銅合金導電電阻測試儀

電(dian)源

要(yao)求(qiu)有很穩(wen)定的直流電壓源。這可用(yong)蓄(xu)電油或(huo)一個整流穩(wen)壓的電摞來提供(gong)。對(dui)電源的穩(wen)定度(du)要(yao)求(qiu) 是由電壓變(bian)表面電阻(zu)率

為(wei)測(ce)定表(biao)(biao)面(mian)電(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)率，試樣的(de)(de)(de)(de)形(xing)狀不(bu)(bu)限，只(zhi)要允許使用(yong)第三電(dian)(dian)(dian)(dian)極(ji)(ji)來(lai)抵消體(ti)積(ji)效應引起的(de)(de)(de)(de)誤差即可。推薦使用(yong)圖(tu)2及圖(tu)3所示的(de)(de)(de)(de)三電(dian)(dian)(dian)(dian)極(ji)(ji)裝置。用(yong)電(dian)(dian)(dian)(dian)極(ji)(ji)1作為(wei)被(bei)保護(hu)電(dian)(dian)(dian)(dian)極(ji)(ji)，電(dian)(dian)(dian)(dian)極(ji)(ji)3作為(wei)保護(hu)電(dian)(dian)(dian)(dian)極(ji)(ji)，電(dian)(dian)(dian)(dian)極(ji)(ji)2作為(wei)不(bu)(bu) 保護(hu)電(dian)(dian)(dian)(dian)極(ji)(ji)。可直接(jie)測(ce)量電(dian)(dian)(dian)(dian)極(ji)(ji)1和(he)(he)2之間表(biao)(biao)面(mian)間隙的(de)(de)(de)(de)電(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)。這(zhe)(zhe)樣測(ce)得的(de)(de)(de)(de)電(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)包括了電(dian)(dian)(dian)(dian)極(ji)(ji)1和(he)(he)2之間的(de)(de)(de)(de)表(biao)(biao)面(mian)電(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)和(he)(he)這(zhe)(zhe)兩(liang)個電(dian)(dian)(dian)(dian)極(ji)(ji)間的(de)(de)(de)(de)體(ti)積(ji)電(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)。然(ran)而，對(dui)于很寬(kuan)范圍的(de)(de)(de)(de)環境條件和(he)(he)材(cai)料(liao)性能，當電(dian)(dian)(dian)(dian)極(ji)(ji)尺寸合(he)適時(shi)， 體(ti)積(ji)電(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)的(de)(de)(de)(de)影響可忽略不(bu)(bu)計(ji)。為(wei)此，對(dui)于圖(tu)2和(he)(he)圖(tu)3所示的(de)(de)(de)(de)裝置，電(dian)(dian)(dian)(dian)極(ji)(ji)的(de)(de)(de)(de)間隙寬(kuan)度(du)(du)g至(zhi)(zhi)少應為(wei)試樣厚度(du)(du) 的(de)(de)(de)(de)2倍，一般說來(lai)，1mm為(wei)切(qie)實可行(xing)的(de)(de)(de)(de) 小間隙。被(bei)保護(hu)電(dian)(dian)(dian)(dian)極(ji)(ji)尺寸d1（或長(chang)度(du)(du)l1）應至(zhi)(zhi)少為(wei)試樣厚度(du)(du)h 的(de)(de)(de)(de)10倍，通常至(zhi)(zhi)少為(wei)25mm。

也可以使用條形電極或具有(you)合適尺寸的其他裝置。

注：由于通過試(shi)樣內層的電(dian)(dian)流(liu)的影響，表面電(dian)(dian)阻率的計(ji)算值與試(shi)樣和電(dian)(dian)極的尺寸有很大(da)的關(guan)系(xi)，因(yin)此，為了測定時可(ke)進(jin)行比較，推薦使用與圖2所(suo)示的電(dian)(dian)極裝置的尺寸相一致的試(shi)樣，其中d1= 50 mm, d2 = 60 mm, ds = 80 mm,

化(hua)導致的電流(liu)(liu)變化(hua)與被(bei)測電流(liu)(liu)相比可忽略不計。

加到(dao)整(zheng)個(ge)試(shi)樣上的試(shi)驗(yan)電壓通(tong)常規定為(wei)100V、250V、500V、1000 V、2500 V、5000 V, 10000 V 和15000 V。 常用的電壓是100V、500V和1000 V。

在某(mou)些情況下(xia)，試樣的電阻(zu)與施加(jia)電壓(ya)的極(ji)性有(you)關(guan)

如果(guo)電阻(zu)是(shi)與極(ji)性有關的，則(ze)宜加(jia)以注明。取兩次電阻(zu)值(zhi)的幾何(he)平(ping)均(jun)值(zhi)（對數(shu)算術平(ping)均(jun)值(zhi)的反對 數(shu)）作為(wei)結果(guo)。

由于(yu)試(shi)樣電(dian)阻可能與電(dian)壓(ya)有依存(cun)關系，因(yin)此(ci)應在(zai)報告中注(zhu)明試(shi)驗電(dian)壓(ya)值。

按照硅片電(dian)阻(zu)率(lv)測(ce)量的(de)標準(zhun)（ASTM F84）及標準(zhun)設計制(zhi)造(zao)該儀(yi)器設計符(fu)合GB/T 1551-2009 《硅單晶(jing)(jing)電(dian)阻(zu)率(lv)測(ce)定(ding)方(fang)法(fa)(fa)》、GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶(jing)(jing)電(dian)阻(zu)率(lv)測(ce)定(ding)直流兩(liang)探(tan)針(zhen)(zhen)(zhen)法(fa)(fa)》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶(jing)(jing)電(dian)阻(zu)率(lv)測(ce)定(ding)直流四探(tan)針(zhen)(zhen)(zhen)法(fa)(fa)》并參考美國 A.S.T.M 標準(zhun)，本機配(pei)置(zhi)232電(dian)腦接(jie)口(kou)及USB兩(liang)種接(jie)口(kou)，本機采用范(fan)德堡(bao)測(ce)量原理能改善(shan)樣品因(yin)幾(ji)何尺(chi)寸、邊界效應、探(tan)針(zhen)(zhen)(zhen)不等距和機械游移等外部因(yin)素(su)對測(ce)量結果的(de)影響(xiang)及誤差，比市場(chang)上其他普通的(de)四探(tan)針(zhen)(zhen)(zhen)測(ce)試(shi)方(fang)法(fa)(fa)更加完(wan)善(shan)和進(jin)步(bu),特別(bie)是方(fang)塊電(dian)阻(zu)值(zhi)較小的(de)產品測(ce)量，更加準(zhun)確.

本儀(yi)(yi)器(qi)(qi)本儀(yi)(yi)器(qi)(qi)采(cai)用四探針單(dan)電(dian)(dian)測(ce)(ce)量(liang)(liang)法適用于生產企業、高(gao)等院校、科研部門，是檢(jian)驗和分(fen)析(xi)導(dao)體材料(liao)(liao)和半導(dao)體材料(liao)(liao)質(zhi)量(liang)(liang)的(de)(de)一種重要的(de)(de)工具(ju)。本儀(yi)(yi)器(qi)(qi)配(pei)(pei)置(zhi)(zhi)各類(lei)測(ce)(ce)量(liang)(liang)裝置(zhi)(zhi)可(ke)以測(ce)(ce)試不同材料(liao)(liao)。液(ye)晶顯示(shi)，無需人(ren)工計算(suan)，并(bing)帶有溫度(du)補償功能(neng)，電(dian)(dian)阻(zu)率單(dan)位自動(dong)(dong)選擇，儀(yi)(yi)器(qi)(qi)自動(dong)(dong)測(ce)(ce)量(liang)(liang)并(bing)根(gen)據測(ce)(ce)試結果(guo)自動(dong)(dong)轉(zhuan)換量(liang)(liang)程，無需人(ren)工多次和重復設置(zhi)(zhi)。采(cai)用高(gao)精度(du)AD芯片控制，恒流輸出，結構合理、質(zhi)量(liang)(liang)輕(qing)便，運輸安(an)全、使用方(fang)便；選配(pei)(pei)：配(pei)(pei)備(bei)軟件(jian)可(ke)以由電(dian)(dian)腦操控，并(bing)保存和打印數據，自動(dong)(dong)生成報表(biao)；本儀(yi)(yi)器(qi)(qi)采(cai)用4.3吋(cun)大液(ye)晶屏幕顯示(shi)，同時顯示(shi)液(ye)晶顯示(shi)：電(dian)(dian)阻(zu)、電(dian)(dian)阻(zu)率、方(fang)阻(zu)、溫度(du)、單(dan)位換算(suan)、溫度(du)系數、電(dian)(dian)流、電(dian)(dian)壓、探針形狀、探針間距(ju)、厚(hou)度(du) 、電(dian)(dian)導(dao)率，配(pei)(pei)置(zhi)(zhi)不同的(de)(de)測(ce)(ce)試治具(ju)可(ke)以滿足不同材料(liao)(liao)的(de)(de)測(ce)(ce)試要求。測(ce)(ce)試治具(ju)可(ke)以根(gen)據產品及測(ce)(ce)試項(xiang)目要求選購。

維護和(he)保養

1 .使(shi)用者的維護

為了防止意外發生(sheng)(sheng)，請不(bu)(bu)要接(jie)觸機內部件。本機器內部所有的零件，不(bu)(bu)需使用者的維護(hu)。如果機器有異常情(qing)況發生(sheng)(sheng)，請直接(jie)與瑞柯儀器公司廠家或其的經銷商給予(yu)維護(hu)。

2. 使用(yong)者的修改(gai)

使(shi)用(yong)者不得(de)自行更改(gai)機(ji)器(qi)(qi)的(de)(de)線路或零(ling)件，如被(bei)更改(gai)機(ji)器(qi)(qi)后保(bao)修(xiu)(xiu)則自動失效(xiao)并且本公司不負任何(he)事故(gu)責任。在保(bao)修(xiu)(xiu)內(nei)使(shi)用(yong)未經我(wo)公司認可的(de)(de)零(ling)件或附件造成故(gu)障也不予保(bao)證。如發現(xian)送回(hui)檢修(xiu)(xiu)的(de)(de)機(ji)器(qi)(qi)被(bei)更改(gai)，將機(ji)器(qi)(qi)的(de)(de)電路和零(ling)件修(xiu)(xiu)復回(hui)原來設計的(de)(de)狀態，并收取修(xiu)(xiu)護費(fei)用(yong)。

3.測試工作站

3.1工作位置

工(gong)(gong)(gong)作(zuo)站(zhan)的(de)(de)位(wei)置選擇必(bi)(bi)(bi)須(xu)安排在一般人(ren)員非必(bi)(bi)(bi)經(jing)的(de)(de)處所，使非工(gong)(gong)(gong)作(zuo)人(ren)員選離工(gong)(gong)(gong)作(zuo)站(zhan)。如果因為條件限制的(de)(de)安排而無(wu)法做到(dao)時，必(bi)(bi)(bi)須(xu)將(jiang)工(gong)(gong)(gong)作(zuo)站(zhan)與(yu)其這它設施隔(ge)開(kai)并且特(te)別(bie)標明“測(ce)(ce)試工(gong)(gong)(gong)作(zuo)站(zhan)”。如果工(gong)(gong)(gong)作(zuo)站(zhan)與(yu)其它作(zuo)業站(zhan)非常接近時，必(bi)(bi)(bi)須(xu)特(te)別(bie)注意安全的(de)(de)問題。在測(ce)(ce)試時必(bi)(bi)(bi)須(xu)標明“測(ce)(ce)試執行中，非工(gong)(gong)(gong)作(zuo)人(ren)員請(qing)勿(wu)靠近”

4.輸入(ru)電源

輸入：220V±10%  使用頻率：50Hz

4.3.3工作場(chang)所

盡可(ke)能使(shi)用非導電的工作桌工作臺。操(cao)作人(ren)員和待測(ce)物(wu)之(zhi)間(jian)不得(de)使(shi)用任何(he)金屬。操(cao)作人(ren)員的位置(zhi)不得(de)有跨越(yue)待測(ce)物(wu)去操(cao)作或調(diao)整測(ce)試(shi)儀器(qi)的現象(xiang)。測(ce)試(shi)場(chang)所必須隨時保持整齊、干凈，不得(de)雜亂(luan)無章。測(ce)試(shi)站(zhan)及其周(zhou)邊之(zhi)空氣中不能含有可(ke)燃氣體或在(zai)易燃物(wu)質。

4.3.4人員(yuan)資格

本儀(yi)器為精密儀(yi)器，必須由訓練合格的(de)人員使(shi)用和操(cao)作。

4.3.5安全守(shou)則

操(cao)(cao)作人(ren)員必須隨時給予教(jiao)育和訓練，使其了解各種操(cao)(cao)作規則的重要性，并(bing)依安全(quan)規則操(cao)(cao)作。

4.3.6衣著(zhu)規定(ding)

操作人員不可穿有金屬(shu)裝飾(shi)(shi)的(de)(de)衣服或戴(dai)金屬(shu)手飾(shi)(shi)和手表等(deng)，這些金屬(shu)飾(shi)(shi)物(wu)很(hen)容(rong)易造(zao)成意(yi)外的(de)(de)感電。

4.3.7醫學規定

不(bu)能讓有心臟病(bing)或(huo)配戴心律(lv)調整器(qi)的人員(yuan)操作。

4.4測試安(an)全程序(xu)規定

一定(ding)(ding)要按照規定(ding)(ding)程序(xu)操作(zuo)。操作(zuo)人員(yuan)必須(xu)確定(ding)(ding)能夠*自主(zhu)掌控各(ge)部位的控制開(kai)關和功能。

4.5安全要(yao)點

● 非合格的操(cao)作(zuo)人(ren)員和不(bu)相關的人(ren)員應遠離測試(shi)區。

● 萬一(yi)發生(sheng)問題(ti)，請立即關閉電(dian)源并及時處理故障原因。

1.使用前期準備--測試前準備工作：

1.1.開(kai)機預熱(re)：將220V電源(yuan)插(cha)頭插(cha)入電源(yuan)插(cha)座，打開(kai)電源(yuan)開(kai)關(guan)，讓儀(yi)器預熱(re)15分(fen)鐘，保證測(ce)試(shi)數據穩(wen)定。若測(ce)試(shi)儀(yi)無(wu)常啟(qi)動(dong)，請按以下步驟檢查：

①檢查(cha)電源線是否接觸(chu)良好；

②檢查后面板上的電源開關是(shi)否已經打(da)開

③檢查(cha)保(bao)險(xian)絲(si)是否熔斷(duan)，如有必要，請(qing)更換(huan)保(bao)險(xian)絲(si)

④ ;如經上述檢查無誤后，測(ce)試儀仍(reng)未正常(chang)啟動，請本公司(si)進(jin)行解決。

1.2.準備好被測(ce)物，鏈(lian)接好測(ce)試(shi)探頭，把測(ce)試(shi)探頭接口(kou)與主(zhu)機接口(kou)相連接，并鎖(suo)定，防止(zhi)松動(dong)或接觸不良而對測(ce)試(shi)結果造成(cheng)影響.

1.3.接通(tong)電(dian)(dian)源，開(kai)啟電(dian)(dian)源開(kai)關，待(dai)儀器液晶(jing)顯(xian)示屏上顯(xian)示出廠(chang)家(jia)和產品信息后，如圖3，按(an)“顯(xian)示”鍵(jian)進(jin)入，

1.4.進(jin)入測(ce)(ce)試(shi)功(gong)能(neng)界(jie)面如圖4、圖5；如測(ce)(ce)試(shi)方阻(zu)(zu)(zu)時，請選(xuan)擇液晶顯示屏又(you)側對應(ying) 的(de)功(gong)能(neng)按鍵(jian)“方阻(zu)(zu)(zu)”，則進(jin)入方阻(zu)(zu)(zu)測(ce)(ce)試(shi)界(jie)面；如測(ce)(ce)試(shi)其他材(cai)料(liao)時，請選(xuan)擇“材(cai)料(liao)”則進(jin)入材(cai)料(liao)電(dian)(dian)阻(zu)(zu)(zu)，電(dian)(dian)阻(zu)(zu)(zu)率，電(dian)(dian)導率測(ce)(ce)試(shi)儀界(jie)面。

1.5.設(she)置(zhi)(zhi)好被測(ce)(ce)(ce)物(wu)所需(xu)之參(can)數(shu)，把被測(ce)(ce)(ce)物(wu)放(fang)于測(ce)(ce)(ce)試(shi)治具平臺上操(cao)作，測(ce)(ce)(ce)試(shi)完畢直接(jie)顯(xian)示測(ce)(ce)(ce)試(shi)數(shu)據。如配置(zhi)(zhi)軟(ruan)件，軟(ruan)件操(cao)作說明書同安裝軟(ruan)件在一起，請注意查看操(cao)作步驟.

以下分(fen)別講解方阻和(he)材料(liao)測試的(de)設置

2.四探針方阻測試(shi)步驟

2.1.上(shang)述步驟中1項，使用前期準備

2.2 把被(bei)測物測試所需要之參數(shu)數(shu)據設定：

2.2.1依據不同之測(ce)試(shi)樣品，選擇被測(ce)試(shi)電(dian)(dian)流(liu)(liu)，電(dian)(dian)流(liu)(liu)設置(zhi)：按方(fang)向(xiang)鍵移動光標至“電(dian)(dian)流(liu)(liu)”功能(neng)，按“設置(zhi)”鍵進入；再按“左右”方(fang)向(xiang)鍵選擇電(dian)(dian)流(liu)(liu)數據，選擇完畢后(hou)按“確定”鍵進行確認。按照以上步驟和方(fang)法選擇電(dian)(dian)壓、長度(du)單(dan)位、探針(zhen)形狀設定、溫度(du).

2.2.2.探(tan)(tan)(tan)(tan)針(zhen)(zhen)間距(ju)數(shu)(shu)(shu)據的(de)輸(shu)(shu)入(ru)，探(tan)(tan)(tan)(tan)針(zhen)(zhen)間距(ju)出廠時已經標定，無(wu)需再(zai)(zai)次(ci)測量，探(tan)(tan)(tan)(tan)針(zhen)(zhen)頭上(shang)有詳(xiang)細的(de)探(tan)(tan)(tan)(tan)針(zhen)(zhen)數(shu)(shu)(shu)據資料，探(tan)(tan)(tan)(tan)針(zhen)(zhen)間距(ju)的(de)設(she)置(zhi)：將(jiang)光標移動至“探(tan)(tan)(tan)(tan)針(zhen)(zhen)間距(ju)”按(an)“設(she)置(zhi)”鍵進(jin)(jin)入(ru)，通(tong)過面板上(shang)面的(de)“數(shu)(shu)(shu)字”按(an)鍵輸(shu)(shu)入(ru)數(shu)(shu)(shu)據按(an)“確(que)定”鍵進(jin)(jin)行確(que)認；按(an)照(zhao)以上(shang)方法和(he)步驟(zou)設(she)定”厚度“，注意厚度和(he)探(tan)(tan)(tan)(tan)針(zhen)(zhen)間距(ju)修正(zheng)(zheng)系數(shu)(shu)(shu)表已經設(she)置(zhi)在儀(yi)器程序中，自動修正(zheng)(zheng)，無(wu)需再(zai)(zai)次(ci)輸(shu)(shu)入(ru)和(he)查(cha)詢表格。

2.3.測試探頭和測試平臺操(cao)作(zuo)

選配(pei)測(ce)(ce)(ce)試(shi)平(ping)臺的(de)將被測(ce)(ce)(ce)物放在(zai)測(ce)(ce)(ce)試(shi)平(ping)臺上(shang)，調節探(tan)(tan)頭探(tan)(tan)針(zhen)(zhen)與樣品(pin)良好接(jie)觸，探(tan)(tan)頭有(you)二種(zhong)，一(yi)種(zhong)是(shi)探(tan)(tan)針(zhen)(zhen)是(shi)彈簧(huang)針(zhen)(zhen)型，一(yi)種(zhong)是(shi)硬針(zhen)(zhen)而探(tan)(tan)頭內(nei)腔有(you)彈簧(huang)；探(tan)(tan)頭有(you)方(fang)型和直線型兩(liang)種(zhong)結構；調節測(ce)(ce)(ce)試(shi)平(ping)臺上(shang)的(de)水平(ping)定(ding)位(wei)角，保證水平(ping)儀水準在(zai)中(zhong)心位(wei)置；放置好被測(ce)(ce)(ce)物品(pin)，后壓下(xia)探(tan)(tan)頭

銅合金導電電阻測試儀

采用(yong)四端測(ce)量法(fa)適用(yong)于生產企業、高(gao)等院校、科(ke)研部門，實驗(yan)室；是(shi)檢驗(yan)和分析導體材(cai)料(liao)(liao)和半導體材(cai)料(liao)(liao)質量的工具。可(ke)配(pei)置不(bu)同測(ce)量裝置測(ce)試不(bu)同類型材(cai)料(liao)(liao)之電(dian)阻(zu)率(lv)。液晶顯示，溫(wen)度補償功能，自(zi)(zi)動(dong)量程，自(zi)(zi)動(dong)測(ce)量電(dian)阻(zu)，電(dian)阻(zu)率(lv)，電(dian)導率(lv)數(shu)(shu)據。恒流源(yuan)輸出(chu)；選配(pei)：PC軟件過程數(shu)(shu)據處理和標準電(dian)阻(zu)校準儀(yi)器，薄膜按鍵操作簡單，中文(wen)或英文(wen)兩種語言界面選擇.

測(ce)(ce)(ce)試儀(yi)采用(yong)4.3吋大液晶屏幕顯示(shi)，同(tong)時顯示(shi)電(dian)阻值、電(dian)阻率、方(fang)阻、電(dian)導率值、溫(wen)度、壓(ya)強值、單(dan)位自動換算，配(pei)置不同(tong)的(de)(de)測(ce)(ce)(ce)試治(zhi)具可以(yi)滿足(zu)不同(tong)材料的(de)(de)測(ce)(ce)(ce)試要求(qiu)。測(ce)(ce)(ce)試治(zhi)具可以(yi)根據產品及測(ce)(ce)(ce)試項(xiang)目要求(qiu)選購(gou).

配套方案(an)：解決各材料狀(zhuang)態(tai) --固態(tai)、液態(tai)、氣態(tai)、顆(ke)粒狀(zhuang) 電(dian)阻、電(dian)阻率(lv)、電(dian)導(dao)率(lv)測量

本儀器(qi)配置各類測量裝置可以測試不同材料之電導率(lv)。液晶顯(xian)示(shi)，無需人工計算，并帶有溫度補(bu)償功能，電導率(lv)單位自動選擇。