各種材料介電常數測試儀技術指標
1．Q值測量
a．Q值測量范圍：2～1023。
b．Q值量程分檔：30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔。
c．標稱誤差
頻率范圍20kHz～10MHz；
固有誤差5％滿度值的2％；
工作誤差7％滿度值的2％；
頻率范圍10MHz～60MHz；
固有誤差6％;滿度值的2％；
工作誤差8％;滿度值的2％。
2．電感測量范圍：14.5nH~8.14H
3．電容測量：1~ 460
直接測量范圍1～460pF
主電容調節范圍30～500pF150pF以下±1.5pF；
準確度150pF以上±1％
注：大于直接測量范圍的電容測量見使用規則
4．信號源頻率覆蓋范圍
頻率范圍10kHz～50MHz
頻率分段（虛擬）
10～99.9999kHz
100～999.999kHz
1～9.99999MHz
10～60MHz
頻率指示誤差3times;10-5plusmn;1個字
5．Q合格指示預置功能
預置范圍：5～1000。
a. 環境溫度：0℃～+40℃
b．相對濕度：<80％；
c．電源：220Vplusmn;22V，50Hzplusmn;2.5Hz。
7．其他
a．消耗功率：約25W；
b．凈重：約7kg；
c. 外型尺寸：mm：380*132*280。
8．產品配置：
a.測試主機一臺；
b.電感9只；
c.夾具一 套

各種材料介電常數測試儀

各種因素，為提(ti)高(gao)材(cai)料的(de)(de)性能提(ti)供(gong)依(yi)據；儀(yi)器的(de)(de)基本原(yuan)理是采用(yong)高(gao)頻(pin)諧振法，并(bing)提(ti)供(gong)了，通用(yong)、多用(yong)途、多量程的(de)(de)阻(zu)抗(kang)測(ce)試。它(ta)以單片(pian)計算機作為儀(yi)器的(de)(de)控制，測(ce)量核心采用(yong)了頻(pin)率(lv)數字(zi)鎖定(ding)，標準頻(pin)率(lv)測(ce)試點(dian)自(zi)動(dong)設定(ding)，諧振點(dian)自(zi)動(dong)搜索，Q值(zhi)(zhi)量程自(zi)動(dong)轉換，數值(zhi)(zhi)顯(xian)示等新技術(shu)，改(gai)進了調諧回(hui)路(lu)，使(shi)得調諧測(ce)試回(hui)路(lu)的(de)(de)殘余(yu)電(dian)(dian)感(gan)減至低，并(bing)保(bao)留了原(yuan)Q表中(zhong)自(zi)動(dong)穩(wen)幅等技術(shu)，使(shi)得新儀(yi)器在使(shi)用(yong)時(shi)更(geng)為方便，測(ce)量值(zhi)(zhi)更(geng)為精確。儀(yi)器能在較(jiao)高(gao)的(de)(de)測(ce)試頻(pin)率(lv)條(tiao)件下(xia)，測(ce)量高(gao)頻(pin)電(dian)(dian)感(gan)或諧振回(hui)路(lu)的(de)(de)Q值(zhi)(zhi)，電(dian)(dian)感(gan)器的(de)(de)電(dian)(dian)感(gan)量和分布電(dian)(dian)容量，電(dian)(dian)容器的(de)(de)電(dian)(dian)容量和損(sun)耗(hao)角正(zheng)切(qie)值(zhi)(zhi)，電(dian)(dian)工材(cai)料的(de)(de)高(gao)頻(pin)介質(zhi)損(sun)耗(hao)，高(gao)頻(pin)回(hui)路(lu)有效并(bing)聯(lian)及串聯(lian)電(dian)(dian)阻(zu)，傳輸線(xian)的(de)(de)特性阻(zu)抗(kang)等。

該儀器(qi)用(yong)于科研(yan)機關、學校、工(gong)廠等(deng)單位對無機非(fei)金(jin)屬新材料性能的應用(yong)研(yan)究。

滿足標準：GBT 1409-2006 測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在
內）下電容率和介質損耗因數的推薦方法

平板電容極片Φ50mm/Φ38mm
可選頻率范圍20KHz-60MHz/200KHz-160MHz
間距可調范圍≥15mm
頻率指示誤差3×10-5±1個字
夾具插頭間距25mm±0.01mm
主電容調節范圍30-500/18-220pF
測微桿分辨率0.001mm
主調電容誤差<1%或1pF
夾具損耗角正切值≦4×10-4 （1MHz)
Q測試范圍2～1023

測試注意事項

a．本(ben)儀器應(ying)水平安放；

b．如果你需(xu)要較精(jing)確地(di)測量，請接通電源后，預(yu)熱30分鐘；

c．調(diao)節主調(diao)電容或主調(diao)電容數(shu)碼開(kai)關時(shi)，當接(jie)近諧振(zhen)點時(shi)請緩調(diao)；

d．被測件和(he)測試電(dian)路接線柱(zhu)間的(de)(de)接線應(ying)盡量短，足夠粗(cu)，并(bing)應(ying)接觸良好、可靠，以減(jian)少因接線的(de)(de)電(dian)阻和(he)分布參數所(suo)帶來的(de)(de)測量誤(wu)差；

e．被測(ce)件不要直接擱(ge)在(zai)面(mian)板頂(ding)部(bu)，離頂(ding)部(bu)一公分(fen)以(yi)上(shang)，必要時(shi)可(ke)用低(di)損耗的(de)絕緣(yuan)材料如(ru)聚苯(ben)乙烯等做成的(de)襯墊物襯墊；

f．手不得(de)靠近試件，以免人(ren)體感(gan)應影(ying)響(xiang)造成(cheng)測量誤(wu)差，有屏蔽的試件，屏蔽罩應連接在低電位端的接線柱。

特點：

1． 優化(hua)的測試(shi)電路設計使殘值(zhi)更小

2． 高頻信號采用數碼(ma)調諧器和頻率鎖定技術

3． LED 數字讀(du)出品質(zhi)因數，手(shou)動(dong)/自動(dong)量(liang)程切換

4． 自(zi)動(dong)掃(sao)描(miao)被(bei)測件(jian)諧振點，標(biao)頻單鍵設置和鎖定，大(da)大(da)提高測試速(su)度

主要技(ji)術特性(xing)：

介(jie)(jie)質(zhi)損(sun)(sun)耗(hao)和(he)介(jie)(jie)電(dian)(dian)常數(shu)是(shi)各(ge)(ge)種電(dian)(dian)瓷(ci)、裝(zhuang)置(zhi)瓷(ci)、電(dian)(dian)容(rong)(rong)器等(deng)陶瓷(ci)，還有(you)復(fu)合材料(liao)等(deng)的(de)(de)(de)一(yi)項(xiang)重要的(de)(de)(de)物理性質(zhi)，通過測(ce)定(ding)(ding)介(jie)(jie)質(zhi)損(sun)(sun)耗(hao)角正切tanδ及(ji)介(jie)(jie)電(dian)(dian)常數(shu)(ε)，可進(jin)一(yi)步(bu)了(le)解影(ying)響介(jie)(jie)質(zhi)損(sun)(sun)耗(hao)和(he)介(jie)(jie)電(dian)(dian)常數(shu)的(de)(de)(de)各(ge)(ge)種因素，為(wei)(wei)(wei)提高材料(liao)的(de)(de)(de)性能提供依據；儀(yi)器的(de)(de)(de)基(ji)本(ben)原理是(shi)采用(yong)高頻(pin)(pin)(pin)(pin)諧(xie)振(zhen)法，并提供了(le)，通用(yong)、多用(yong)途、多量(liang)(liang)程的(de)(de)(de)阻抗測(ce)試。它以單片計算機(ji)作為(wei)(wei)(wei)儀(yi)器的(de)(de)(de)控制(zhi)，測(ce)量(liang)(liang)核(he)心采用(yong)了(le)頻(pin)(pin)(pin)(pin)率(lv)(lv)數(shu)字鎖定(ding)(ding)，標準頻(pin)(pin)(pin)(pin)率(lv)(lv)測(ce)試點自動(dong)設定(ding)(ding)，諧(xie)振(zhen)點自動(dong)搜索，Q值(zhi)(zhi)量(liang)(liang)程自動(dong)轉換，數(shu)值(zhi)(zhi)顯示(shi)等(deng)新技術(shu)，改進(jin)了(le)調(diao)諧(xie)回(hui)(hui)路，使(shi)得調(diao)諧(xie)測(ce)試回(hui)(hui)路的(de)(de)(de)殘(can)余電(dian)(dian)感(gan)減至 低，并保留了(le)原Q表中自動(dong)穩幅等(deng)技術(shu)，使(shi)得新儀(yi)器在使(shi)用(yong)時更為(wei)(wei)(wei)方便(bian)，測(ce)量(liang)(liang)值(zhi)(zhi)更為(wei)(wei)(wei)精確。儀(yi)器能在較(jiao)高的(de)(de)(de)測(ce)試頻(pin)(pin)(pin)(pin)率(lv)(lv)條件下，測(ce)量(liang)(liang)高頻(pin)(pin)(pin)(pin)電(dian)(dian)感(gan)或諧(xie)振(zhen)回(hui)(hui)路的(de)(de)(de)Q值(zhi)(zhi)，電(dian)(dian)感(gan)器的(de)(de)(de)電(dian)(dian)感(gan)量(liang)(liang)和(he)分布電(dian)(dian)容(rong)(rong)量(liang)(liang)，電(dian)(dian)容(rong)(rong)器的(de)(de)(de)電(dian)(dian)容(rong)(rong)量(liang)(liang)和(he)損(sun)(sun)耗(hao)角正切值(zhi)(zhi)，電(dian)(dian)工材料(liao)的(de)(de)(de)高頻(pin)(pin)(pin)(pin)介(jie)(jie)質(zhi)損(sun)(sun)耗(hao)，高頻(pin)(pin)(pin)(pin)回(hui)(hui)路有(you)效并聯(lian)及(ji)串(chuan)聯(lian)電(dian)(dian)阻，傳輸線(xian)的(de)(de)(de)特性阻抗等(deng)。

售后服務

一(yi)、安裝調(diao)試(shi)：協助試(shi)驗機(ji)的(de)安裝，負(fu)責試(shi)驗機(ji)的(de)運輸(shu)、調(diao)試(shi)。

二、提供對故障2小(xiao)時內響應,24小(xiao)時內的現場(chang)服(fu)務。

三、培訓：安裝調(diao)試同時，在儀器操(cao)(cao)(cao)作現場一(yi)次(ci)性免費培訓操(cao)(cao)(cao)作人員2-3名，該操(cao)(cao)(cao)作人員應是由需方選(xuan)派的長期(qi)穩定的員工，培訓后能夠對(dui)設備基本(ben)原(yuan)理、軟件使用(yong)(yong)、操(cao)(cao)(cao)作、維護事項(xiang)理解和應用(yong)(yong)，使人員能夠獨立操(cao)(cao)(cao)作設備對(dui)樣品進行檢測、分析，同時能進行基本(ben)的維護。

四、軟件升(sheng)級：終生免費提(ti)供新(xin)版本(ben)控制軟件。

五、提供適(shi)用(yong)、詳細、全(quan)面(mian)的中文產品(pin)說明書和維修手冊(ce)。

六(liu)、驗收(shou)(shou)標準：試(shi)(shi)(shi)驗機按訂貨(huo)技(ji)術(shu)附件進(jin)行驗收(shou)(shou)。終驗收(shou)(shou)在買方進(jin)行，對用戶提供的試(shi)(shi)(shi)樣進(jin)行試(shi)(shi)(shi)驗，并提供測試(shi)(shi)(shi)報(bao)告。

七、物(wu)流(liu)情況：及時提供貨源(yuan)，確(que)保全國范圍內(nei)2-10內(nei)到貨，持續穩定地為代理(li)商做全面服務工作(zuo)(zuo)，提供合理(li)的運作(zuo)(zuo)空間。公司有專業的技術(shu)人員為您安裝指導(dao)。

試(shi)驗(yan)步驟(zou)

1 試樣的制備

&nbsp;試樣應從固體材料(liao)上截(jie)取，為了(le)滿足要求，應按相關的(de)標準(zhun)方法的(de)要求來制備。

 應(ying)精(jing)確地測量厚度，使偏差在士(0. 2%士。.005 mm)以(yi)內，測量點應(ying)均勻地分布在試樣表面。必(bi)要時，應(ying)測其有效(xiao)面積。

2 條件處理(li)

 條件處理應(ying)按相關規(gui)范規(gui)定進行。

3 測量

 電氣測量按本(ben)標(biao)準(zhun)或(huo)所使用的儀器(電橋(qiao))制造(zao)商推薦(jian)的標(biao)準(zhun)及相(xiang)應的方法進行。

 在(zai) 1 MHz或更高頻率下(xia)，必須減小(xiao)接線的(de)電(dian)(dian)(dian)感(gan)對測(ce)量結(jie)果的(de)影響。此(ci)時，可采用同軸接線系統(見(jian)圖 1所示)，當用變電(dian)(dian)(dian)抗法測(ce)量時，應(ying)提供一個固定微調電(dian)(dian)(dian)容器。

電極系統

 1. 試(shi)樣上不加電極

 表面電導(dao)率很低的(de)試樣可以不加電極而將試樣插人電極系統(tong)中測量(liang)，在這(zhe)個(ge)電極系統(tong)中，試樣的(de)一側或兩側有一個(ge)充滿空氣(qi)或液體的(de)間(jian)隙(xi)。

 平(ping)板電極或圓(yuan)柱形(xing)電極結構的電容計算(suan)公(gong)式由表 3給(gei)出。

 下面(mian)兩(liang)種型式的(de)電極(ji)裝置特別合適(shi)

1.1 空氣填充測微計電極

 當試(shi)樣插(cha)人(ren)和不插(cha)人(ren)時，電容都能(neng)調節到同(tong)一個值 ，不需進行測量系統(tong)的電氣校正就能(neng)測定電容率。電極系統(tong)中(zhong)可(ke)包(bao)括(kuo)保護電極.

1.2 流體排出法

 在(zai)電容率近似(si)等于試(shi)樣的電容率，而介質損(sun)耗因數(shu)可以(yi)忽略的一(yi)種(zhong)(zhong)液(ye)體(ti)(ti)內進行測(ce)量(liang)，這種(zhong)(zhong)測(ce)量(liang)與試(shi)樣厚度(du)測(ce)量(liang)的精度(du)關系不(bu)大(da)。當相繼采用兩(liang)種(zhong)(zhong)流體(ti)(ti)時，試(shi)樣厚度(du)和電極系統的尺寸可以(yi)從計算(suan)公(gong)式(shi)中消去

 試(shi)樣為(wei)與試(shi)驗池電(dian)(dian)極(ji)(ji)(ji)直徑(jing)相同的圓(yuan)片(pian)，或對測微計(ji)(ji)電(dian)(dian)極(ji)(ji)(ji)來說，試(shi)樣可以(yi)(yi)比電(dian)(dian)極(ji)(ji)(ji)小到足以(yi)(yi)使邊緣效(xiao)應忽(hu)略不計(ji)(ji) 在測微計(ji)(ji)電(dian)(dian)極(ji)(ji)(ji)中，為(wei)了忽(hu)略邊緣效(xiao)應，試(shi)樣直徑(jing)約比測微計(ji)(ji)電(dian)(dian)極(ji)(ji)(ji)直徑(jing)小兩(liang)倍的試(shi)樣厚(hou)度。

加(jia)到試(shi)樣上的(de)電極

2. 電(dian)(dian)(dian)極可(ke)選用(yong) 5.1.3中任意(yi)一種(zhong)。如(ru)果不(bu)用(yong)保護(hu)環。而且試(shi)樣上下的兩(liang)個(ge)電(dian)(dian)(dian)極難以對齊時(shi)，其中一個(ge)電(dian)(dian)(dian)極應比另一個(ge)電(dian)(dian)(dian)極大些。已經(jing)加有電(dian)(dian)(dian)極的試(shi)樣應放置(zhi)在兩(liang)個(ge)金(jin)屬電(dian)(dian)(dian)極之間，這兩(liang)個(ge)金(jin)屬電(dian)(dian)(dian)極要比試(shi)樣上的電(dian)(dian)(dian)極稍小些。對于平板形(xing)和圓(yuan)柱形(xing)這兩(liang)種(zhong)不(bu)同電(dian)(dian)(dian)極結構的電(dian)(dian)(dian)容計算公式(shi)以及(ji)邊(bian)緣電(dian)(dian)(dian)容近似計算的經(jing)驗(yan)公式(shi)由表1給(gei)出.

 對于介(jie)質(zhi)損(sun)耗因(yin)數的(de)測量(liang)，這種類(lei)型的(de)電(dian)極在(zai)高頻下不能滿足要求，除(chu)非試樣(yang)的(de)表面(mian)和金屬板都(dou)非常平整(zheng)。圖 1所(suo)示的(de)電(dian)極系(xi)統也要求試樣(yang)厚(hou)度均勻

試驗報告

• 試驗報告中應給出下列(lie)相關(guan)內(nei)容:
• 絕緣(yuan)材料(liao)的型(xing)號(hao)名稱(cheng)及種類(lei)、供貨形(xing)式、取樣(yang)(yang)方法(fa)、試(shi)(shi)樣(yang)(yang)的形(xing)狀及尺(chi)寸和(he)取樣(yang)(yang) 日期(qi)(并注明試(shi)(shi)樣(yang)(yang)厚度和(he)試(shi)(shi)樣(yang)(yang)在(zai)與(yu)電極接觸(chu)的表面進行處(chu)理的情況);
• 電極裝置類(lei)型，若有加在試(shi)樣上的電極應注明其類(lei)型;
• 試樣(yang)條件處(chu)理的(de)方法和處(chu)理時(shi)間;
• 施加的電壓;
• 介質損耗因數 tans(平均值);
• 測量儀(yi)器;
• 試驗時的溫度(du)和相(xiang)對(dui)濕度(du)以及試樣的溫度(du);
• 施加的(de)頻率;
• 相對電容率ε(平均值);
• 試驗 日期(qi) ;

帶(dai)屏(ping)蔽的(de)簡單西林電(dian)橋

 橋(qiao)的B點(在(zai)測量臂邊的電源接線端子)與屏蔽相(xiang)連并接地(di)。

 屏蔽能很好地起到防護高壓邊影響的作用，但是增加了屏蔽與接到測量臂接線端 M和 N的各根導線之間電容.此電容承受跨接測量臂兩端的電壓 這樣會引人一個通常使 tans的測量精度限于0.1%數量級的誤差，當電容C_X和C_N不平衡時尤為顯著。

高頻電橋
由于它不再是一個高壓電橋，因此承受電壓U₁的臂能容易地引人可調元件;替代法在此適用
 還應指出，帶有分開的初級繞組的電橋允許電源和檢測器互換位置。其平衡與在次級繞組中對應
的安匝數的補償相符.

低(di)頻電橋

 一般為高(gao)壓(ya)(ya)(ya)電(dian)(dian)(dian)橋，這不(bu)僅(jin)是(shi)(shi)(shi)由于靈敏度的(de)(de)(de)緣故，也因為在(zai)低(di)頻下正是(shi)(shi)(shi)高(gao)電(dian)(dian)(dian)壓(ya)(ya)(ya)技(ji)術特別對(dui)電(dian)(dian)(dian)介(jie)質(zhi)損耗關注的(de)(de)(de)問題。電(dian)(dian)(dian)容(rong)(rong)臂和(he)測量臂兩者的(de)(de)(de)阻抗(kang)大小(xiao)在(zai)數(shu)量級上(shang)相差很多，結果，絕大部(bu)分電(dian)(dian)(dian)壓(ya)(ya)(ya)都施(shi)加在(zai)電(dian)(dian)(dian)容(rong)(rong)Cx和(he) C}上(shang)，使電(dian)(dian)(dian)壓(ya)(ya)(ya)分配不(bu)平(ping)衡 上(shang)面給(gei)出的(de)(de)(de)電(dian)(dian)(dian)橋平(ping)衡條件只是(shi)(shi)(shi)當低(di)壓(ya)(ya)(ya)元(yuan)件對(dui)高(gao)壓(ya)(ya)(ya)元(yuan)件屏(ping)蔽時(shi)才成立。同時(shi)，屏(ping)蔽必須接(jie)地，以(yi)保證(zheng)平(ping)衡穩(wen)定。如圖A. 2所(suo)示。屏(ping)蔽與使用被保護的(de)(de)(de)電(dian)(dian)(dian)容(rong)(rong) C、和(he) C、是(shi)(shi)(shi)一致的(de)(de)(de)，這個保護對(dui)于Ch來說(shuo)是(shi)(shi)(shi)*的(de)(de)(de)。

 ;由于(yu)選(xuan)擇不同的(de)接地方法，實(shi)際上(shang)形成了(le)兩類電橋。