硅膠片表面體積電阻測試儀導電銀漆

某些高(gao)導電(dian)率的(de)(de)(de)(de)(de)(de)商品銀漆(qi),無論是氣干的(de)(de)(de)(de)(de)(de)或(huo)低溫烘干的(de)(de)(de)(de)(de)(de),是足(zu)夠疏松的(de)(de)(de)(de)(de)(de)、能透過濕(shi)氣,因此可(ke)在加上 電(dian)極(ji)(ji)(ji)(ji)后(hou)對試樣進行條件處理。這種特(te)點特(te)別適合研究電(dian)阻-……濕(shi)氣效應以(yi)及電(dian)阻隨(sui)溫度的(de)(de)(de)(de)(de)(de)變化。然 而,在導電(dian)漆(qi)被用(yong)作一種電(dian)極(ji)(ji)(ji)(ji)材料以(yi)前,應證實漆(qi)中的(de)(de)(de)(de)(de)(de)溶劑不影(ying)響試樣的(de)(de)(de)(de)(de)(de)電(dian)性能。用(yong)精(jing)巧的(de)(de)(de)(de)(de)(de)毛(mao)刷可(ke)做到 使保護電(dian)極(ji)(ji)(ji)(ji)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)邊緣相當光滑。但(dan)對于(yu)圓(yuan)電(dian)極(ji)(ji)(ji)(ji),可(ke)先用(yong)圓(yuan)規畫出(chu)電(dian)極(ji)(ji)(ji)(ji)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)輪廊(lang),然后(hou)用(yong)刷子來涂滿內部(bu)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)方 法來獲得精(jing)細的(de)(de)(de)(de)(de)(de)邊緣。如(ru)電(dian)極(ji)(ji)(ji)(ji)漆(qi)是用(yong)噴(pen)槍噴(pen)上去(qu)的(de)(de)(de)(de)(de)(de),則可(ke)采用(yong)固定模框。

噴鍍(du)金屬

可(ke)(ke)使用能滿意地粘合在試樣(yang)上的(de)噴(pen)鍍(du)金(jin)屬。薄的(de)噴(pen)鍍(du)電極(ji)(ji)(ji)的(de)優點是一旦(dan)噴(pen)在試樣(yang)上便(bian)可(ke)(ke)立即使 用。這種(zhong)電極(ji)(ji)(ji)或許(xu)是足夠疏(shu)松的(de),可(ke)(ke)允許(xu)對試樣(yang)進行條件處理,但這一特點應被證(zheng)實(shi).固定的(de)模框可(ke)(ke)用 來制取被保護電極(ji)(ji)(ji)與保護電極(ji)(ji)(ji)之間(jian)的(de)間(jian)隙。

硅膠片表面體積電阻測試儀

技術指標

1、電(dian)阻(zu)測量范圍: 1×104Ω ～1×1018Ω。

2、電流測(ce)量范圍為: 2×10-4A～1×10-16A

3、顯(xian) 示 方 式:數字彩(cai)屏(ping)觸摸(mo)顯(xian)示 

4、內置測(ce)試電(dian)壓: 10V 、50V、100V、250、500、1000V

5、基本準確度(du):1% (*注)

6、使用環境: 溫度(du):0℃～40℃,相(xiang)對濕(shi)度(du)<80%

7、機內測(ce)試電壓(ya): 10V/50V/100/250/500/1000V 任意切換

8、供電形式: AC 220V,50HZ,功耗約5W

9、顯示類別:電阻、電阻率、電流。

10、輸(shu)入方式:真彩(cai)64位(wei)手寫(xie)觸摸(mo)。

11、顯示結(jie)果:電阻(zu)、電阻(zu)率、電流(liu)。

12、試樣要求:建議直徑為100mm(試樣小(xiao)于50mm,電極需(xu)定(ding)做)

固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率
試驗方法

1范圍

本標準規(gui)定了(le)固(gu)體絕緣材料(liao)(liao)體積電(dian)阻(zu)率和(he)表(biao)面(mian)電(dian)阻(zu)率的試(shi)驗方法。這些試(shi)驗方法包括對固(gu)體絕緣 材料(liao)(liao)體積電(dian)阻(zu)和(he)表(biao)面(mian)電(dian)阻(zu)的測定程序及體積電(dian)阻(zu)率和(he)表(biao)面(mian)電(dian)阻(zu)率的計算方法。

體積電阻和(he)表面(mian)電阻的(de)(de)試驗都受到下列因素影響:施加(jia)電壓的(de)(de)大(da)小(xiao)和(he)時間;電極的(de)(de)性(xing)質(zhi)和(he)尺(chi)寸;在 試樣處理和(he)測試過(guo)程中(zhong)周(zhou)圍(wei)大(da)氣條件和(he)試樣的(de)(de)溫度、濕度。

2規范性引用文件

下列(lie)文件(jian)中(zhong)的(de)(de)(de)條(tiao)款(kuan)通過本標(biao)準(zhun)的(de)(de)(de)引(yin)(yin)用而成為本標(biao)準(zhun)的(de)(de)(de)條(tiao)款(kuan)。凡是注日(ri)期的(de)(de)(de)引(yin)(yin)用文件(jian),其(qi)(qi)隨后所有 的(de)(de)(de)修(不(bu)包括勘誤(wu)的(de)(de)(de)內容)或修訂版均不(bu)適(shi)用于本標(biao)準(zhun),然而,鼓勵根(gen)據本標(biao)準(zhun)達(da)成協議的(de)(de)(de)各方研究 是否可(ke)使用這些文件(jian)的(de)(de)(de)最(zui)(zui)新版本。凡是不(bu)注日(ri)期的(de)(de)(de)引(yin)(yin)用文件(jian),其(qi)(qi)最(zui)(zui)新版本適(shi)用于本標(biao)準(zhun)。

GB/T 10064—2006 測定固體絕緣(yuan)材(cai)料絕緣(yuan)電阻的試驗方法(fa)(IEC 60167 : 1964 JDT)

GB/T 10580—2003 固體絕緣材料在試(shi)驗(yan)前和試(shi)驗(yan)時(shi)采用的標準條件(IEC 60212 : 1971,IDT)

IEC 60260 = 1968非注入式(shi)恒定(ding)相對濕度的(de)試驗箱

3定義(yi)

下列定義適(shi)用于本(ben)標準(zhun)。

3. 1

體積電(dian)阻 volume resistance

在(zai)試樣兩(liang)相對表面上放置的兩(liang)電(dian)(dian)(dian)(dian)極間所加直流電(dian)(dian)(dian)(dian)壓與流過(guo)這兩(liang)個電(dian)(dian)(dian)(dian)極之間的穩態電(dian)(dian)(dian)(dian)流之商,不包 括沿試樣表面的電(dian)(dian)(dian)(dian)流,在(zai)兩(liang)電(dian)(dian)(dian)(dian)極上可能形成的極化忽略不計。

注:除非(fei)另有規定(ding)(ding),體積電(dian)阻是在電(dian)化一分鐘后測(ce)定(ding)(ding)。

3.2 .

體(ti)積電阻率 volume resistivity

在絕緣(yuan)材料里面的直流(liu)電場強度(du)和穩態電流(liu)密度(du)之商,即單位體積內的體積電阻。

注:體積電阻率的(de)SI單位是￡1 • mo實際上也(ye)使用0 • cm這一(yi)單位。

3. 3

表面電阻 surface resistance

在試樣的其表面上(shang)的兩(liang)(liang)電極間所加電壓與在規(gui)定的電化時間里流過兩(liang)(liang)電極間的電流之商,在兩(liang)(liang)電 極上(shang)可能形(xing)成的極化忽略不計。

注1:除非另(ling)有規定,表面電阻(zu)是(shi)在電化(hua)一(yi)分(fen)鐘后測定。

注2:通常電流(liu)主要流(liu)過(guo)試(shi)樣的一個表面層,但也包(bao)括流(liu)過(guo)試(shi)樣體(ti)積內的成分。

3.4

表(biao)面(mian)電阻率 surface resistivity

在絕(jue)緣材料的(de)表面層里(li)的(de)直流(liu)電場強度與(yu)線電流(liu)密度之商,即單位面積內的(de)表面電阻。面積的(de)大(da) 小是不重要的(de)。

注:表(biao)面電阻(zu)率的SI單位(wei)是Q。實(shi)際上(shang)有時(shi)也用“歐每平方單位(wei)"來表(biao)示。

3.5

電極 electrodes

電(dian)極(ji)是(shi)具有(you)一(yi)定形狀、尺(chi)寸和(he)結構的與被測試樣相接觸的導體。

注:絕(jue)緣電阻(zu)是(shi)加在與試樣(yang)相接(jie)觸的(de)兩電極之(zhi)間(jian)的(de)直流電壓(ya)與通過(guo)兩電極的(de)總電流之(zhi)商。絕(jue)緣電阻(zu)取決于試樣(yang)的(de) 表面電阻(zu)和體積(ji)電阻(zu)(見GB/T 10064—2006).

4意義

4. 1通常,絕緣材(cai)料用于(yu)將電(dian)氣系統的(de)各(ge)部件相互絕緣和對地(di)絕緣;固儕絕緣材(cai)料還起機械支(zhi)撐作用。 對于(yu)這些用途(tu),一(yi)般都希(xi)望(wang)材(cai)料具有盡可能高的(de)絕緣電(dian)阻(zu),有均勻一(yi)致的(de)、得到認可的(de)機械、化學和耐熱 性能。表面電(dian)阻(zu)隨濕度(du)變化很快,而體積電(dian)阻(zu)隨溫(wen)度(du)變化卻很慢,盡管(guan)其最終的(de)變化也(ye)許較大。

4.2體(ti)積電阻(zu)(zu)率(lv)(lv)能(neng)被(bei)(bei)用作選擇特定用途絕(jue)緣材料(liao)的(de)一個參數。電阻(zu)(zu)率(lv)(lv)隨溫度和濕度的(de)變化(hua)(hua)而(er)顯著變 化(hua)(hua),因此在為一些運行條件(jian)而(er)設計時必(bi)須對(dui)其了解。體(ti)積電阻(zu)(zu)率(lv)(lv)的(de)測(ce)量常被(bei)(bei)用于檢査(cha)絕(jue)緣材料(liao)生(sheng)產(chan)是(shi) 否始終如一,或檢測(ce)能(neng)影響材料(liao)質(zhi)量而(er)又不能(neng)用其他(ta)方(fang)法(fa)檢測(ce)到的(de)導(dao)電雜質(zhi)。

4.3當一直(zhi)流(liu)(liu)電(dian)(dian)壓加在(zai)與(yu)(yu)試樣相(xiang)接觸(chu)的兩電(dian)(dian)極之間(jian)(jian)(jian)(jian)時(shi),通(tong)(tong)過(guo)試樣的電(dian)(dian)流(liu)(liu)會(hui)漸近地減小(xiao)到(dao)(dao)(dao)一個穩定值。 電(dian)(dian)流(liu)(liu)隨時(shi)間(jian)(jian)(jian)(jian)的減小(xiao)可能(neng)是由于(yu)電(dian)(dian)介質(zhi)極化和可動離子位移到(dao)(dao)(dao)電(dian)(dian)極所致。對(dui)于(yu)體(ti)積(ji)電(dian)(dian)阻(zu)(zu)率小(xiao)于(yu) 1010 Q • m的材(cai)料(liao),其穩定狀態通(tong)(tong)常在(zai)一分鐘(zhong)內達到(dao)(dao)(dao),因此(ci),經(jing)過(guo)這個電(dian)(dian)化時(shi)間(jian)(jian)(jian)(jian)后測(ce)定電(dian)(dian)阻(zu)(zu)。對(dui)于(yu)體(ti)積(ji)電(dian)(dian) 阻(zu)(zu)率較高的材(cai)料(liao),電(dian)(dian)流(liu)(liu)減小(xiao)的過(guo)程可能(neng)會(hui)持(chi)續到(dao)(dao)(dao)幾(ji)分鐘(zhong)、幾(ji)小(xiao)時(shi)、幾(ji)天甚至幾(ji)星期。因此(ci)對(dui)于(yu)這樣的材(cai) 料(liao),采(cai)用(yong)(yong)較長(chang)的電(dian)(dian)化時(shi)間(jian)(jian)(jian)(jian),且如果合適(shi),可用(yong)(yong)體(ti)積(ji)電(dian)(dian)阻(zu)(zu)率與(yu)(yu)時(shi)間(jian)(jian)(jian)(jian)的關系來描述材(cai)料(liao)的特(te)性。

4.4由于(yu)或多或少的(de)(de)體積電(dian)導總是(shi)(shi)要被包括到表(biao)面(mian)電(dian)導測試(shi)中去,因此不(bu)能精確而(er)只能近似(si)地(di)測量表(biao) 面(mian)電(dian)阻(zu)或表(biao)面(mian)電(dian)導。測得(de)的(de)(de)值主要反映(ying)被測試(shi)樣(yang)表(biao)面(mian)污(wu)染的(de)(de)特(te)性,而(er)且試(shi)樣(yang)的(de)(de)電(dian)容率影(ying)響污(wu)染物(wu)質的(de)(de) 沉(chen)積,它們的(de)(de)導電(dian)能力(li)又受試(shi)樣(yang)的(de)(de)表(biao)面(mian)特(te)性所影(ying)響。因此,表(biao)面(mian)電(dian)阻(zu)率不(bu)是(shi)(shi)一個(ge)真正意義的(de)(de)材料(liao)(liao)特(te)性, 而(er)是(shi)(shi)材料(liao)(liao)表(biao)面(mian)含有污(wu)染物(wu)質時與(yu)材料(liao)(liao)特(te)性有關(guan)的(de)(de)一個(ge)參(can)數。

某些(xie)材料如層(ceng)壓材料在表面(mian)(mian)層(ceng)和內部可(ke)能有很不(bu)同(tong)的(de)電阻(zu)率(lv),因(yin)此(ci)測量清潔(jie)的(de)表面(mian)(mian)的(de)內在性(xing)能是 有意義的(de)。應完整地規定為獲得一(yi)致的(de)結果而(er)進行清潔(jie)處理的(de)程序,并要記錄清潔(jie)過程中溶劑或其他 因(yin)素(su)對于表面(mian)(mian)特性(xing)可(ke)能產(chan)生的(de)影(ying)響.

表面電阻,特別是當它較高時,常(chang)以不(bu)規(gui)則(ze)方式變化,且(qie)通常(chang)非常(chang)依賴于電化時間(jian)。因此,測量時通 常(chang)規(gui)定一分鐘的電化時間(jian)。

5電源

要求有很(hen)穩(wen)定(ding)的(de)(de)(de)直流(liu)(liu)電壓(ya)(ya)源(yuan)。這可(ke)用蓄電池(chi)或一•個整流(liu)(liu)穩(wen)壓(ya)(ya)的(de)(de)(de)電源(yuan)來提(ti)供。對電源(yuan)的(de)(de)(de)穩(wen)定(ding)度要求 是由電壓(ya)(ya)變化(hua)導(dao)致的(de)(de)(de)電流(liu)(liu)變化(hua)與被測電流(liu)(liu)相比(bi)可(ke)忽略不計。

加(jia)到整(zheng)個試樣上的試驗(yan)電(dian)(dian)壓通常規定為100 V.250 V.500 va 000 V、2 500 V,5 000 VJO 000 V 和15 000 V。電(dian)(dian)壓是100 V.500 V和1 000 V。

在某些情(qing)況下,試樣的電阻與施加電壓的極(ji)性有(you)關。

如果電阻是與極性有(you)關的,則宜加以注明。取(qu)兩(liang)次電阻值(zhi)的幾(ji)何平(ping)均值(zhi)(對數算術平(ping)均值(zhi)的反對 數)作為結果。

由于試樣電阻可能與(yu)電壓有依存關系,因(yin)此(ci)應在報告中(zhong)注明試驗電壓值。

6測量(liang)方法和(he)精確度(du)

6. 1方法(fa)

測(ce)量(liang)高電阻常用的方法(fa)是(shi)直接法(fa)或比較法(fa)。

直接法(fa)是測(ce)量加在(zai)試樣上的(de)直流電壓和流過它的(de)電流(伏安法(fa))而求得未知電阻。

比(bi)較法是確定電橋線路中試樣未知電阻(zu)與(yu)電阻(zu)器已知電阻(zu)之間的比(bi)值,或是在固(gu)定電壓下比(bi)較通

過這兩種(zhong)電阻的(de)電流(liu)。

附錄A給出(chu)了描述這些原理的例子。

伏(fu)安法需要一適當精度的伏(fu)特(te)表,但該(gai)方(fang)法的靈敏度和精確(que)度主要取決(jue)于電(dian)流(liu)測量裝(zhuang)置(zhi)的性能,該(gai) 裝(zhuang)置(zhi)可(ke)以(yi)是一個檢流(liu)計或電(dian)子(zi)放大器或靜電(dian)計。

電(dian)橋(qiao)(qiao)法只需要(yao)一靈敏的(de)電(dian)流檢測器作為零點(dian)指示(shi)器,測量精確(que)度主要(yao)取決于已知的(de)橋(qiao)(qiao)臂電(dian)阻(zu)(zu)器,這 些橋(qiao)(qiao)臂電(dian)阻(zu)(zu)應在寬的(de)電(dian)阻(zu)(zu)值范圍內具有高的(de)精密(mi)度和(he)穩定性。

電(dian)流比較法的(de)精確(que)(que)(que)度(du)取決于(yu)已知電(dian)阻器(qi)的(de)精確(que)(que)(que)度(du)和(he)電(dian)流測量裝置,包括與它相(xiang)連的(de)測量電(dian)阻器(qi)的(de) 穩定度(du)和(he)線性度(du)。只要(yao)(yao)電(dian)壓是恒定的(de),電(dian)流的(de)確(que)(que)(que)切數(shu)值(zhi)并不重(zhong)要(yao)(yao)。

對于不大于IO11 Q的電(dian)阻,可以按照(zhao)11. 1用檢流計(ji)采用伏特計(ji)一安培計(ji)法來測定其(qi)體積電(dian)阻率。 對于較(jiao)高的電(dian)阻,則推薦使用直(zhi)流放(fang)大器(qi)或靜電(dian)計(ji)。

在電橋法中,不可能直接測量短路(lu)試樣中的(de)電流(見11. 1)。

利(li)用電流測(ce)量(liang)裝(zhuang)置的方法可以自動記錄(lu)電流,以簡化穩態測(ce)試過程(見11. l)o

現已有測量(liang)高電阻(zu)的一些專門的線路(lu)和(he)儀器。只(zhi)要它們(men)有足夠(gou)的精(jing)確(que)度和(he)穩定度,且在需要時能 使(shi)試樣*短路(lu)并在電化前測量(liang)電流者,均可使(shi)用.

6.2精確度(du)

對于低于io10&nbsp;n的電(dian)(dian)阻,測量(liang)裝置測量(liang)未知電(dian)(dian)阻的總精確度應至(zhi)少(shao)為士io%。而對于更高的電(dian)(dian) 阻,總精確度應至(zhi)少(shao)為士20%。詳見附錄(lu)A。

6.3保護

組成測量線路的絕緣材料,最好應具(ju)有與被試(shi)材料差(cha)不多的性(xing)能。試(shi)樣(yang)的測量誤(wu)差(cha)可以由下(xia)列原(yuan) 因產(chan)生:

a) 外來寄生(sheng)電壓引(yin)起的(de)雜散電流,通常不知道它的(de)大小,并具有漂(piao)移的(de)特點;

b) 具有(you)未知而易變的(de)(de)電(dian)阻值的(de)(de)絕緣與(yu)試樣電(dian)阻、標準電(dian)阻器或電(dian)流測量裝(zhuang)置的(de)(de)不正常(chang)的(de)(de)分路.

使(shi)(shi)線路所有部分在使(shi)(shi)用狀態下有盡可(ke)能(neng)高的絕緣電(dian)(dian)阻來近似(si)地修正這(zhe)些影響因素。這(zhe)種做法(fa)可(ke)能(neng) 導致測(ce)試設備很笨重,而(er)又不(bu)足以(yi)測(ce)量(liang)高于幾(ji)百兆(zhao)歐的絕緣電(dian)(dian)阻。較(jiao)為滿意的修正方(fang)法(fa)是(shi)使(shi)(shi)用保(bao)護技(ji) 術來實現。

保(bao)護(hu)(hu)就是(shi)在(zai)所有(you)關鍵的(de)(de)絕緣(yuan)(yuan)部(bu)位(wei)插入(ru)保(bao)護(hu)(hu)導(dao)體,保(bao)護(hu)(hu)導(dao)體截住所有(you)可能引(yin)起誤差的(de)(de)雜(za)散(san)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)流(liu)。這(zhe) 些保(bao)護(hu)(hu)導(dao)體聯(lian)(lian)接(jie)在(zai)一起,組(zu)成(cheng)保(bao)護(hu)(hu)系(xi)統并與測(ce)量端形成(cheng)三(san)端網絡。當(dang)線路聯(lian)(lian)接(jie)恰(qia)當(dang)時,所有(you)外(wai)來寄生(sheng)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian) 壓產生(sheng)的(de)(de)雜(za)散(san)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)流(liu)被(bei)保(bao)護(hu)(hu)系(xi)統分流(liu)到測(ce)量電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)路以(yi)外(wai),任一測(ce)量端到保(bao)護(hu)(hu)系(xi)統的(de)(de)絕緣(yuan)(yuan)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)與一電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)低(di)得 多的(de)(de)線路元件并聯(lian)(lian),試(shi)樣電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)僅(jin)限(xian)于兩測(ce)量端之(zhi)間(jian)。采用這(zhe)個技術可大大地(di)減小誤差概率。圖1為使 用保(bao)護(hu)(hu)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)極測(ce)量體積(ji)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)和表(biao)面電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)的(de)(de)基(ji)本(ben)線路。

圖(tu)5和圖(tu)7給出了電(dian)流測(ce)量(liang)法中保護系(xi)統(tong)的(de)(de)使(shi)用(yong)方法,圖(tu)中指出保護系(xi)統(tong)接(jie)到(dao)電(dian)源和電(dian)流測(ce)量(liang)裝 置的(de)(de)連接(jie)點(dian)。圖(tu)6表示惠斯(si)登(deng)電(dian)橋法,其保護系(xi)統(tong)接(jie)到(dao)兩(liang)個較低電(dian)阻值的(de)(de)橋臂的(de)(de)連接(jie)點(dian)上。在所有情 況下,保護系(xi)統(tong)必須(xu)完善,包括對測(ce)試人員(yuan)在測(ce)量(liang)時操作的(de)(de)任何控(kong)制儀器(qi)的(de)(de)保護。

在(zai)保護端和被保護端之間所存在(zai)的電(dian)解(jie)電(dian)動(dong)(dong)勢(shi)(shi)、接觸(chu)電(dian)動(dong)(dong)勢(shi)(shi)或熱(re)電(dian)動(dong)(dong)勢(shi)(shi)較小時,均能被補償掉,使 這樣的電(dian)動(dong)(dong)勢(shi)(shi)在(zai)測量(liang)中不會(hui)引入顯著(zhu)的誤差。

在(zai)(zai)電(dian)(dian)(dian)(dian)流測量(liang)法中(zhong)(zhong),由(you)于電(dian)(dian)(dian)(dian)流測量(liang)裝置(zhi)與被保護(hu)(hu)端(duan)和保護(hu)(hu)系統之間的(de)電(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)并聯可(ke)能產生誤差(cha),因(yin)此, 這個(ge)(ge)電(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)宜(yi)至少為(wei)電(dian)(dian)(dian)(dian)流測量(liang)裝置(zhi)電(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)的(de)10倍(bei),最(zui)好(hao)為(wei)100倍(bei)。在(zai)(zai)有些電(dian)(dian)(dian)(dian)橋(qiao)法中(zhong)(zhong),保護(hu)(hu)端(duan)和測量(liang)端(duan)具有 大致相(xiang)同的(de)電(dian)(dian)(dian)(dian)位,不過(guo)電(dian)(dian)(dian)(dian)橋(qiao)中(zhong)(zhong)的(de)一個(ge)(ge)標準(zhun)電(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)器與不保護(hu)(hu)端(duan)和保護(hu)(hu)系統之間的(de)電(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)是并聯的(de)。這個(ge)(ge)電(dian)(dian)(dian)(dian) 阻(zu)(zu)應至少為(wei)標準(zhun)電(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)的(de)10倍(bei),最(zui)好(hao)為(wei)100倍(bei)。

為(wei)確保設(she)備(bei)的操作令人(ren)滿意,應先斷開(kai)電(dian)源和試(shi)樣的連線(xian)進行(xing)(xing)一次測量。此(ci)時,設(she)備(bei)應在它(ta)的靈敏(min) 度許可范圍內指示出(chu)無窮大的電(dian)阻。如果(guo)有一些已知電(dian)阻值的標準電(dian)阻,則可用來(lai)檢查(cha)設(she)備(bei)運行(xing)(xing)是否 良好(hao)。

7試樣(yang)

7. 1體(ti)積電阻率

為測定體積電(dian)阻(zu)率(lv),試(shi)(shi)樣的(de)形狀(zhuang)不(bu)(bu)限,只要能允許(xu)使(shi)用第(di)三電(dian)極(ji)來抵消(xiao)表面(mian)效應引起的(de)誤差即可(ke)。 對于表面(mian)泄漏可(ke)忽略(lve)不(bu)(bu)計(ji)(ji)的(de)試(shi)(shi)樣,測量體積電(dian)阻(zu)時可(ke)去掉保護(hu),只要已證明(ming)去掉保護(hu)對結果的(de)影響(xiang)可(ke)忽 略(lve)不(bu)(bu)計(ji)(ji)。

在(zai)被保(bao)護(hu)(hu)電(dian)(dian)極(ji)與(yu)保(bao)護(hu)(hu)電(dian)(dian)極(ji)之間(jian)的(de)試樣表面上的(de)間(jian)隙要有均勻的(de)寬度,并且在(zai)表面泄(xie)漏不致于引起 測量(liang)誤(wu)差的(de)條件下間(jian)隙應(ying)盡可能的(de)窄(zhai)。1 mm的(de)間(jian)隙通(tong)常為切實可行的(de)最小間(jian)隙。

圖(tu)2及圖(tu)3給出了三電(dian)(dian)(dian)極(ji)裝置(zhi)的(de)(de)例子。在測量體積電(dian)(dian)(dian)阻時,電(dian)(dian)(dian)極(ji)1是(shi)被(bei)保(bao)(bao)(bao)護(hu)(hu)電(dian)(dian)(dian)極(ji),電(dian)(dian)(dian)極(ji)2為(wei)(wei)保(bao)(bao)(bao)護(hu)(hu)電(dian)(dian)(dian) 極(ji),電(dian)(dian)(dian)極(ji)3為(wei)(wei)不(bu)(bu)保(bao)(bao)(bao)護(hu)(hu)電(dian)(dian)(dian)極(ji)。被(bei)保(bao)(bao)(bao)護(hu)(hu)電(dian)(dian)(dian)極(ji)的(de)(de)直徑(jing)M (圖(tu)2)或(huo)長(chang)(chang)度(du)(du)丄(圖(tu)3)應至少(shao)為(wei)(wei)試樣(yang)厚(hou)度(du)(du)/1的(de)(de)10倍,通 常至少(shao)為(wei)(wei)25 mm。不(bu)(bu)保(bao)(bao)(bao)護(hu)(hu)電(dian)(dian)(dian)極(ji)的(de)(de)直徑(jing)也(ye)(或(huo)長(chang)(chang)度(du)(du)厶)和保(bao)(bao)(bao)護(hu)(hu)電(dian)(dian)(dian)極(ji)的(de)(de)外直徑(jing)公(或(huo)保(bao)(bao)(bao)護(hu)(hu)電(dian)(dian)(dian)極(ji)兩(liang)外邊緣(yuan)之(zhi)間(jian) 的(de)(de)長(chang)(chang)度(du)(du)G應該等于保(bao)(bao)(bao)護(hu)(hu)電(dian)(dian)(dian)極(ji)的(de)(de)內徑(jing)必(bi)(或(huo)保(bao)(bao)(bao)護(hu)(hu)電(dian)(dian)(dian)極(ji)兩(liang)內邊緣(yuan)之(zhi)間(jian)的(de)(de)長(chang)(chang)度(du)(du)上(shang)(shang))加(jia)上(shang)(shang)至少(shao)2倍的(de)(de)試樣(yang) 厚(hou)度(du)(du)。

7.2表面電阻率

為(wei)(wei)(wei)(wei)測定表(biao)(biao)面電(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)率(lv),試(shi)樣(yang)的(de)(de)形(xing)狀不限(xian),只要允許使用第(di)三電(dian)(dian)(dian)(dian)極(ji)(ji)(ji)(ji)來抵消(xiao)體(ti)(ti)積(ji)效應引起的(de)(de)誤差鄭可(ke)。推 薦使用圖(tu)(tu)2及圖(tu)(tu)3所示(shi)的(de)(de)三電(dian)(dian)(dian)(dian)極(ji)(ji)(ji)(ji)裝置。用電(dian)(dian)(dian)(dian)極(ji)(ji)(ji)(ji)1作為(wei)(wei)(wei)(wei)被(bei)保護電(dian)(dian)(dian)(dian)極(ji)(ji)(ji)(ji),電(dian)(dian)(dian)(dian)極(ji)(ji)(ji)(ji)3作為(wei)(wei)(wei)(wei)保護電(dian)(dian)(dian)(dian)極(ji)(ji)(ji)(ji),電(dian)(dian)(dian)(dian)極(ji)(ji)(ji)(ji)2作為(wei)(wei)(wei)(wei)不 保護電(dian)(dian)(dian)(dian)極(ji)(ji)(ji)(ji)。可(ke)直接測量電(dian)(dian)(dian)(dian)極(ji)(ji)(ji)(ji)1和2之(zhi)間表(biao)(biao)面間隙的(de)(de)電(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu),這樣(yang)測得的(de)(de)電(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)包括了電(dian)(dian)(dian)(dian)極(ji)(ji)(ji)(ji)1和2之(zhi)間的(de)(de)表(biao)(biao) 面電(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)和這兩個電(dian)(dian)(dian)(dian)極(ji)(ji)(ji)(ji)間的(de)(de)體(ti)(ti)積(ji)電(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)。然(ran)而,對(dui)于很寬范圍(wei)的(de)(de)環境條件和材料性能,當電(dian)(dian)(dian)(dian)極(ji)(ji)(ji)(ji)尺寸(cun)合適時, 體(ti)(ti)積(ji)電(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)的(de)(de)影響可(ke)忽(hu)略(lve)不計。為(wei)(wei)(wei)(wei)此,對(dui)于圖(tu)(tu)2和圖(tu)(tu)3所示(shi)的(de)(de)裝置,電(dian)(dian)(dian)(dian)極(ji)(ji)(ji)(ji)的(de)(de)間隙寬度(du)g至少應為(wei)(wei)(wei)(wei)試(shi)樣(yang)厚度(du) 的(de)(de)2倍,一(yi)般說來,〕mm為(wei)(wei)(wei)(wei)切實可(ke)行的(de)(de)最小間原。被(bei)保護電(dian)(dian)(dian)(dian)極(ji)(ji)(ji)(ji)尺寸(cun)払(或長度(du)ZQ應至少為(wei)(wei)(wei)(wei)試(shi)樣(yang)厚度(du)先 的(de)(de)10倍,通常至少為(wei)(wei)(wei)(wei)25 mm。

也可以使(shi)用條形電極或具有(you)合(he)適尺寸(cun)的其他裝置。

注:由于通過試(shi)(shi)樣內層的(de)電流(liu)的(de)影響(xiang),表面電阻率(lv)的(de)計(ji)算值與(yu)試(shi)(shi)樣和電極(ji)的(de)尺(chi)寸有很大的(de)關系(xi),因此,為了測定(ding)時 可進行(xing)比較,推(tui)薦使用與(yu)圖2所(suo)示(shi)的(de)電極(ji)裝置(zhi)的(de)尺(chi)寸相一(yi)致的(de)試(shi)(shi)樣,其中由=5。=60

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