硅橡膠體積電阻率測試儀技術指標

1、電阻測量范圍： 1×104Ω ～1×1018Ω。

2、電(dian)流測量范(fan)圍為： 2×10-4A～1×10-16A

3、雙表(biao)頭顯(xian)示： 3.1/2位(wei)LED顯(xian)示

4、內置測(ce)試電壓：10V、50V、100V、250、500、1000V

5、基(ji)本準確度：1% (*注)

6、使(shi)用(yong)環(huan)境： 溫(wen)度：0℃～40℃，相對(dui)濕度<80%

7、機(ji)內測試(shi)電壓： 10/50/100/250/500/1000V 任意切換

8、供電形式： AC 220V，50HZ，功耗約(yue)5W

9、儀器尺(chi)寸： 285ｍｍ× 245ｍｍ× 120 mm

10、質量(liang)： 約(yue)2.5KG

硅橡膠體積電阻率測試儀

使用注意事項

★高阻測量一(yi)定要(yao)嚴格按使用方法步聚(ju)進行，否則有可能造成(cheng)儀器損壞或(huo)電人(ren)。

1 應在“Rx”兩端開路時調(diao)零（主機開機）

如接在電(dian)阻(zu)箱或被測量物體上時調零(ling)后(hou)(hou)測量會(hui)產生很大(da)的誤(wu)差。一(yi)般(ban)一(yi)次調零(ling)后(hou)(hou)在測試(shi)過程中(zhong)不需再(zai)調零(ling)，但改變測量電(dian)壓(ya)后(hou)(hou)可(ke)能要重新調零(ling)。

2 禁止將“Rx”兩端短路，以免微電(dian)流放大器(qi)受大電(dian)流沖擊

3 在測試(shi)過程中(zhong)不要隨意改(gai)動測量電(dian)壓(ya)，

★隨(sui)意改(gai)動測(ce)量電(dian)(dian)壓可能因電(dian)(dian)壓的(de)過(guo)高或電(dian)(dian)流過(guo)大(da)損壞被測(ce)試器(qi)件或測(ce)試儀器(qi)，而且有(you)的(de)材料是非線(xian)性的(de)，即電(dian)(dian)壓與(yu)電(dian)(dian)流是不符合歐姆定律，有(you)改(gai)變電(dian)(dian)壓時由于電(dian)(dian)流不是線(xian)性變化(hua)，所(suo)以(yi)測(ce)量的(de)電(dian)(dian)阻也會(hui)變化(hua)。

4 測量時從低(di)次檔逐漸拔往高次檔

★每撥一次稍(shao)停留1～2秒以便觀察顯(xian)(xian)示(shi)(shi)數(shu)(shu)字(zi)，當有顯(xian)(xian)示(shi)(shi)值時(shi)應(ying)停下(xia)，記錄當前的數(shu)(shu)字(zi)即(ji)是(shi)被測電(dian)阻值。若(ruo)顯(xian)(xian)示(shi)(shi)“1”時(shi)，表(biao)示(shi)(shi)欠量程應(ying)往高(gao)次檔(dang)拔(ba)。直到有顯(xian)(xian)示(shi)(shi)數(shu)(shu)字(zi)時(shi)為止(zhi)。當有顯(xian)(xian)示(shi)(shi)數(shu)(shu)字(zi)時(shi)不(bu)能再往高(gao)次檔(dang)撥，否(fou)則有可能損(sun)壞(huai)儀(yi)器(qi)(機內有過(guo)電(dian)流保(bao)護(hu)電(dian)路)。除104 Ω檔(dang)之外，當顯(xian)(xian)示(shi)(shi)低(di)于1.99，表(biao)示(shi)(shi)過(guo)量程應(ying)換低(di)檔(dang)!

5 大部(bu)分絕(jue)緣材料，特別(bie)是防(fang)靜電材料的電阻值在加電壓后會(hui)有一定變化(hua)而引起數字變化(hua)

★由(you)于本(ben)儀器(qi)的(de)分辯率很高(gao)，因而(er)會(hui)引起顯示值(zhi)的(de)末尾幾位(wei)數(shu)也變化，這不是儀器(qi)本(ben)身的(de)問(wen)題，而(er)是被測(ce)量對象的(de)導電(dian)機理(li)復雜而(er)使得阻值(zhi)有些(xie)變化。在這種情況下往往取2位(wei)有效(xiao)數(shu)就夠了。

6 接(jie)通電源(yuan)后(hou)，手指不能觸及高壓線的金屬部(bu)分(fen)

★本儀表有二(er)連根線(xian):高壓線(xian)(紅)和微電(dian)流(liu)測試(shi)線(xian)。在使用(yong)時要注意高壓線(xian)，開機后人(ren)不能觸(chu)及高壓線(xian)，以免電(dian)人(ren)或(huo)麻手。

7 測試過程中(zhong)不能觸(chu)摸微電流測試端

★微(wei)電(dian)(dian)流測試(shi)(shi)端 怕受到大(da)電(dian)(dian)流或人體感應電(dian)(dian)壓及靜電(dian)(dian)的沖(chong)擊(ji)。所以(yi)在開機(ji)后和測試(shi)(shi)過程中(zhong)不能與微(wei)電(dian)(dian)流測試(shi)(shi)端接觸，以(yi)免損壞儀表(biao)。

8 在(zai)測量高阻時，應(ying)采用屏蔽盒將(jiang)被(bei)測物體屏蔽.

★在測量大于1010 Ω以上時，為防止(zhi)外界干擾面而(er)引起(qi)讀數不穩。

9 每次測量完時應將(jiang)量程開(kai)關撥回“104 ”檔再進行下次測試

在測量(liang)(liang)時(shi)應逐(zhu)漸將量(liang)(liang)程(cheng)(cheng)開關(guan)(guan)撥到高阻檔，測量(liang)(liang)完(wan)時(shi)應將電流電阻量(liang)(liang)程(cheng)(cheng)、電壓量(liang)(liang)程(cheng)(cheng)開關(guan)(guan)撥回低(di)(di)檔。以 確保下次(ci)開機時(shi)量(liang)(liang)程(cheng)(cheng)開關(guan)(guan)處在低(di)(di)阻量(liang)(liang)程(cheng)(cheng)檔。

應(ying)用范圍 ：

a    材料(liao)高阻測(ce)試測(ce)量如防(fang)(fang)(fang)(fang)靜(jing)電產(chan)品（防(fang)(fang)(fang)(fang)靜(jing)電鞋、防(fang)(fang)(fang)(fang)靜(jing)電塑(su)料(liao)橡膠制(zhi)品、計(ji) 算機房防(fang)(fang)(fang)(fang)靜(jing)電活動(dong)地(di)板等）電阻值的檢測(ce)；

b    材(cai)料體積電(dian)阻(zu)(率)和表面電(dian)阻(zu)(率)測(ce)量(liang)；

c   &nbsp;電化學和材料(liao)測(ce)試,以(yi)及物理(li),光學和材料(liao)研究;

d    微(wei)弱電(dian)流測量如光(guang)電(dian)效應和器(qi)件暗電(dian)流測量。

范(fan)圍：

1本(ben)試驗方法包含直流(liu)(liu)絕緣電(dian)(dian)阻(zu)(zu)，體積(ji)電(dian)(dian)阻(zu)(zu)和(he)(he)表(biao)(biao)面電(dian)(dian)阻(zu)(zu)的測量所用(yong)直流(liu)(liu)程序(xu)。通過該測量及樣(yang)本(ben)和(he)(he)電(dian)(dian)極的幾何尺寸，可(ke)以(yi)計(ji)算(suan)(suan)出電(dian)(dian)絕緣材料的體積(ji)電(dian)(dian)阻(zu)(zu)和(he)(he)表(biao)(biao)面電(dian)(dian)阻(zu)(zu)，同時還可(ke)以(yi)計(ji)算(suan)(suan)出相應的電(dian)(dian)導(dao)和(he)(he)電(dian)(dian)導(dao)率(lv)。

2這(zhe)些試(shi)驗方(fang)法不(bu)適用于測量(liang)中等導(dao)(dao)電(dian)材料的電(dian)阻/電(dian)導(dao)(dao)。這(zhe)些材料評估(gu)可采用試(shi)驗方(fang)法D4496。

3本標準(zhun)描述了(le)幾(ji)種可選擇的(de)(de)測量電阻(zu)（或電導）的(de)(de)普通備用方法。特(te)殊材(cai)料科采(cai)用合適的(de)(de)標準(zhun)ASTM試(shi)驗(yan)方法進行(xing)測試(shi)，這些特(te)殊材(cai)料具有(you)電壓應力范圍和有(you)限起電時間，同時規定(ding)了(le)樣(yang)本結構和電極幾(ji)何形(xing)狀。這些個別(bie)特(te)殊試(shi)驗(yan)方法將能更好得定(ding)義測量值的(de)(de)精度和偏(pian)差。

4本(ben)標準并(bing)(bing)沒有(you)*列舉所(suo)有(you)的安(an)全聲明，如果有(you)必要(yao)(yao)，根據實際使(shi)用(yong)情況(kuang)進行斟酌。使(shi)用(yong)本(ben)規范(fan)前，使(shi)用(yong)者有(you)責任制(zhi)定符(fu)合安(an)全和(he)健康要(yao)(yao)求(qiu)的條例(li)和(he)規范(fan)，并(bing)(bing)明確(que)該規范(fan)的使(shi)用(yong)范(fan)圍。

電阻(zu)的作用：

電(dian)阻在電(dian)路中(zhong)的作用：利(li)用著名的歐姆定律可以利(li)用電(dian)阻控制(zhi)電(dian)路中(zhong)的電(dian)壓、電(dian)流。

電(dian)阻(zu)(zu)的主要物理特(te)征(zheng)就是可以(yi)變電(dian)能為(wei)(wei)熱(re)能，因此熱(re)水(shui)器中的發熱(re)元(yuan)件、電(dian)燈(deng)泡、電(dian)燙斗就是利用(yong)了電(dian)阻(zu)(zu)的作用(yong)制成(cheng)的。另外(wai)電(dian)阻(zu)(zu)有(you)怕熱(re)的特(te)性，當導體材(cai)料溫(wen)度升(sheng)高時材(cai)料的電(dian)阻(zu)(zu)率會增大（有(you)些材(cai)料則表現為(wei)(wei)減小），因此利用(yong)電(dian)阻(zu)(zu)的這種(zhong)特(te)性可以(yi)制作溫(wen)度測量計（不知道你看見過沒，插一根“鐵絲”就能測量溫(wen)度的方法(fa)就是利用(yong)了這種(zhong)電(dian)阻(zu)(zu)材(cai)料作用(yong)的）。

另(ling)外一些材料(liao)的電(dian)阻(zu)還會受(shou)到光(guang)(guang)線(xian)照射(she)的印象(xiang)，而利(li)用這樣的材料(liao)可以制(zhi)成光(guang)(guang)敏電(dian)阻(zu)，利(li)用這點作用可以方便(bian)的設計(ji)光(guang)(guang)控電(dian)路(lu)以及光(guang)(guang)的測量(liang)和光(guang)(guang)電(dian)轉換等領域。

試步驟(zou)：

1、測(ce)試溫度23&plusmn;2℃，相對濕(shi)度65±5%，無(wu)外界電磁場干擾環境中進行(xing)。

2、測(ce)試時對試樣所加電壓為(wei)100V~500V的直流電壓，選擇電壓檔次。

3、將試樣倒入高(gao)壓電極內，使液面剛(gang)好和環電極下緣全部接觸為止(zhi)。

4、將(jiang)充(chong)分(fen)放電(dian)后的試(shi)樣和電(dian)極，按固體(ti)（液體(ti)）體(ti)積及(ji)表(biao)面電(dian)阻率測試(shi)儀(yi)要求接線。

外電(dian)極（高(gao)壓(ya)電(dian)極）接高(gao)固體(ti)（液體(ti)）體(ti)積及表面電(dian)阻率測試儀的高(gao)壓(ya)輸出端。

內電(dian)極(ji)（測量(liang)電(dian)極(ji)）接固體(ti)(ti)（液體(ti)(ti)）體(ti)(ti)積(ji)及表面電(dian)阻率測試儀的測量(liang)端。

中(zhong)電(dian)極（環電(dian)極）接固體(ti)（液體(ti)）體(ti)積及表(biao)面電(dian)阻率(lv)測試儀的接地端。

5、儀器預(yu)熱30分鐘，穩定后(hou)調整儀器（調零），加上試驗1分鐘，讀取電(dian)阻指(zhi)示(shi)值，然后(hou)放電(dian)1分鐘，再測(ce)試一次，以(yi)二次的算術平均值作為試驗樣品電(dian)阻指(zhi)示(shi)值。

報告

報告應(ying)至少(shao)包括下述(shu)情況：

a) 電阻率測試儀（電阻率測定儀）關(guan)于材料的說(shuo)明和標志(zhi)（名稱、等(deng)級、顏色、制造商(shang)等(deng)）；

b) 電(dian)阻率(lv)測(ce)(ce)試(shi)儀(yi)（電(dian)阻率(lv)測(ce)(ce)定儀(yi)）試(shi)樣的形狀(zhuang)和(he)尺寸；

c) 電阻率測試儀（電阻率測定儀）電極和(he)保護裝置的形(xing)式、材料和(he)尺寸；

d) 電阻(zu)率測(ce)試儀（電阻(zu)率測(ce)定儀）試樣的處理（清潔、預(yu)干燥、處理時(shi)間(jian)、濕度和溫度）等；

e) 電阻(zu)率測(ce)(ce)試(shi)(shi)儀（電阻(zu)率測(ce)(ce)定儀）試(shi)(shi)驗條件（試(shi)(shi)樣溫度、相(xiang)對由度）；

f) 電阻率(lv)測(ce)試儀(yi)（電阻率(lv)測(ce)定儀(yi)）測(ce)量(liang)方法；

g) 電(dian)阻率(lv)測試儀（電(dian)阻率(lv)測定(ding)儀）施(shi)加電(dian)壓；

h) 電阻率(lv)測試儀（電阻率(lv)測定(ding)儀）體和(he)、電阻率(lv)（需(xu)要時(shi)）；

注1：當(dang)規定了(le)一個(ge)固定的電(dian)化時(shi)間時(shi)，注明此時(shi)間，給出(chu)個(ge)別值，并報告(gao)中(zhong)值作為體積(ji)電(dian)阻率。

注 2 ： 當在(zai)不(bu)同(tong)的(de)電(dian)化時間后(hou)測(ce)試(shi)時，應按如下要(yao)求報(bao)告：

當(dang)在(zai)(zai)(zai)相同的電化(hua)時間里試樣(yang)達到一(yi)個(ge)穩定狀(zhuang)態(tai)肘(zhou)，給(gei)出個(ge)別值(zhi)，并報(bao)告(gao)(gao)中(zhong)值(zhi)作為體(ti)積電阻(zu)(zu)率。 在(zai)(zai)(zai)這個(ge)電化(hua)時 間里有(you)某些試樣(yang)不能(neng)達到穩定狀(zhuang)態(tai)，則報(bao)告(gao)(gao)不能(neng)達到穩定狀(zhuang)態(tai)的試樣(yang)數，并分別地給(gei)出它們的結(jie)果(guo)。 當(dang)測試結(jie)果(guo)取決于電化(hua)時間時，則報(bao)告(gao)(gao)它們之(zhi)間的關系，例(li)如．以圖(tu)的形式或給(gei)出在(zai)(zai)(zai)電化(hua)Imin、10min和100min后的體(ti)積電阻(zu)(zu)率的中(zhong)值(zhi)。

i) 表面電阻率（需要時）：

給(gei)出電(dian)化時間(jian)為(wei)1 min的(de)個別值(zhi)，并報告其中值(zhi)作為(wei)表面電(dian)阻率。

體(ti)積電阻

在測試(shi)以前應使試(shi)樣具(ju)有(you)電(dian)(dian)(dian)介質穩(wen)定(ding)(ding)狀(zhuang)態(tai)。為此(ci)(ci)(ci)，通過測量裝置將試(shi)樣的(de)測量電(dian)(dian)(dian)極1和3短(duan)路(lu) （圖(tu)la）），逐步增加電(dian)(dian)(dian)流測量裝置的(de)靈敏度到(dao)符合要(yao)求，同時(shi)觀察短(duan)路(lu)電(dian)(dian)(dian)流的(de)變(bian)(bian)化，如(ru)此(ci)(ci)(ci)繼續到(dao)短(duan)路(lu)電(dian)(dian)(dian) 流達到(dao)相當(dang)恒定(ding)(ding)的(de)值為止(zhi)，此(ci)(ci)(ci)值應小于(yu)電(dian)(dian)(dian)化電(dian)(dian)(dian)流的(de)穩(wen)定(ding)(ding)值，或者小于(yu)電(dian)(dian)(dian)化100min的(de)電(dian)(dian)(dian)流。由于(yu)短(duan)路(lu)電(dian)(dian)(dian) 流有(you)可(ke)能改變(bian)(bian)方向(xiang)，因此(ci)(ci)(ci)即(ji)使電(dian)(dian)(dian)流為零，也要(yao)維持(chi)短(duan)路(lu)狀(zhuang)態(tai)到(dao)需要(yao)的(de)時(shi)間。當(dang)短(duan)路(lu)電(dian)(dian)(dian)流Io變(bian)(bian)得基本恒 定(ding)(ding)時(shi)（可(ke)能需要(yao)幾小時(shi)），記下Io的(de)值和方向(xiang)。

然后加上規定的直流電(dian)壓(ya)井同時開始記(ji)時。除非另(ling)有規定，在(zai)如(ru)(ru)下每個電(dian)化時間(jian)作一(yi)次測量： 1 min、2min、5min、10min、50min、100min。如(ru)(ru)果(guo)(guo)連續(xu)兩次測量得出同樣的結(jie)果(guo)(guo)，責可以(yi)結(jie)束試驗并用這個電(dian)流值(zhi)來計(ji)算體積(ji)電(dian)阻(zu)(zu)。記(ji)錄(lu)次觀察到相同測量結(jie)果(guo)(guo)時的電(dian)化時間(jian)。如(ru)(ru)果(guo)(guo)在(zai)100min內不 能達到穩定狀態(tai)，則記(ji)錄(lu)體積(ji)電(dian)阻(zu)(zu)與(yu)電(dian)化時間(jian)的函數關系。

作為驗收試驗，按(an)照有關規范的(de)規定，使(shi)用一個固定的(de)電化時間如(ru)lmin后的(de)電流值來計算體積電阻率。

電源

要求有(you)很(hen)穩定(ding)的(de)直流電(dian)(dian)(dian)壓源。這(zhe)可用蓄電(dian)(dian)(dian)油(you)或一個整(zheng)流穩壓的(de)電(dian)(dian)(dian)摞來提供。對電(dian)(dian)(dian)源的(de)穩定(ding)度要求 是由電(dian)(dian)(dian)壓變表面(mian)電(dian)(dian)(dian)阻率

為測定表面電(dian)(dian)(dian)(dian)阻率，試(shi)(shi)(shi)樣(yang)的(de)(de)(de)(de)(de)形(xing)狀不限，只要允許(xu)使用第三(san)電(dian)(dian)(dian)(dian)極(ji)(ji)(ji)(ji)(ji)來(lai)抵消體積(ji)效應引起的(de)(de)(de)(de)(de)誤差即可(ke)(ke)。推薦使用圖2及圖3所示的(de)(de)(de)(de)(de)三(san)電(dian)(dian)(dian)(dian)極(ji)(ji)(ji)(ji)(ji)裝置。用電(dian)(dian)(dian)(dian)極(ji)(ji)(ji)(ji)(ji)1作為被保(bao)護(hu)(hu)電(dian)(dian)(dian)(dian)極(ji)(ji)(ji)(ji)(ji)，電(dian)(dian)(dian)(dian)極(ji)(ji)(ji)(ji)(ji)3作為保(bao)護(hu)(hu)電(dian)(dian)(dian)(dian)極(ji)(ji)(ji)(ji)(ji)，電(dian)(dian)(dian)(dian)極(ji)(ji)(ji)(ji)(ji)2作為不 保(bao)護(hu)(hu)電(dian)(dian)(dian)(dian)極(ji)(ji)(ji)(ji)(ji)。可(ke)(ke)直接測量電(dian)(dian)(dian)(dian)極(ji)(ji)(ji)(ji)(ji)1和(he)2之間(jian)表面間(jian)隙(xi)的(de)(de)(de)(de)(de)電(dian)(dian)(dian)(dian)阻。這(zhe)樣(yang)測得的(de)(de)(de)(de)(de)電(dian)(dian)(dian)(dian)阻包括了電(dian)(dian)(dian)(dian)極(ji)(ji)(ji)(ji)(ji)1和(he)2之間(jian)的(de)(de)(de)(de)(de)表面電(dian)(dian)(dian)(dian)阻和(he)這(zhe)兩個電(dian)(dian)(dian)(dian)極(ji)(ji)(ji)(ji)(ji)間(jian)的(de)(de)(de)(de)(de)體積(ji)電(dian)(dian)(dian)(dian)阻。然而，對于(yu)很寬范圍的(de)(de)(de)(de)(de)環境條(tiao)件和(he)材料性(xing)能，當(dang)電(dian)(dian)(dian)(dian)極(ji)(ji)(ji)(ji)(ji)尺寸合適時， 體積(ji)電(dian)(dian)(dian)(dian)阻的(de)(de)(de)(de)(de)影響可(ke)(ke)忽略不計。為此，對于(yu)圖2和(he)圖3所示的(de)(de)(de)(de)(de)裝置，電(dian)(dian)(dian)(dian)極(ji)(ji)(ji)(ji)(ji)的(de)(de)(de)(de)(de)間(jian)隙(xi)寬度g至少(shao)應為試(shi)(shi)(shi)樣(yang)厚(hou)度 的(de)(de)(de)(de)(de)2倍，一般說來(lai)，1mm為切實(shi)可(ke)(ke)行的(de)(de)(de)(de)(de) 小間(jian)隙(xi)。被保(bao)護(hu)(hu)電(dian)(dian)(dian)(dian)極(ji)(ji)(ji)(ji)(ji)尺寸d1（或長度l1）應至少(shao)為試(shi)(shi)(shi)樣(yang)厚(hou)度h 的(de)(de)(de)(de)(de)10倍，通(tong)常至少(shao)為25mm。

也可以使用條形電(dian)極或具有合(he)適(shi)尺寸的(de)其他裝置。

注：由于通(tong)過試樣內層的(de)(de)電(dian)流(liu)的(de)(de)影響，表面電(dian)阻(zu)率(lv)的(de)(de)計算值與(yu)試樣和電(dian)極(ji)的(de)(de)尺(chi)寸有很大的(de)(de)關系，因此，為了測定時(shi)可進行(xing)比(bi)較，推薦使用與(yu)圖2所示的(de)(de)電(dian)極(ji)裝置的(de)(de)尺(chi)寸相(xiang)一(yi)致的(de)(de)試樣，其中d1= 50 mm, d2 = 60 mm, ds = 80 mm,

化導致(zhi)的電(dian)(dian)流變化與被(bei)測電(dian)(dian)流相比可忽略(lve)不計。

加到整個試樣上的試驗電壓通常規定為(wei)100V、250V、500V、1000 V、2500 V、5000 V, 10000 V 和15000 V。 常用(yong)的電壓是100V、500V和1000 V。

在某些情況下，試(shi)樣(yang)的電阻與施加(jia)電壓(ya)的極性有關

如果電阻(zu)是與(yu)極性(xing)有(you)關的(de)，則宜加以注明。取(qu)兩次電阻(zu)值的(de)幾何(he)平均值（對數(shu)算(suan)術平均值的(de)反(fan)對 數(shu)）作為結果。

由(you)于試(shi)樣電(dian)阻可能(neng)與(yu)電(dian)壓(ya)有(you)依存關系，因(yin)此應(ying)在報告中注(zhu)明試(shi)驗(yan)電(dian)壓(ya)值(zhi)。