雙電四探針測試儀采用(yong)四探針(zhen)(zhen)組合雙(shuang)電(dian)(dian)測(ce)(ce)(ce)量(liang)方(fang)法，液晶顯示，自動(dong)測(ce)(ce)(ce)量(liang)，自動(dong)量(liang)程，自動(dong)系(xi)數補償.高(gao)集(ji)成電(dian)(dian)路系(xi)統、恒流(liu)輸出；選(xuan)配：PC軟件進(jin)行數據(ju)管理和處(chu)理.雙(shuang)電(dian)(dian)測(ce)(ce)(ce)數字式四探針(zhen)(zhen)測(ce)(ce)(ce)試(shi)儀是運(yun)用(yong)直(zhi)線或方(fang)形四探針(zhen)(zhen)雙(shuang)位(wei)測(ce)(ce)(ce)量(liang)。該儀器(qi)設(she)計符合單晶硅物(wu)理測(ce)(ce)(ce)試(shi)方(fang)法國(guo)家標準并(bing)參考美國(guo)A.S.T.M標準。利用(yong)電(dian)(dian)流(liu)探針(zhen)(zhen)、電(dian)(dian)壓探針(zhen)(zhen)的變換(huan)，進(jin)行兩(liang)次電(dian)(dian)測(ce)(ce)(ce)量(liang)，對(dui)數據(ju)進(jin)行雙(shuang)電(dian)(dian)測(ce)(ce)(ce)分(fen)析，解決樣(yang)品(pin)幾何尺寸、邊界效應以及探針(zhen)(zhen)不等(deng)距和機械游移(yi)等(deng)因(yin)素對(dui)測(ce)(ce)(ce)量(liang)結果(guo)的影(ying)響.

1. 便于查(cha)看的顯(xian)示(shi)(shi)/直觀的操(cao)(cao)作性：高亮度、超清晰4.3寸(cun)彩色LCD顯(xian)示(shi)(shi)；操(cao)(cao)作易學(xue)，直觀使用；

2. 基本設(she)置操作簡單(dan)，方阻、電(dian)阻、電(dian)阻率(lv)、電(dian)導(dao)率(lv)和分選結果；多(duo)種(zhong)參數同(tong)時顯示。

3. 精度高(gao)：電(dian)阻(zu)(zu)基本(ben)準(zhun)確(que)(que)度： 0.05％；方阻(zu)(zu)基本(ben)準(zhun)確(que)(que)度：3%；電(dian)阻(zu)(zu)率基本(ben)準(zhun)確(que)(que)度：3%

4. 整(zheng)機(ji)測(ce)量(liang)最大相對誤差(cha)：≤±3%；整(zheng)機(ji)測(ce)量(liang)標準不確定(ding)度：≤±3%

5. 四位半顯(xian)示讀(du)數；八量程自動或(huo)手動測試；

6. 測量范圍寬： 電阻(zu)：10-4Ω～105Ω ；方阻(zu)：10-4Ω/□～105Ω/□；

7. 正(zheng)反向(xiang)電(dian)流源修正(zheng)測量電(dian)阻誤差

8. 恒(heng)流(liu)源(yuan)：電流(liu)量程分為(wei)： 1uA、10uA、100uA、1mA、10mA 、100mA六(liu)檔(dang)；儀器(qi)配有恒(heng)流(liu)源(yuan)開(kai)(kai)關可(ke)有效保護被測(ce)(ce)件，即先讓探針(zhen)頭(tou)壓(ya)觸在被測(ce)(ce)材料(liao)上，后開(kai)(kai)恒(heng)流(liu)源(yuan)開(kai)(kai)關，避免接觸瞬(shun)間(jian)打火(huo)。為(wei)了提高工作效率，如探針(zhen)帶電壓(ya)觸單(dan)晶對材料(liao)及(ji)測(ce)(ce)量并(bing)無影響(xiang)時，恒(heng)流(liu)源(yuan)開(kai)(kai)關可(ke)一直處于開(kai)(kai)的狀態(tai)。

9. 可配(pei)合(he)多(duo)種探頭(tou)進行測(ce)試(shi)；也可配(pei)合(he)多(duo)種測(ce)試(shi)臺進行測(ce)試(shi)。

10. 校正(zheng)功(gong)能：可手動(dong)(dong)或(huo)自(zi)動(dong)(dong)選擇測試(shi)量程(cheng) 全(quan)量程(cheng)自(zi)動(dong)(dong)清零(ling)。

11. 厚度可預設，自動修正樣品的電(dian)(dian)阻(zu)率(lv),無需查表即可計算出電(dian)(dian)阻(zu)率(lv)。

12. 自動進行(xing)電(dian)流換向(xiang),并(bing)進行(xing)正反向(xiang)電(dian)流下的電(dian)阻率(或方(fang)塊(kuai)電(dian)阻)測(ce)量,顯示平均值.測(ce)薄片時,可自動進行(xing)厚度修正。

13. 雙電測(ce)測(ce)試模式，測(ce)量精(jing)度高、穩定性(xing)好(hao).

14. 具備溫度(du)補(bu)償(chang)功能，修正被(bei)測材料(liao)溫漂帶來(lai)的測試結果偏差。

15. 比較(jiao)器判斷燈直接顯示，勿需查(cha)看(kan)屏幕，作業效率得以提高。

3檔分選(xuan)功(gong)能：超上(shang)限(xian)，合格，超下限(xian)，可(ke)對被(bei)測件進行HI/LOW判斷，可(ke)直接(jie)在(zai)LCD使用標志顯(xian)示；也(ye)可(ke)通(tong)過USB接(jie)口、RS232接(jie)口輸(shu)出(chu)更為(wei)詳細的分選(xuan)結果。

16. 測(ce)試模(mo)式(shi)：可連接(jie)電腦(nao)測(ce)試、也可不(bu)連接(jie)電腦(nao)單機(ji)測(ce)試。

17. 豐富的(de)接口(kou)，Handler接口(kou)、RS232接口(kou)、USB HOST、USB DEVICE。實現(xian)遠(yuan)程控(kong)制。U盤(pan)可記錄(lu)測試(shi)數據

雙電四探針測試儀恒(heng)(heng)流源電(dian)(dian)(dian) 流量(liang)(liang)(liang)程(cheng)(cheng)分(fen)為(wei)1μA、10μA、100μA、1mA、10mA、100mA六檔，各檔電(dian)(dian)(dian)流連續(xu)可(ke)(ke)調數(shu)(shu)字(zi)電(dian)(dian)(dian)壓(ya)表(biao)  量(liang)(liang)(liang)程(cheng)(cheng)及(ji)表(biao)示(shi)形式(shi)：000.00～199.99mV分(fen)辨力：10μV；輸(shu)入阻(zu)(zu)抗：>1000MΩ；精(jing)度：±0.1% ；顯(xian)示(shi)：四(si)位半紅色發光管數(shu)(shu)字(zi)顯(xian)示(shi)；極性(xing)、超量(liang)(liang)(liang)程(cheng)(cheng)自動(dong)(dong)(dong)顯(xian)示(shi)；四(si)探針(zhen)探頭(tou)基本(ben)(ben)指標(biao)  間距：1±0.01mm；概述：本(ben)(ben)品為(wei)解決(jue)四(si)探針(zhen)法測(ce)(ce)試(shi)(shi)超低阻(zu)(zu)材(cai)(cai)料(liao)方阻(zu)(zu)及(ji)電(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)率，最(zui)小可(ke)(ke)以(yi)測(ce)(ce)試(shi)(shi)到(dao)1uΩ方阻(zu)(zu)值，是(shi)目(mu)前同(tong)(tong)行(xing)業中能(neng)測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)到(dao)的(de)(de)(de)最(zui)小值，采(cai)用(yong)高精(jing)度AD芯片控(kong)(kong)制，恒(heng)(heng)流輸(shu)出，結構合理(li)、質(zhi)量(liang)(liang)(liang)輕便，運(yun)輸(shu)安全、使用(yong)方便；適用(yong)于生(sheng)產企業、高等(deng)(deng)院(yuan)校、科研部門，是(shi)檢驗和(he)分(fen)析(xi)導體材(cai)(cai)料(liao)和(he)半導體材(cai)(cai)料(liao)質(zhi)量(liang)(liang)(liang)的(de)(de)(de)一種(zhong)重要(yao)的(de)(de)(de)工(gong)具(ju)。本(ben)(ben)儀(yi)器配(pei)(pei)置(zhi)(zhi)各類測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)裝置(zhi)(zhi)可(ke)(ke)以(yi)測(ce)(ce)試(shi)(shi)不(bu)(bu)同(tong)(tong)材(cai)(cai)料(liao)。液(ye)晶(jing)(jing)(jing)顯(xian)示(shi)，無需人(ren)工(gong)計(ji)算，并(bing)帶有溫(wen)度補償功(gong)能(neng)，電(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)率單(dan)位自動(dong)(dong)(dong)選擇(ze)，儀(yi)器自動(dong)(dong)(dong)測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)并(bing)根據(ju)測(ce)(ce)試(shi)(shi)結果自動(dong)(dong)(dong)轉換量(liang)(liang)(liang)程(cheng)(cheng)，無需人(ren)工(gong)多(duo)次和(he)重復設(she)置(zhi)(zhi)。選配(pei)(pei)：配(pei)(pei)備軟件可(ke)(ke)以(yi)由電(dian)(dian)(dian)腦操(cao)控(kong)(kong)，并(bing)保(bao)存和(he)打印數(shu)(shu)據(ju)，自動(dong)(dong)(dong)生(sheng)成報(bao)表(biao)；本(ben)(ben)儀(yi)器采(cai)用(yong)4.3吋大(da)液(ye)晶(jing)(jing)(jing)屏幕顯(xian)示(shi)，同(tong)(tong)時顯(xian)示(shi)液(ye)晶(jing)(jing)(jing)顯(xian)示(shi)：電(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)、電(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)率、方阻(zu)(zu)、溫(wen)度、單(dan)位換算、溫(wen)度系數(shu)(shu)、電(dian)(dian)(dian)流、電(dian)(dian)(dian)壓(ya)、探針(zhen)形狀、探針(zhen)間距、厚度 、電(dian)(dian)(dian)導率，配(pei)(pei)置(zhi)(zhi)不(bu)(bu)同(tong)(tong)的(de)(de)(de)測(ce)(ce)試(shi)(shi)治(zhi)具(ju)可(ke)(ke)以(yi)滿(man)足不(bu)(bu)同(tong)(tong)材(cai)(cai)料(liao)的(de)(de)(de)測(ce)(ce)試(shi)(shi)要(yao)求。測(ce)(ce)試(shi)(shi)治(zhi)具(ju)可(ke)(ke)以(yi)根據(ju)產品及(ji)測(ce)(ce)試(shi)(shi)項目(mu)要(yao)求選購.運(yun)用(yong)直線或方形四(si)探針(zhen)雙(shuang)(shuang)位測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)。該儀(yi)器設(she)計(ji)符合單(dan)晶(jing)(jing)(jing)硅物理(li)測(ce)(ce)試(shi)(shi)方法國家(jia)標(biao)準并(bing)參(can)考美國 A.S.T.M 標(biao)準。利用(yong)電(dian)(dian)(dian)流探針(zhen)、電(dian)(dian)(dian)壓(ya)探針(zhen)的(de)(de)(de)變換，進行(xing)兩次電(dian)(dian)(dian)測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)，對數(shu)(shu)據(ju)進行(xing)雙(shuang)(shuang)電(dian)(dian)(dian)測(ce)(ce)分(fen)析(xi)，自動(dong)(dong)(dong)消除樣品幾(ji)何尺(chi)寸、邊界效應(ying)以(yi)及(ji)探針(zhen)不(bu)(bu)等(deng)(deng)距和(he)機械游移等(deng)(deng)因素(su)對測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)結果的(de)(de)(de)影響，它與單(dan)電(dian)(dian)(dian)測(ce)(ce)直線或方形四(si)探針(zhen)相比，大(da)大(da)提(ti)高精(jing)確度，特別是(shi)適用(yong)于斜置(zhi)(zhi)式(shi)四(si)探針(zhen)對于微區的(de)(de)(de)測(ce)(ce)試(shi)(shi)。