BEST絕緣電阻測試儀測試電壓 （V）  10  50   100  250  500  1000 電阻測量范圍 1×104Ω ～1×1018 Ω；電流測量范圍 2×10-4Ａ ～1×10-16Ａ；體積小、重量輕、準確度高；*的被測電阻、和流過電阻的電流雙顯示，使操作測量更加方便；性能穩定、讀數方便；既能測電阻又能測電流；測試電壓有六種選擇DC10V、50V、100V、250V、500V、1000V；使用操作簡便，在任何電阻量程和測試電壓下均直接讀顯示數字結果，免去要乘以一個系數的麻煩，使測量超高電阻就如用萬用表測量普通電阻樣簡便。

在某些情(qing)況下，試樣的電阻與施(shi)加電壓的極性(xing)有關。

表面電(dian)阻(zu)(zu)和體(ti)積電(dian)阻(zu)(zu)(見GB／T 10064—2006)。

因此測量清潔的(de)表面的(de)內在性能是有意義(yi)的(de)。

電阻率隨溫(wen)度(du)和濕(shi)度(du)的變化而顯著變。因此在為一些運行條(tiao)件而設計時對其了解(jie)。體積電阻率的測量常被用于檢(jian)查絕緣材(cai)料生產是

施加電壓(ya)的大(da)小(xiao)和時間l電極(ji)的性質(zhi)和尺寸；在試樣(yang)處理和測試過程(cheng)中(zhong)周圍大(da)氣(qi)條件和試樣(yang)的溫度(du)(du)、濕(shi)度(du)(du)。

面電阻或表面電導(dao)。測得的(de)值主要反映被測試樣表面污(wu)染的(de)特性。而且(qie)試樣的(de)電容(rong)率影響污(wu)染物質的(de)

方法(fa)

注，表(biao)面電(dian)阻率的s1單位是n。實際上有(you)時也甩。歐每平(ping)方單位”來表(biao)示·

比(bi)較法是(shi)確定電(dian)橋線路中試樣未知電(dian)阻(zu)與電(dian)阻(zu)器已(yi)知電(dian)阻(zu)之(zhi)間的(de)比(bi)值。或是(shi)在固定電(dian)壓下比(bi)較通表面電(dian)阻(zu)

在試樣兩(liang)相對(dui)表面上放置的兩(liang)電極問所加直流電壓與流過這兩(liang)個電極之間的穩態(tai)電流之商·不包

BEST絕緣電阻測試儀

特別是當它較高時(shi)，常以不規則(ze)方式變(bian)化，且通常非常依賴于電(dian)化時(shi)間(jian)。因此，測量時(shi)通

電極是(shi)具有一定形(xing)狀、尺(chi)寸和結構的(de)與被(bei)測試樣相接觸的(de)導體。

由(you)于試樣(yang)電(dian)阻可能(neng)與(yu)電(dian)壓有依存關系(xi)，因此應在(zai)報告中注明試驗電(dian)壓值。

性能。表(biao)面(mian)電阻隨(sui)濕(shi)度(du)變(bian)化很快，而體積電阻隨(sui)溫度(du)變(bian)化卻(que)很慢，盡管(guan)其終的(de)變(bian)化也許較大(da)。

材(cai)料(liao)體(ti)積(ji)電阻(zu)(zu)和表面(mian)電阻(zu)(zu)的測定程序及(ji)體(ti)積(ji)電阻(zu)(zu)率(lv)和表面(mian)電阻(zu)(zu)率(lv)的計算(suan)方法． 體(ti)積(ji)電阻(zu)(zu)和表面(mian)電阻(zu)(zu)的試驗都受到下(xia)列因(yin)素影響：

性能(neng)。表面電(dian)阻隨濕度變(bian)化很快(kuai)，而體積電(dian)阻隨溫度變(bian)化卻(que)很慢，盡管其終的變(bian)化也許較(jiao)大(da)。

凡是不注(zhu)日(ri)期的引用文件，其版本(ben)適用于本(ben)標準(zhun)·

當一直流(liu)電(dian)(dian)壓加在與試樣相接觸的(de)兩電(dian)(dian)極之間時，通過試樣的(de)電(dian)(dian)流(liu)會(hui)漸近(jin)地(di)減小到一個穩定(ding)值·

由于試(shi)樣電(dian)阻(zu)可能與電(dian)壓有(you)依存關系(xi)，因此應在報告(gao)中注明試(shi)驗電(dian)壓值(zhi)。

電(dian)極elect=odes在絕緣材料的(de)表面(mian)層里的(de)直流(liu)電(dian)場強度與線電(dian)流(liu)密度之商，即單位面(mian)積內的(de)表面(mian)電(dian)阻。面(mian)積的(de)大

特別是當(dang)它較高(gao)時(shi)，常以不規(gui)則(ze)方式變化，且(qie)通常非常依賴于電(dian)化時(shi)間。因此，測量時(shi)通

對(dui)于體積電(dian)阻率(lv)較高(gao)的(de)(de)(de)材料，電(dian)流減小的(de)(de)(de)過程可能會持續到幾分鐘(zhong)、幾小時(shi)、幾天甚至幾星(xing)期。因此對(dui)于這(zhe)樣的(de)(de)(de)材料，采用較長的(de)(de)(de)電(dian)化(hua)時(shi)間，且如果合適，可用體積電(dian)阻率(lv)與(yu)時(shi)間的(de)(de)(de)關系來描述材料的(de)(de)(de)特(te)性。

GB／T 10064--2006測定固體(ti)絕(jue)緣材(cai)料絕(jue)緣電阻(zu)的試驗(yan)方法(fa)(IEC 60167 11964，IDT)

表(biao)面電(dian)阻(zu)率(lv)surface resistivity

特別(bie)是(shi)當它較高時，常以不規則方式變化(hua)，且通(tong)常非常依賴于(yu)電化(hua)時間。因此(ci)，測量時通(tong)

表(biao)面電阻(zu)和(he)體積電阻(zu)(見GB／T 10064—2006)。

加到整個試(shi)樣上的試(shi)驗電壓(ya)通(tong)常規定為(wei)100 V、250 V，500 V、1 000 V、2 500 V、5 000 V、10 000 V和15 000 V。。它們的導電能(neng)力(li)又(you)受(shou)試(shi)樣的表面特性所影響。

括沿(yan)試樣表(biao)面的(de)電(dian)流，在(zai)兩(liang)電(dian)極上可能形(xing)成的(de)極化忽略不計(ji)。

電(dian)源

GB／T 1410一．2006／IEC 60093；1980

凡是不注日期的引用(yong)文件，其版本(ben)適(shi)用(yong)于本(ben)標準·

由于(yu)或多(duo)或少的體(ti)積電導總是(shi)要被(bei)包括到(dao)表(biao)面電導測(ce)試中去，因此不能精確(que)而只能近似地測(ce)量表(biao)

要求有(you)很穩(wen)定(ding)的(de)直(zhi)流電(dian)壓源。這(zhe)可用蓄(xu)電(dian)池或一個整流穩(wen)壓的(de)電(dian)源來提供。對電(dian)源的(de)穩(wen)定(ding)度(du)要求

體(ti)積電阻(zu)率能(neng)被用作選擇(ze)特定用途絕緣材料的一個(ge)參數。