工頻介電常數介質損耗測試儀（液體）空洞共振腔適用于CCL/印刷線路板，薄膜等非破壞性低介電損耗材料量測。 印電路板主要由玻纖與環氧樹脂組成的, 玻纖介電常數為5~6, 樹脂大約是3, 由于樹脂含量, 硬化程度, 溶劑殘留等因素會造成介電特性的偏差, 傳統測量方法樣品制作不易, 尤其是薄膜樣品（ 小于 10 mil） 量測值偏低。工頻介電常數介質損耗測試儀（液體）可(ke)進(jin)(jin)一步(bu)了(le)(le)解影響介(jie)(jie)(jie)質(zhi)損(sun)耗(hao)和介(jie)(jie)(jie)電(dian)(dian)常(chang)數(shu)(shu)的(de)(de)各種(zhong)因素，為提高(gao)材料的(de)(de)性能提供(gong)依據；儀器(qi)(qi)(qi)(qi)的(de)(de)基(ji)本原理是采(cai)用(yong)高(gao)頻(pin)諧振(zhen)法，并提供(gong)了(le)(le)，通用(yong)、多用(yong)途、多量(liang)程的(de)(de)阻抗測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)。它以單片(pian)計算(suan)機作(zuo)為儀器(qi)(qi)(qi)(qi)的(de)(de)控制，測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)核心(xin)采(cai)用(yong)了(le)(le)頻(pin)率數(shu)(shu)字鎖定，標準頻(pin)率測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)點(dian)自動(dong)(dong)設定，諧振(zhen)點(dian)自動(dong)(dong)搜索，Q值量(liang)程自動(dong)(dong)轉換(huan)，數(shu)(shu)值顯示等(deng)新(xin)技術(shu)，改進(jin)(jin)了(le)(le)調(diao)諧回路(lu)(lu)，使得調(diao)諧測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)回路(lu)(lu)的(de)(de)殘余電(dian)(dian)感減至(zhi)zui低，并保留了(le)(le)原Q表中自動(dong)(dong)穩幅等(deng)技術(shu)，使得新(xin)儀器(qi)(qi)(qi)(qi)在使用(yong)時更為方便，測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)值更為精確。儀器(qi)(qi)(qi)(qi)能在較高(gao)的(de)(de)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)頻(pin)率條件下，測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)高(gao)頻(pin)電(dian)(dian)感或諧振(zhen)回路(lu)(lu)的(de)(de)Q值，電(dian)(dian)感器(qi)(qi)(qi)(qi)的(de)(de)電(dian)(dian)感量(liang)和分布電(dian)(dian)容(rong)量(liang)，電(dian)(dian)容(rong)器(qi)(qi)(qi)(qi)的(de)(de)電(dian)(dian)容(rong)量(liang)和損(sun)耗(hao)角正切值，電(dian)(dian)工材料的(de)(de)高(gao)頻(pin)介(jie)(jie)(jie)質(zhi)損(sun)耗(hao)，高(gao)頻(pin)回路(lu)(lu)有效(xiao)并聯及串聯電(dian)(dian)阻。

多重保(bao)護安全可(ke)靠儀器(qi)具備輸(shu)(shu)入(ru)電(dian)壓(ya)(ya)波動(dong)、高(gao)壓(ya)(ya)電(dian)流、輸(shu)(shu)出短(duan)路、電(dian)源(yuan)故(gu)障、過(guo)壓(ya)(ya)、過(guo)流、溫(wen)度等多重保(bao)護措施，保(bao)證了儀器(qi)安全、可(ke)靠。儀器(qi)還具備設(she)(she)置接(jie)地檢測(ce)功(gong)能，確(que)保(bao)不接(jie)地設(she)(she)備不允(yun)許(xu)升壓(ya)(ya)。

1、緊急停機(ji)按鈕及(ji)高壓指示燈

2、復位按鈕

3、USB接口

4、總電源開關

5、AC220V電(dian)源輸入插座

6、Cx：試品輸入插座

7、觸摸顯示屏

8、接地接線柱

9、ES自激輸出

10、打印機

11、高壓輸出HV插座(zuo)