玻璃鍍膜表面電阻測試儀體積電(dian)阻率能(neng)(neng)被用作選擇特定用途(tu)絕(jue)緣材料的一(yi)個參數。電(dian)阻率隨(sui)溫度和濕度的變化而顯著變化,因此在為一(yi)些運行條(tiao)件而設計時必須對其了解。體積電(dian)阻率的測量(liang)常被用于檢(jian)查絕(jue)緣材料生(sheng)產是否始終如一(yi),或(huo)檢(jian)測能(neng)(neng)影響(xiang)材料質量(liang)而又不(bu)能(neng)(neng)用其他(ta)方(fang)法檢(jian)測到(dao)的導(dao)電(dian)雜質。 

玻璃鍍膜表面電阻測試儀技術指標

1、電阻(zu)測(ce)量(liang)范圍: 1×104Ω ～1×1018Ω。

2、電流測(ce)量范圍為: 2×10-4A～1×10-16A

3、顯(xian) 示 方 式:數字彩屏(ping)觸摸顯(xian)示 

4、內(nei)置(zhi)測試電壓: 10V 、50V、100V、250、500、1000V

5、基本(ben)準確度:1%  

6、使用環境: 溫度:0℃～40℃,相對濕度<80%

7、機(ji)內(nei)測試電壓: 10V/50V/100/250/500/1000V 任意(yi)切換(huan)

8、供電形式: AC 220V,50HZ,功耗約5W

9、顯示類別:電(dian)阻(zu)、電(dian)阻(zu)率、電(dian)流(liu)。

10、輸入方(fang)式:真彩64位(wei)手寫觸摸。

11、顯(xian)示結(jie)果:電(dian)阻(zu)、電(dian)阻(zu)率(lv)、電(dian)流。

12、儀器特點(dian):所有(you)測(ce)試(shi)(shi)電(dian)(dian)壓(ya)(10V/50V/100/250/500/1000V) 測(ce)試(shi)(shi)時電(dian)(dian)阻(zu)與(yu)電(dian)(dian)阻(zu)率結果直(zhi)讀,免去老(lao)式高(gao)阻(zu)計(ji)在不(bu)同(tong)(tong)測(ce)試(shi)(shi)電(dian)(dian)壓(ya)下或不(bu)同(tong)(tong)量程時要(yao)乘以系(xi)數等(deng)使用不(bu)便的麻(ma)煩。既能測(ce)超高(gao)電(dian)(dian)阻(zu)又能測(ce)微電(dian)(dian)流還可以直(zhi)接測(ce)得電(dian)(dian)阻(zu)率。

體積電阻(zu)率(lv)測定儀測量技(ji)術 

a.通常,絕緣(yuan)材(cai)料(liao)用于電氣系統的(de)各部件(jian)相互絕緣(yuan)和(he)對(dui)地絕緣(yuan),固體絕緣(yuan)材(cai)料(liao)還起機(ji)械支撐(cheng)作用。一(yi)般(ban)希望材(cai)料(liao)有(you)盡可能(neng)高的(de)絕緣(yuan)電阻,并具有(you)合適的(de)機(ji)械、化學和(he)耐熱(re)性能(neng)。

b.絕緣(yuan)材料的(de)電阻率(lv)一般都(dou)很(hen)高(gao),也就是傳導電流(liu)很(hen)小。如果不(bu)注意外界因素的(de)干擾和(he)漏(lou)電流(liu)的(de)影響(xiang),測(ce)量結果就會(hui)發生(sheng)很(hen)大的(de)誤差。同時絕緣(yuan)材料本身的(de)吸(xi)濕性和(he)環境(jing)條件的(de)變化(hua)對測(ce)量結果也有很(hen)大影響(xiang)。

c.影響(xiang)(xiang)體(ti)(ti)積(ji)電阻(zu)率(lv)和(he)表面(mian)電阻(zu)率(lv)測(ce)試(shi)的(de)主要因(yin)素是溫度和(he)濕(shi)度、電場強度、充電時間(jian)及殘余電荷(he)等(deng)。體(ti)(ti)積(ji)電阻(zu)率(lv)可作為選擇(ze)絕(jue)緣材(cai)(cai)料(liao)的(de)一個參數,電阻(zu)率(lv)隨(sui)溫度和(he)濕(shi)度的(de)變(bian)化而顯著變(bian)化。體(ti)(ti)積(ji)電阻(zu)率(lv)的(de)測(ce)量常常用(yong)來檢(jian)查(cha)絕(jue)緣材(cai)(cai)料(liao)是否均(jun)勻(yun),或者用(yong)來檢(jian)測(ce)那些(xie)能影響(xiang)(xiang)材(cai)(cai)料(liao)質量而又不能用(yong)其他(ta)方(fang)法檢(jian)測(ce)到(dao)的(de)導電雜質。

d.由于體積(ji)電(dian)阻(zu)總是要(yao)被或多或少地(di)(di)包括到表(biao)面(mian)電(dian)阻(zu)的(de)(de)(de)測試中去,因此只能(neng)近似地(di)(di)測量(liang)表(biao)面(mian)電(dian)阻(zu),測得的(de)(de)(de)表(biao)面(mian)電(dian)阻(zu)值主(zhu)要(yao)反(fan)映被測試樣表(biao)面(mian)污染(ran)的(de)(de)(de)程度(du)。所以,表(biao)面(mian)電(dian)阻(zu)率不(bu)是表(biao)征(zheng)材料本身特(te)性(xing)的(de)(de)(de)參數,而是一個有關材料表(biao)面(mian)污染(ran)特(te)性(xing)的(de)(de)(de)參數。當表(biao)面(mian)電(dian)阻(zu)較高(gao)時,它(ta)常隨時間以不(bu)規(gui)則的(de)(de)(de)方(fang)式變化。測量(liang)表(biao)面(mian)電(dian)阻(zu)通(tong)常都規(gui)定(ding)1min的(de)(de)(de)電(dian)化時間。 

(1)溫(wen)(wen)度和濕(shi)度:固體(ti)絕緣材料的(de)(de)(de)絕緣電阻(zu)率(lv)(lv)隨溫(wen)(wen)度和濕(shi)度的(de)(de)(de)升高而降低,特(te)別是體(ti)積(ji)電阻(zu)率(lv)(lv)隨溫(wen)(wen)度改(gai)變而變化非常大(da)。因此,電瓷材料不但要測(ce)定(ding)常溫(wen)(wen)下的(de)(de)(de)體(ti)積(ji)電阻(zu)率(lv)(lv),而且(qie)還要測(ce)定(ding)高溫(wen)(wen)下的(de)(de)(de)體(ti)積(ji)電阻(zu)率(lv)(lv),以評定(ding)其絕緣性能的(de)(de)(de)好壞。由于水(shui)的(de)(de)(de)電導大(da),隨著濕(shi)度增大(da),表面電阻(zu)率(lv)(lv)和有開口孔隙(xi)的(de)(de)(de)電瓷材料的(de)(de)(de)體(ti)積(ji)電阻(zu)率(lv)(lv)急劇(ju)下降。因此,測(ce)定(ding)時應嚴格地(di)按照(zhao)規定(ding)的(de)(de)(de)試樣處理要求和測(ce)試的(de)(de)(de)環境條件下進行。

(2)電(dian)(dian)(dian)場(chang)(chang)強(qiang)(qiang)度(du):當電(dian)(dian)(dian)場(chang)(chang)強(qiang)(qiang)度(du)比較高時,離子的遷(qian)移率隨電(dian)(dian)(dian)場(chang)(chang)強(qiang)(qiang)度(du)增高而增大,而且在接(jie)近擊穿時還會出現大量的電(dian)(dian)(dian)子遷(qian)移,這時體(ti)積電(dian)(dian)(dian)阻(zu)率大大地降低(di)。因此(ci)在測定時,施(shi)加的電(dian)(dian)(dian)壓(ya)應不(bu)超過規定的值。

(3)殘余電荷(he):試(shi)樣在加工(gong)和測試(shi)等過程(cheng)中,可能(neng)產(chan)生(sheng)靜電,電阻越(yue)高越(yue)容易產(chan)生(sheng)靜電,影響(xiang)測量(liang)的準確(que)性。因此,在測量(liang)時,試(shi)樣要*放(fang)電,即可將幾(ji)個電極(ji)連在一起進行短路。

(4)雜(za)(za)散(san)電(dian)勢(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)的(de)(de)消除:在絕緣電(dian)阻(zu)測(ce)量(liang)電(dian)路中(zhong),可(ke)能(neng)存在某(mou)些(xie)雜(za)(za)散(san)電(dian)勢(shi)(shi)(shi)(shi)(shi),如熱電(dian)勢(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)、電(dian)解(jie)(jie)電(dian)勢(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)、接觸電(dian)勢(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)等,其中(zhong)影響最大的(de)(de)為電(dian)解(jie)(jie)電(dian)勢(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)。用高阻(zu)計測(ce)量(liang)表面潮濕的(de)(de)試樣的(de)(de)體積電(dian)阻(zu)時,測(ce)量(liang)極與保護極間可(ke)產(chan)生20mv的(de)(de)電(dian)勢(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)。試驗前應(ying)檢查(cha)有(you)無(wu)雜(za)(za)散(san)電(dian)勢(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)。可(ke)根據(ju)試樣加壓前后高阻(zu)計的(de)(de)二次(ci)指示是否相同(tong)來判斷有(you)無(wu)雜(za)(za)散(san)電(dian)勢(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)。如相同(tong),證明無(wu)雜(za)(za)散(san)電(dian)勢(shi)(shi)(shi)(shi)(shi);否則應(ying)當(dang)尋找并排除產(chan)生雜(za)(za)散(san)電(dian)勢(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)的(de)(de)根源(yuan),才(cai)能(neng)進行測(ce)量(liang)。

(5)防止漏(lou)(lou)電(dian)(dian)(dian)流(liu)的(de)影響(xiang)(xiang):對(dui)于(yu)高電(dian)(dian)(dian)阻(zu)材料,只有采取保(bao)護技術才(cai)能去(qu)除(chu)漏(lou)(lou)電(dian)(dian)(dian)流(liu)對(dui)測(ce)量(liang)(liang)(liang)的(de)影響(xiang)(xiang)。保(bao)護技術就(jiu)是在(zai)(zai)引起測(ce)量(liang)(liang)(liang)誤差的(de)漏(lou)(lou)電(dian)(dian)(dian)路徑上安置保(bao)護導體(ti),截住(zhu)可(ke)能引起測(ce)量(liang)(liang)(liang)誤差的(de)雜散(san)電(dian)(dian)(dian)流(liu),使之不流(liu)經測(ce)量(liang)(liang)(liang)回路或儀表。保(bao)護導體(ti)連接(jie)在(zai)(zai)一起構成保(bao)護端,通常保(bao)護端接(jie)地。測(ce)量(liang)(liang)(liang)體(ti)積(ji)電(dian)(dian)(dian)阻(zu)時(shi),三電(dian)(dian)(dian)極系(xi)統的(de)保(bao)護極就(jiu)是保(bao)護導體(ti)。此時(shi)要(yao)求(qiu)保(bao)護電(dian)(dian)(dian)極和測(ce)量(liang)(liang)(liang)電(dian)(dian)(dian)極間的(de)試(shi)樣(yang)(yang)表面電(dian)(dian)(dian)阻(zu)高于(yu)與(yu)它并(bing)聯元件的(de)電(dian)(dian)(dian)阻(zu)10～100倍。線(xian)路接(jie)好(hao)后,應(ying)首先(xian)檢(jian)查是否存在(zai)(zai)漏(lou)(lou)電(dian)(dian)(dian)。此時(shi)斷開(kai)與(yu)試(shi)樣(yang)(yang)連接(jie)的(de)高壓(ya)線(xian),加上電(dian)(dian)(dian)壓(ya)。如在(zai)(zai)測(ce)量(liang)(liang)(liang)靈敏度范圍內,測(ce)量(liang)(liang)(liang)儀器指示的(de)電(dian)(dian)(dian)阻(zu)值(zhi)為無限大,則線(xian)路無漏(lou)(lou)電(dian)(dian)(dian),可(ke)進行測(ce)量(liang)(liang)(liang)。

(6)條(tiao)件(jian)(jian)處(chu)(chu)理(li)和(he)測(ce)(ce)(ce)試(shi)條(tiao)件(jian)(jian)的(de)規(gui)定(ding):固(gu)(gu)體絕(jue)緣材料(liao)的(de)電阻(zu)隨溫(wen)度(du)(du)、濕度(du)(du)的(de)增加而下降。試(shi)樣的(de)預(yu)(yu)(yu)處(chu)(chu)理(li)條(tiao)件(jian)(jian)取(qu)決于被測(ce)(ce)(ce)材料(liao),這些條(tiao)件(jian)(jian)在(zai)(zai)材料(liao)規(gui)范中規(gui)定(ding)。推薦使(shi)用GB10580《固(gu)(gu)體絕(jue)緣材料(liao)在(zai)(zai)試(shi)驗前和(he)試(shi)驗時(shi)(shi)采用的(de)標準條(tiao)件(jian)(jian)》中規(gui)定(ding)的(de)預(yu)(yu)(yu)處(chu)(chu)理(li)方法。可使(shi)用甘油—水(shui)溶液(ye)潮濕箱進行濕度(du)(du)預(yu)(yu)(yu)處(chu)(chu)理(li)。測(ce)(ce)(ce)試(shi)條(tiao)件(jian)(jian)應與預(yu)(yu)(yu)處(chu)(chu)理(li)條(tiao)件(jian)(jian)盡(jin)可能(neng)地一致(zhi),有些時(shi)(shi)候(如浸水(shui)處(chu)(chu)理(li))不能(neng)保(bao)持(chi)預(yu)(yu)(yu)處(chu)(chu)理(li)條(tiao)件(jian)(jian)和(he)測(ce)(ce)(ce)試(shi)條(tiao)件(jian)(jian)一致(zhi)時(shi)(shi),則應在(zai)(zai)從預(yu)(yu)(yu)處(chu)(chu)理(li)環境中取(qu)出后在(zai)(zai)盡(jin)可能(neng)短時(shi)(shi)間內完成(cheng)測(ce)(ce)(ce)試(shi),一般不超過5分鐘。

(7)電(dian)(dian)(dian)(dian)化(hua)(hua)時(shi)(shi)(shi)(shi)間的(de)(de)規定(ding):當直流(liu)電(dian)(dian)(dian)(dian)壓加到(dao)與(yu)試樣(yang)接觸的(de)(de)兩電(dian)(dian)(dian)(dian)極(ji)(ji)(ji)間時(shi)(shi)(shi)(shi),通過(guo)(guo)試樣(yang)的(de)(de)電(dian)(dian)(dian)(dian)流(liu)會指數式(shi)地(di)衰減(jian)(jian)到(dao)一個穩定(ding)值。電(dian)(dian)(dian)(dian)流(liu)隨時(shi)(shi)(shi)(shi)間的(de)(de)減(jian)(jian)小(xiao)(xiao)可能(neng)是由于(yu)電(dian)(dian)(dian)(dian)介(jie)質(zhi)極(ji)(ji)(ji)化(hua)(hua)和可動(dong)離子位移到(dao)電(dian)(dian)(dian)(dian)極(ji)(ji)(ji)所致。對(dui)于(yu)體積(ji)電(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)(zu)率(lv)小(xiao)(xiao)于(yu)1010Ω·m的(de)(de)材(cai)(cai)料,其穩定(ding)狀態通常(chang)在1分(fen)鐘內達到(dao)。因此,要經過(guo)(guo)這個電(dian)(dian)(dian)(dian)化(hua)(hua)時(shi)(shi)(shi)(shi)間后測(ce)(ce)定(ding)電(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)(zu)。對(dui)于(yu)電(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)(zu)率(lv)較高(gao)的(de)(de)材(cai)(cai)料,電(dian)(dian)(dian)(dian)流(liu)減(jian)(jian)小(xiao)(xiao)的(de)(de)過(guo)(guo)程可能(neng)會持(chi)續(xu)幾(ji)分(fen)鐘、幾(ji)小(xiao)(xiao)時(shi)(shi)(shi)(shi)、幾(ji)天,因此需(xu)要用較長的(de)(de)電(dian)(dian)(dian)(dian)化(hua)(hua)時(shi)(shi)(shi)(shi)間。如果需(xu)要的(de)(de)話,可用體積(ji)電(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)(zu)率(lv)與(yu)時(shi)(shi)(shi)(shi)間的(de)(de)關系來描述材(cai)(cai)料的(de)(de)特(te)性。當表(biao)面電(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)(zu)較高(gao)時(shi)(shi)(shi)(shi),它常(chang)隨時(shi)(shi)(shi)(shi)間以不(bu)規則的(de)(de)方式(shi)變化(hua)(hua)。測(ce)(ce)量(liang)表(biao)面電(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)(zu)通常(chang)都規定(ding)1分(fen)鐘的(de)(de)電(dian)(dian)(dian)(dian)化(hua)(hua)時(shi)(shi)(shi)(shi)間。

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