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100MHZ高頻介電常數測試儀

型 號GDAT-A

更(geng)新(xin)時間2023-12-25

廠商性質生產廠家

報價

產品描述:100MHZ高頻介電常數測試儀介電常數介質損耗測試儀B“Q"的定義
Q表是根據串聯諧振原理設計,以諧振電壓的比值來定位Q值。
“Q"表示元件或系統的“品質因數",其物理含義是在一個振蕩周期內貯存的能量與損耗的能量之比。對于電抗元件(電感或電容)來說,即在測試頻率上呈現的電抗與電阻之比。

產品概述

100MHZ高頻介電常(chang)數測(ce)試(shi)儀Q表的(de)(de)(de)工作(zuo)原理框(kuang)圖(tu)如圖(tu)二(er)所(suo)示。它以(yi)ATM128單片機作(zuo)為控(kong)(kong)制核(he)心,實(shi)現對各種功能的(de)(de)(de)控(kong)(kong)制。數字(zi)直接合成信(xin)(xin)(xin)(xin)(xin)(xin)號(hao)(hao)源為Q值測(ce)量提供(gong)了一個(ge)(ge)優質的(de)(de)(de)高頻信(xin)(xin)(xin)(xin)(xin)(xin)號(hao)(hao)。信(xin)(xin)(xin)(xin)(xin)(xin)號(hao)(hao)源輸出一路送(song)到(dao)(dao)程控(kong)(kong)衰(shuai)減(jian)器和(he)自動(dong)穩幅放(fang)大(da)控(kong)(kong)制單元(yuan),該(gai)單元(yuan)根據CPU的(de)(de)(de)指令對信(xin)(xin)(xin)(xin)(xin)(xin)號(hao)(hao)衰(shuai)減(jian)后(hou)(hou)送(song)往信(xin)(xin)(xin)(xin)(xin)(xin)號(hao)(hao)激(ji)勵(li)放(fang)大(da)器,同時對信(xin)(xin)(xin)(xin)(xin)(xin)號(hao)(hao)檢波后(hou)(hou)送(song)出一直流(liu)控(kong)(kong)制信(xin)(xin)(xin)(xin)(xin)(xin)號(hao)(hao)到(dao)(dao)壓控(kong)(kong)信(xin)(xin)(xin)(xin)(xin)(xin)號(hao)(hao)源實(shi)現自動(dong)穩幅。信(xin)(xin)(xin)(xin)(xin)(xin)號(hao)(hao)激(ji)勵(li)部分輸出送(song)到(dao)(dao)一個(ge)(ge)寬帶分壓器,由(you)分壓器饋給測(ce)試(shi)調(diao)諧(xie)回路一個(ge)(ge)恒定幅度的(de)(de)(de)信(xin)(xin)(xin)(xin)(xin)(xin)號(hao)(hao)。當(dang)測(ce)試(shi)回路處于(yu)諧(xie)振狀態時,在(zai)調(diao)諧(xie)電容CT兩(liang)(liang)端的(de)(de)(de)信(xin)(xin)(xin)(xin)(xin)(xin)號(hao)(hao)幅度將是分壓器提供(gong)的(de)(de)(de)信(xin)(xin)(xin)(xin)(xin)(xin)號(hao)(hao)幅度Q倍(bei)。在(zai)CT兩(liang)(liang)端取得的(de)(de)(de)調(diao)諧(xie)信(xin)(xin)(xin)(xin)(xin)(xin)號(hao)(hao)被(bei)信(xin)(xin)(xin)(xin)(xin)(xin)號(hao)(hao)放(fang)大(da)單元(yuan)適當(dang)放(fang)大(da)后(hou)(hou)送(song)到(dao)(dao)檢波和(he)數字(zi)取樣單元(yuan),檢波后(hou)(hou)送(song)到(dao)(dao)控(kong)(kong)制中心CPU去進行數據處理。

調諧電容帶動傳感器,不斷地將電容變化的信息送往中心控制CPU,經處理后計算出電容值,再根據頻率值計算出諧振時的頻率值。  
調諧電容有步進馬達帶動,根據不同電容值由CPU計算脈沖數去控制馬達。電容值可預置并可電容搜索。  
Q表工作頻率值(zhi)、頻段、主調電容(rong)器值(zhi)、諧振電感值(zhi)、Q值(zhi)、Q值(zhi)比(bi)較設(she)置狀態(tai)、Q值(zhi)量程、手/自(zi)動狀態(tai)、頻率或電容(rong)搜索指(zhi)示(shi)、Q值(zhi)調諧指(zhi)示(shi)帶都顯示(shi)在液晶屏上(shang),如圖(tu)三所示(shi)。

 GBT 1409-2006 測量電氣絕(jue)緣材料在工(gong)頻(pin)、音頻(pin)、高頻(pin)(包(bao)括(kuo)米波波長在

內)下(xia)電(dian)容率和(he)介質損耗因(yin)數的推薦方法

平板電容極片Φ50mm/Φ38mm
可選頻率范圍20KHz-60MHz/200KHz-160MHz
間距可調范圍≥15mm
頻率指示誤差3×10-5±1個字
夾具插頭間距25mm±0.01mm
主電容調節范圍30-500/18-220pF
測微桿分辨率0.001mm
主調電容誤差<1%或1pF
夾具損耗角正切值≦4×10-4 (1MHz)

1.檢驗環境要求

a.環境溫度:20℃±2℃,相對濕度<50%;
b.供電電源:220V±10V,50Hz±1Hz;
c.被檢設(she)備要(yao)預熱30分鐘以上。

2.檢驗設備要求
a. 設備應在計量后的有效使用期內;
b. 檢驗設備應按儀器規定預熱。
3.Q值指示檢驗
a.檢驗設備:標準線圈一套;
b.把標準Q值線圈接入Q表電感接線柱上;
c.選擇標準Q值線圈所規定的檢定頻率;
d.Q表的Q值讀數的相對誤差應符合二.1.C條中的固有誤差之規定。
4.調諧電容器準確度檢驗
a. 測試時如發現干擾,應斷開內部信號源;
b.設備連接如圖(tu)六所(suo)示,連接線應盡量短(duan),盡可(ke)能(neng)減小分(fen)布電(dian)容(rong);

100MHZ高頻介電常數測(ce)試(shi)儀特點:

1. 優化的測試電路設計使殘(can)值更小

2. 高頻信號采用(yong)數(shu)碼調(diao)諧器(qi)和頻率鎖定技術

3. LED 數字讀出(chu)品質因數,手動/自動量(liang)程切換

4. 自動掃描被測件諧振點,標頻單鍵設置和鎖定,大大提高測試速度1.Q值測量
a.Q值測量范圍:2~1023。
b.Q值量程分檔:30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔。
c.標稱誤差
頻率范圍20kHz~10MHz;
固有誤差5%滿度值的2%;
工作誤差7%滿度值的2%;
頻率范圍10MHz~60MHz;
固有誤差6%;滿度值的2%;
工作誤差8%;滿度值的2%。
2.電感測量范圍:14.5nH~8.14H
3.電容測量:1~ 460
直接測量范圍1~460pF
主電容調節范圍30~500pF150pF以下±1.5pF;
準確度150pF以上±1%
注:大于直接測量范圍的電容測量見使用規則
4.信號源頻率覆蓋范圍
頻率范圍10kHz~50MHz
頻率分段(虛擬)
10~99.9999kHz
100~999.999kHz
1~9.99999MHz
10~60MHz
頻率指示誤差3times;10-5plusmn;1個字
5.Q合格指示預置功能
預置范圍:5~1000。
a. 環境溫度:0℃~+40℃
b.相對濕度:<80%;
c.電源:220Vplusmn;22V,50Hzplusmn;2.5Hz。
7.其他
a.消耗功率:約25W;
b.凈重:約7kg;
c. 外型尺寸:mm:380*132*280。
8.產品配置:
a.測試主機一臺;
b.電感9只;
c.夾具一 套

陶瓷材料的損耗

陶瓷材料(liao)的(de)介(jie)質損(sun)(sun)耗主要來源于(yu)電導(dao)損(sun)(sun)耗、松(song)弛質點的(de)極(ji)化損(sun)(sun)耗和結(jie)構損(sun)(sun)耗。此(ci)外,表面氣孔吸附(fu)水分(fen)、油污及灰塵等造(zao)成的(de)表面電導(dao)也(ye)會引起較大的(de)損(sun)(sun)耗。

在(zai)結構(gou)緊(jin)密的(de)陶瓷(ci)(ci)中,介質損(sun)耗(hao)(hao)主要(yao)來源(yuan)于玻(bo)璃相(xiang)。為了(le)改善某些陶瓷(ci)(ci)的(de)工藝性(xing)能,往往在(zai)配方(fang)中引(yin)人此易熔物質(如黏(nian)土(tu)),形成(cheng)玻(bo)璃相(xiang),這樣就使損(sun)耗(hao)(hao)增(zeng)大(da)。如滑(hua)石(shi)瓷(ci)(ci)、尖(jian)晶石(shi)瓷(ci)(ci)隨黏(nian)土(tu)含量增(zeng)大(da),介質損(sun)耗(hao)(hao)也增(zeng)大(da)。因面一般高頻瓷(ci)(ci),如氧化(hua)鋁瓷(ci)(ci)、金紅石(shi)等很少含有玻(bo)璃相(xiang)。大(da)多數電陶瓷(ci)(ci)的(de)離子松弛極化(hua)損(sun)耗(hao)(hao)較(jiao)大(da),主要(yao)的(de)原因是:主晶相(xiang)結構(gou)松散,生成(cheng)了(le)缺固(gu)濟體、多品(pin)型(xing)轉變等。

漏導損耗

實際(ji)使用(yong)中的(de)絕緣材料都不(bu)是完善的(de)理想(xiang)的(de)電(dian)(dian)介(jie)(jie)質(zhi),在外電(dian)(dian)場的(de)作(zuo)用(yong)下,總(zong)有一(yi)些(xie)(xie)帶(dai)(dai)電(dian)(dian)粒子(zi)會發生移動而引(yin)起微弱(ruo)的(de)電(dian)(dian)流(liu),這種微小電(dian)(dian)流(liu)稱為(wei)漏(lou)(lou)導(dao)電(dian)(dian)流(liu),漏(lou)(lou)導(dao)電(dian)(dian)流(liu)流(liu)經(jing)介(jie)(jie)質(zhi)時使介(jie)(jie)質(zhi)發熱而損耗(hao)了電(dian)(dian)能。這種因(yin)電(dian)(dian)導(dao)而引(yin)起的(de)介(jie)(jie)質(zhi)損耗(hao)稱為(wei)“漏(lou)(lou)導(dao)損耗(hao)”。由于實阿的(de)電(dian)(dian)介(jie)(jie)質(zhi)總(zong)存(cun)在一(yi)些(xie)(xie)缺陷,或(huo)(huo)多或(huo)(huo)少存(cun)在一(yi)些(xie)(xie)帶(dai)(dai)電(dian)(dian)粒子(zi)或(huo)(huo)空(kong)位,因(yin)此介(jie)(jie)質(zhi)不(bu)論在直(zhi)流(liu)電(dian)(dian)場或(huo)(huo)交(jiao)變電(dian)(dian)場作(zuo)用(yong)下都會發生漏(lou)(lou)導(dao)損耗(hao)。

介(jie)(jie)(jie)質(zhi)(zhi)損(sun)(sun)耗:絕緣材料在(zai)電場(chang)作用下,由于介(jie)(jie)(jie)質(zhi)(zhi)電導和介(jie)(jie)(jie)質(zhi)(zhi)極(ji)化(hua)的滯后(hou)效應,在(zai)其內部(bu)引起(qi)的能量損(sun)(sun)耗。也(ye)叫介(jie)(jie)(jie)質(zhi)(zhi)損(sun)(sun)失,簡稱(cheng)(cheng)介(jie)(jie)(jie)損(sun)(sun)。在(zai)交變(bian)電場(chang)作用下,電介(jie)(jie)(jie)質(zhi)(zhi)內流過的電流相(xiang)量和電壓相(xiang)量之間(jian)的夾角(功率因數角Φ)的余角δ稱(cheng)(cheng)為(wei)介(jie)(jie)(jie)質(zhi)(zhi)損(sun)(sun)耗角。

主要技術特性:

介質(zhi)(zhi)損(sun)(sun)(sun)耗(hao)(hao)和(he)介電(dian)常數是(shi)各種電(dian)瓷、裝置瓷、電(dian)容(rong)器(qi)等陶(tao)瓷,還有復合材(cai)料等的(de)(de)(de)(de)(de)一(yi)項重要的(de)(de)(de)(de)(de)物理性質(zhi)(zhi),通過測(ce)(ce)定(ding)(ding)(ding)介質(zhi)(zhi)損(sun)(sun)(sun)耗(hao)(hao)角正切(qie)tanδ及介電(dian)常數(ε),可進一(yi)步了(le)解影響(xiang)介質(zhi)(zhi)損(sun)(sun)(sun)耗(hao)(hao)和(he)介電(dian)常數的(de)(de)(de)(de)(de)各種因(yin)素(su),為提高(gao)材(cai)料的(de)(de)(de)(de)(de)性能提供(gong)依據;儀器(qi)的(de)(de)(de)(de)(de)基(ji)本原理是(shi)采用(yong)高(gao)頻諧振(zhen)法,并(bing)(bing)提供(gong)了(le),通用(yong)、多用(yong)途、多量(liang)(liang)程(cheng)的(de)(de)(de)(de)(de)阻(zu)(zu)抗測(ce)(ce)試。它以(yi)單片(pian)計算機作為儀器(qi)的(de)(de)(de)(de)(de)控制,測(ce)(ce)量(liang)(liang)核心采用(yong)了(le)頻率(lv)數字(zi)鎖定(ding)(ding)(ding),標準頻率(lv)測(ce)(ce)試點(dian)自動設定(ding)(ding)(ding),諧振(zhen)點(dian)自動搜索(suo),Q值量(liang)(liang)程(cheng)自動轉換,數值顯(xian)示等新技(ji)術,改進了(le)調諧回路(lu),使得調諧測(ce)(ce)試回路(lu)的(de)(de)(de)(de)(de)殘(can)余電(dian)感(gan)(gan)減至低,并(bing)(bing)保(bao)留了(le)原Q表中(zhong)自動穩(wen)幅等技(ji)術,使得新儀器(qi)在(zai)使用(yong)時更(geng)為方便,測(ce)(ce)量(liang)(liang)值。儀器(qi)能在(zai)較高(gao)的(de)(de)(de)(de)(de)測(ce)(ce)試頻率(lv)條(tiao)件下,測(ce)(ce)量(liang)(liang)高(gao)頻電(dian)感(gan)(gan)或諧振(zhen)回路(lu)的(de)(de)(de)(de)(de)Q值,電(dian)感(gan)(gan)器(qi)的(de)(de)(de)(de)(de)電(dian)感(gan)(gan)量(liang)(liang)和(he)分布電(dian)容(rong)量(liang)(liang),電(dian)容(rong)器(qi)的(de)(de)(de)(de)(de)電(dian)容(rong)量(liang)(liang)和(he)損(sun)(sun)(sun)耗(hao)(hao)角正切(qie)值,電(dian)工材(cai)料的(de)(de)(de)(de)(de)高(gao)頻介質(zhi)(zhi)損(sun)(sun)(sun)耗(hao)(hao),高(gao)頻回路(lu)有效并(bing)(bing)聯及串聯電(dian)阻(zu)(zu),傳輸線的(de)(de)(de)(de)(de)特性阻(zu)(zu)抗等。

行:左邊  信號源頻率指示,共6位

第二行(xing):左(zuo)邊  調諧電容指示值,4位

第三行:左(zuo)邊  Q值指示(shi)值   

第四行:左邊  Q值量程,手(shou)動(dong)(dong)/自動(dong)(dong)切(qie)換指示(shi)/調(diao)諧點自動(dong)(dong)搜索指示(shi)

右邊下部(bu)  Q值調諧光帶指示

采用了(le)較低的(de)臺式機箱,面板采用PC絲(si)印面板,美觀大方。

前面板各功能鍵說明(ming):

作(zuo)頻(pin)段選擇/2按鍵,每(mei)按一(yi)次,切換至高一(yi)個頻(pin)段工作(zuo);先(xian)按12鍵后(hou),再按此鍵,功能為數(shu)字鍵2。

Q值高一檔量程選擇(ze)(手動方式(shi)時有效)/4按(an)鍵(jian);先按(an)12鍵(jian)后,再按(an)此鍵(jian),功能為數(shu)字鍵(jian)4。

諧振點電容搜(sou)索(suo)/6按(an)(an)(an)鍵(jian),按(an)(an)(an)此(ci)鍵(jian)后,電容指(zhi)示不斷在變化(hua)、步進馬達發出輕微的(de)聲響時儀器正(zheng)工作在電容自動搜(sou)索(suo)被(bei)測(ce)量器件(jian)的(de)諧振點,如需退(tui)出搜(sou)索(suo),再按(an)(an)(an)此(ci)鍵(jian);先(xian)按(an)(an)(an)12鍵(jian)后,再按(an)(an)(an)此(ci)鍵(jian),功能為數字鍵(jian)6。

 

Q值(zhi)合(he)格范圍比(bi)較值(zhi)設(she)定/7按(an)鍵(jian)(jian),按(an)此鍵(jian)(jian)后(hou),顯示屏(ping)第三行右(you)部出現COMP字(zi)符,當Q合(he)格時(shi),顯示OK,並(bing)同時(shi)鳴響蜂(feng)鳴器,Q不(bu)合(he)格時(shi),顯示NO。設(she)置Q值(zhi)合(he)格范圍詳細說明(ming)見后(hou)頁。先按(an)12鍵(jian)(jian)后(hou),再(zai)按(an)此鍵(jian)(jian),功能為數字(zi)鍵(jian)(jian)7。

 

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