四探針導電電阻測試儀豐富的接(jie)口(kou)，Handler接(jie)口(kou)、RS232接(jie)口(kou)、USB HOST、USB DEVICE。實現遠(yuan)程控制。U盤可(ke)記錄測試數據(ju)

技術參數：

1.電阻率：10-5～2×106Ω-cm
2.電   阻(zu)：10-5～2×106Ω

3.電導(dao)率：5×10-6～105ms/cm

4.分辨率： 小0.1μΩ測量誤差±（0.05%讀數±5字）

5.測(ce)量電壓量程： 2mV   20mV  200mV 2V 測(ce)量精度±（0.1%讀數）

6.分辨率：  0.1uV  1uV  10uV  100uV

7.電流輸出：直流電流 0～1000mA 連續可調，由交流電源供電。
量程：1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，1000mA, 誤差：±0.2%讀(du)數±2字(zi)

8.顯示(shi)方式(shi)：液晶顯示(shi)電阻值(zhi)、電阻率、電導率值(zhi)、溫度、壓強值(zhi)、單位(wei)自動換算

9.傳(chuan)感器壓力：200kg  (其他規(gui)格可以定制)

10.粉末測量裝置 模(mo)具：內(nei)徑10mm；高：25mm；

加(jia)壓(ya)(ya)方式：手(shou)動(dong)液壓(ya)(ya)加(jia)壓(ya)(ya)/自動(dong)加(jia)壓(ya)(ya)方式（選(xuan)購）

11.電源：220±10% 50HZ/60HZ

12.主機(ji)外形尺(chi)寸：330mm*350mm*120mm

13.凈重(zhong)量：約6kg

14.標(biao)配外選購(gou)：1）.標(biao)

導(dao)電電阻率測試(shi)儀(yi)功(gong)能介紹：本(ben)儀(yi)器(qi)(qi)采用四端測量(liang)法適用于(yu)碳素(su)粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金(jin)廠、高等院(yuan)校、科研部門，是(shi)檢驗和分析粉末樣品(pin)質量(liang)的一種重要(yao)的工具。本(ben)儀(yi)器(qi)(qi)采用4.3吋(cun)大液晶屏幕顯(xian)示，同(tong)時顯(xian)示電阻值(zhi)、電阻率、電導(dao)率值(zhi)、溫度、壓強值(zhi)、單位自(zi)動(dong)換算，配置(zhi)不同(tong)的測試(shi)治(zhi)具可以滿足不同(tong)材料的測試(shi)要(yao)求(qiu)。測試(shi)治(zhi)具可以根據(ju)產品(pin)及(ji)測試(shi)項(xiang)目要(yao)求(qiu)選購(gou).使用薄膜按鍵開關面(mian)板，操(cao)(cao)作簡單，耐用，符合(he)人體(ti)工學操(cao)(cao)作規(gui)范. 提供中(zhong)文或英文兩(liang)種語言操(cao)(cao)作界面(mian)

導電(dian)(dian)電(dian)(dian)阻(zu)(zu)率測試儀滿(man)足：YST 587.6-2006 炭陽(yang)極用(yong)煅(duan)后石(shi)油焦檢測方法(fa) 第6部分 粉末電(dian)(dian)阻(zu)(zu)率的(de)測定

配置手動粉(fen)末測(ce)(ce)試裝(zhuang)置也可以(yi)（選購(gou)）自動粉(fen)末測(ce)(ce)試裝(zhuang)置，測(ce)(ce)試粉(fen)末時可以(yi)通過裝(zhuang)置獲得(de)粉(fen)末壓(ya)實(shi)后(hou)(hou)高度、直徑、壓(ya)強等數(shu)據，輸入儀器后(hou)(hou)自動計(ji)算出(chu)所需數(shu)據.能方便(bian)解決粉(fen)末及(ji)顆粒物料電阻、電阻率及(ji)電導(dao)率測(ce)(ce)量需求(qiu)，經濟實(shi)惠，功能突出(chu)，設計(ji)合理(li)，是粉(fen)末行業(ye)理(li)想之測(ce)(ce)試儀器.

BEST-300C導電(dian)材料電(dian)阻率測定儀

按(an)照硅(gui)(gui)(gui)片電(dian)(dian)阻率測(ce)量(liang)(liang)的(de)國(guo)(guo)際標準（ASTM F84）及(ji)標準設計制造該儀(yi)器設計符合GB/T 1551-2009 《硅(gui)(gui)(gui)單(dan)晶電(dian)(dian)阻率測(ce)定方(fang)法》、GB/T 1551-1995《硅(gui)(gui)(gui)、鍺(zang)單(dan)晶電(dian)(dian)阻率測(ce)定直流兩(liang)探(tan)針(zhen)(zhen)法》、GB/T 1552-1995《硅(gui)(gui)(gui)、鍺(zang)單(dan)晶電(dian)(dian)阻率測(ce)定直流四(si)探(tan)針(zhen)(zhen)法》并參考美國(guo)(guo) A.S.T.M 標準，本機(ji)配置(zhi)232電(dian)(dian)腦接(jie)口(kou)及(ji)USB兩(liang)種接(jie)口(kou)，本機(ji)采用范德堡測(ce)量(liang)(liang)原(yuan)理(li)能改善樣品(pin)因幾何(he)尺(chi)寸、邊(bian)界效(xiao)應、探(tan)針(zhen)(zhen)不(bu)等距(ju)和機(ji)械游(you)移等外部因素對測(ce)量(liang)(liang)結(jie)果(guo)的(de)影響及(ji)誤差，比市場上(shang)其他普通的(de)四(si)探(tan)針(zhen)(zhen)測(ce)試方(fang)法更加完善和進步,特別是方(fang)塊電(dian)(dian)阻值較小(xiao)的(de)產品(pin)測(ce)量(liang)(liang)，更加準確(que).

本儀器(qi)(qi)本儀器(qi)(qi)采(cai)(cai)用(yong)四探(tan)(tan)針(zhen)單(dan)電(dian)測(ce)(ce)(ce)量(liang)法適用(yong)于生產企業(ye)、高等院校、科研部門，是檢驗和(he)分(fen)析導體(ti)材(cai)料(liao)(liao)和(he)半導體(ti)材(cai)料(liao)(liao)質量(liang)的(de)一(yi)種(zhong)重要(yao)的(de)工(gong)(gong)具。本儀器(qi)(qi)配(pei)(pei)(pei)置各類測(ce)(ce)(ce)量(liang)裝置可以(yi)測(ce)(ce)(ce)試(shi)不(bu)同材(cai)料(liao)(liao)。液(ye)晶顯(xian)示，無需人(ren)工(gong)(gong)計算，并帶有(you)溫(wen)度(du)補(bu)償功能(neng)，電(dian)阻(zu)(zu)(zu)率(lv)單(dan)位(wei)(wei)自(zi)(zi)動選擇，儀器(qi)(qi)自(zi)(zi)動測(ce)(ce)(ce)量(liang)并根據測(ce)(ce)(ce)試(shi)結(jie)果自(zi)(zi)動轉換(huan)量(liang)程(cheng)，無需人(ren)工(gong)(gong)多次和(he)重復(fu)設置。采(cai)(cai)用(yong)高精(jing)度(du)AD芯片控制，恒(heng)流(liu)輸出，結(jie)構合(he)理、質量(liang)輕便(bian)，運輸安全、使用(yong)方便(bian)；選配(pei)(pei)(pei)：配(pei)(pei)(pei)備軟件可以(yi)由電(dian)腦操控，并保存(cun)和(he)打(da)印數(shu)據，自(zi)(zi)動生成報表；本儀器(qi)(qi)采(cai)(cai)用(yong)4.3吋大液(ye)晶屏幕顯(xian)示，同時顯(xian)示液(ye)晶顯(xian)示：電(dian)阻(zu)(zu)(zu)、電(dian)阻(zu)(zu)(zu)率(lv)、方阻(zu)(zu)(zu)、溫(wen)度(du)、單(dan)位(wei)(wei)換(huan)算、溫(wen)度(du)系數(shu)、電(dian)流(liu)、電(dian)壓、探(tan)(tan)針(zhen)形狀(zhuang)、探(tan)(tan)針(zhen)間距(ju)、厚(hou)度(du) 、電(dian)導率(lv)，配(pei)(pei)(pei)置不(bu)同的(de)測(ce)(ce)(ce)試(shi)治具可以(yi)滿足不(bu)同材(cai)料(liao)(liao)的(de)測(ce)(ce)(ce)試(shi)要(yao)求(qiu)。測(ce)(ce)(ce)試(shi)治具可以(yi)根據產品及測(ce)(ce)(ce)試(shi)項目(mu)要(yao)求(qiu)選購

四探針導電電阻測試儀校正(zheng)(zheng)功(gong)能：可(ke)手動(dong)(dong)或自(zi)動(dong)(dong)選擇測(ce)(ce)(ce)試量(liang)程(cheng) 全量(liang)程(cheng)自(zi)動(dong)(dong)清零。厚度(du)(du)可(ke)預設，自(zi)動(dong)(dong)修(xiu)正(zheng)(zheng)樣品的(de)(de)電(dian)阻(zu)率,無需查表即可(ke)計算出電(dian)阻(zu)率。自(zi)動(dong)(dong)進(jin)行(xing)電(dian)流換向(xiang),并進(jin)行(xing)正(zheng)(zheng)反向(xiang)電(dian)流下(xia)的(de)(de)電(dian)阻(zu)率(或方塊電(dian)阻(zu))測(ce)(ce)(ce)量(liang),顯示平均值.測(ce)(ce)(ce)薄片時,可(ke)自(zi)動(dong)(dong)進(jin)行(xing)厚度(du)(du)修(xiu)正(zheng)(zheng)。雙(shuang)電(dian)測(ce)(ce)(ce)測(ce)(ce)(ce)試模式(shi)，測(ce)(ce)(ce)量(liang)精度(du)(du)高、穩定性好.具備溫度(du)(du)補(bu)償功(gong)能，修(xiu)正(zheng)(zheng)被測(ce)(ce)(ce)材料溫漂帶來的(de)(de)測(ce)(ce)(ce)試結(jie)果偏差