直流式探針測試儀簡介：

采(cai)用(yong)四(si)探(tan)(tan)針(zhen)組合(he)雙(shuang)電(dian)(dian)測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)方法，液(ye)晶顯示，自(zi)(zi)動(dong)測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)，自(zi)(zi)動(dong)量(liang)(liang)程，自(zi)(zi)動(dong)系(xi)數補(bu)償.高集成(cheng)電(dian)(dian)路(lu)系(xi)統、恒流輸出；選(xuan)配：PC軟件(jian)進行數據(ju)管理和處理.雙(shuang)電(dian)(dian)測(ce)(ce)(ce)數字(zi)式四(si)探(tan)(tan)針(zhen)測(ce)(ce)(ce)試儀(yi)是運用(yong)直線或方形四(si)探(tan)(tan)針(zhen)雙(shuang)位測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)。該儀(yi)器(qi)設計符合(he)單(dan)晶硅物理測(ce)(ce)(ce)試方法國家標準并(bing)參考美國A.S.T.M標準。利用(yong)電(dian)(dian)流探(tan)(tan)針(zhen)、電(dian)(dian)壓探(tan)(tan)針(zhen)的變換，進行兩(liang)次(ci)電(dian)(dian)測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)，對數據(ju)進行雙(shuang)電(dian)(dian)測(ce)(ce)(ce)分析，解決樣(yang)品(pin)幾何尺(chi)寸、邊界效應(ying)以及探(tan)(tan)針(zhen)不(bu)等(deng)距(ju)和機械游移等(deng)因素對測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)結果(guo)的影響.

具有測量范圍寬、精度高、靈敏度高、穩定性好、智能化程度高、外形美觀、使用簡便等特點。

儀器適用于半導體材料廠器件廠、科研單位、高等院校對導體、半導體、類半導體材料的導電性能的測試。

BEST-300C 型材料電導率測試儀是運用四探針測量原理測試試導體、半導體材料電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器設計符合單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準。

儀器成套組成：由主機、選配的四探針探頭和測試臺等三部分組成。

主機主要由數控恒流源，高分辨率 ADC、嵌入式單片機系統組成。自動/手動量程可選；電阻率、方阻、電阻測試類別快捷切換：儀器所有參數設定、功能轉換全部采用數字化鍵盤輸入，簡便可靠；具有零位、滿度自校功能；測試結果由數字表頭直接顯示。本測試儀采用可充電鋰電池供電，適合手持式變動場合操作使用！

直流式探針測試儀參數特點：

1. 便于(yu)查看的顯(xian)示(shi)/直(zhi)(zhi)觀的操作性：高亮度(du)、超清晰(xi)4.3寸彩色LCD顯(xian)示(shi)；操作易學，直(zhi)(zhi)觀使用(yong)；

2. 基本設置操作簡單(dan)，方(fang)阻(zu)、電阻(zu)、電阻(zu)率(lv)、電導率(lv)和分(fen)選結果；多種參數同(tong)時顯示。

3. 精(jing)度高(gao)：電阻基本準(zhun)確(que)度： 0.05％；方阻基本準(zhun)確(que)度：3%；電阻率基本準(zhun)確(que)度：3%

4. 整機測量最大相(xiang)對誤(wu)差：≤±3%；整機測量標準不確定度：≤±3%

5. 四位(wei)半顯(xian)示讀數；八量程自動或(huo)手動測試；

6. 測量范圍寬(kuan)： 電(dian)阻：10-4Ω～105Ω ；方阻：10-4Ω/□～105Ω/□；

7. 正反向電(dian)流源修正測量電(dian)阻誤差

8. 恒(heng)流(liu)(liu)源：電流(liu)(liu)量程(cheng)分為(wei)： 1uA、10uA、100uA、1mA、10mA 、100mA六檔；儀器(qi)配有(you)(you)恒(heng)流(liu)(liu)源開(kai)關(guan)可有(you)(you)效(xiao)保護被測件，即(ji)先讓探針頭壓(ya)觸(chu)在被測材料上，后(hou)開(kai)恒(heng)流(liu)(liu)源開(kai)關(guan)，避免接觸(chu)瞬間打火。為(wei)了提(ti)高工作效(xiao)率，如探針帶電壓(ya)觸(chu)單晶(jing)對(dui)材料及測量并無影響時，恒(heng)流(liu)(liu)源開(kai)關(guan)可一(yi)直(zhi)處于(yu)開(kai)的狀態。

9. 可配(pei)合多種探頭(tou)進(jin)行測(ce)(ce)試；也可配(pei)合多種測(ce)(ce)試臺進(jin)行測(ce)(ce)試。

10. 校正功能：可(ke)手動或自動選擇測試量(liang)(liang)程 全量(liang)(liang)程自動清(qing)零。

11. 厚度可(ke)(ke)預設，自(zi)動修正樣(yang)品的電阻率,無(wu)需查表即可(ke)(ke)計算出電阻率。

12. 自動(dong)(dong)進行(xing)電(dian)流換向(xiang),并(bing)進行(xing)正(zheng)反向(xiang)電(dian)流下的電(dian)阻(zu)率(lv)(或方(fang)塊電(dian)阻(zu))測量,顯(xian)示平均(jun)值(zhi).測薄片時,可(ke)自動(dong)(dong)進行(xing)厚度修正(zheng)。

13. 雙電測(ce)測(ce)試模(mo)式，測(ce)量精度高、穩定性好.

14. 具備(bei)溫(wen)度補(bu)償功能，修正被測材料溫(wen)漂帶來的(de)測試結果(guo)偏差。

15. 比較器判(pan)斷燈直接(jie)顯示，勿需(xu)查看屏幕，作(zuo)業(ye)效率(lv)得以提高。

3檔分(fen)選功(gong)能：超上(shang)限(xian)，合格，超下限(xian)，可對被測件進行HI/LOW判斷，可直接(jie)(jie)在LCD使用標志(zhi)顯示；也(ye)可通過USB接(jie)(jie)口、RS232接(jie)(jie)口輸出更(geng)為詳(xiang)細的分(fen)選結果。

16. 測(ce)(ce)試(shi)模式：可(ke)連接電(dian)腦測(ce)(ce)試(shi)、也可(ke)不連接電(dian)腦單(dan)機測(ce)(ce)試(shi)。

17. 豐富的(de)接口，Handler接口、RS232接口、USB HOST、USB DEVICE。實(shi)現遠(yuan)程控制。U盤可(ke)記錄測試數據