選擇測試量程 全量程自動(dong)清零。

11. 厚度可預設，自動修正樣品的電阻率,無需查表即可計算出(chu)電阻率。

12. 自動進行電(dian)流換向(xiang),并進行正反向(xiang)電(dian)流下的電(dian)阻率(或方塊電(dian)阻)測量,顯示平均值.測薄片時,可自動進行厚度修(xiu)正。

13. 雙電測測試模(mo)式，測量(liang)精度高(gao)、穩定性好.

14. 具備溫度補償功能，修正被測(ce)材料溫漂(piao)帶來的測(ce)試結果偏差(cha)。

15. 比較(jiao)器(qi)判(pan)斷(duan)燈直接顯示(shi)，勿(wu)需(xu)查看(kan)屏(ping)幕，作業效率得以提高(gao)。

3檔分(fen)選功能：超上限(xian)，合(he)格，超下限(xian)，可對被測(ce)件(jian)進行HI/LOW判(pan)斷，可直接(jie)在LCD使用標志(zhi)顯示(shi)；也可通過(guo)USB接(jie)口、RS232接(jie)口輸出更為詳(xiang)細(xi)的分(fen)選結(jie)果。

16. 測(ce)(ce)試(shi)模式：可連(lian)接電腦(nao)測(ce)(ce)試(shi)、也(ye)可不連(lian)接電腦(nao)單(dan)機測(ce)(ce)試(shi)。

17. 豐富的接(jie)口(kou)，Handler接(jie)口(kou)、RS232接(jie)口(kou)、USB HOST、USB DEVICE。實現遠程(cheng)控(kong)制。U盤可記(ji)錄測(ce)試(shi)數據