膏體導電電阻測試儀在測量導(dao)電(dian)(dian)材料(liao)電(dian)(dian)阻率(lv)若(ruo)采用三(san)電(dian)(dian)極(ji)或二電(dian)(dian)極(ji)測量時會因為電(dian)(dian)極(ji)與(yu)被測量材料(liao)表(biao)面(mian)電(dian)(dian)阻而影響測量準確性，本裝置采用四電(dian)(dian)極(ji)法(fa)測量導(dao)電(dian)(dian)和(he)防靜電(dian)(dian)材料(liao)體(ti)積(ji)電(dian)(dian)阻率(lv)，可以克服(fu)表(biao)面(mian)接觸電(dian)(dian)阻造成(cheng)的誤差(cha)影響

靜電基本知識：

在空氣干燥(zao)的(de)季(ji)節，當(dang)你(ni)(ni)(ni)開門時偶爾(er)會有電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)擊的(de)感(gan)(gan)覺，這(zhe)就(jiu)是靜(jing)(jing)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)放電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)（ＥＳＤ）。當(dang)你(ni)(ni)(ni)感(gan)(gan)覺電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)擊時，你(ni)(ni)(ni)身上(shang)的(de)靜(jing)(jing)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)壓已超過２０００伏(fu)！當(dang)你(ni)(ni)(ni)看到(dao)(dao)(dao)放電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)火花時你(ni)(ni)(ni)身上(shang)的(de)靜(jing)(jing)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)已高(gao)(gao)(gao)達５０００伏(fu)！當(dang)你(ni)(ni)(ni)聽到(dao)(dao)(dao)放電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)聲(sheng)音時，你(ni)(ni)(ni)身上(shang)的(de)靜(jing)(jing)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)已高(gao)(gao)(gao)達８０００伏(fu)！但是現(xian)代許多高(gao)(gao)(gao)速(su)超大規模集成電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)路(lu)碰到(dao)(dao)(dao)僅(jin)幾十伏(fu)或更低的(de)靜(jing)(jing)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)就(jiu)會遭到(dao)(dao)(dao)損(sun)壞(huai)。也就(jiu)是說當(dang)你(ni)(ni)(ni)接觸這(zhe)些電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)路(lu)時，你(ni)(ni)(ni)既沒有感(gan)(gan)覺到(dao)(dao)(dao)又沒有看到(dao)(dao)(dao)更沒有聽到(dao)(dao)(dao)靜(jing)(jing)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)放電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)時，這(zhe)塊電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)路(lu)就(jiu)已部分損(sun)傷或*損(sun)壞(huai)，而你(ni)(ni)(ni)可能還在找其硬件或軟件的(de)原因。

由于人體及(ji)周圍物體極易帶(dai)電(dian)(dian)幾(ji)千甚至幾(ji)萬伏靜電(dian)(dian)，如果靜電(dian)(dian)放電(dian)(dian)或使用不當，將損壞儀器或使儀器性能下(xia)降。

膏體導電電阻測試儀

1、寬范圍測量電阻，測量檔(dang)位自動(dong)轉(zhuan)換

2、正反向(xiang)測量直(zhi)流電阻，消除熱電勢影響

2、十(shi)檔分級(ji)校準

3、電阻溫度系數自動換算

4、液(ye)晶顯示，中(zhong)文(wen)菜(cai)單操(cao)作(zuo)

5、常用電(dian)線電(dian)纜數據庫，數據庫可手動添加、查詢、更新

6、五(wu)次(ci)結(jie)果測量，分次(ci)自(zi)動判定

7、數據存儲、顯示(shi)、打(da)印

8、 USB通訊，即插即用(yong)

按(an)照(zhao)硅(gui)片電阻(zu)率測(ce)(ce)(ce)量的(de)標準(zhun)（ASTM F84）及(ji)標準(zhun)設(she)計制造該儀(yi)器設(she)計符合(he)GB/T 1551-2009 《硅(gui)單(dan)晶電阻(zu)率測(ce)(ce)(ce)定方法》、GB/T 1551-1995《硅(gui)、鍺單(dan)晶電阻(zu)率測(ce)(ce)(ce)定直流(liu)兩(liang)探(tan)針(zhen)法》、GB/T 1552-1995《硅(gui)、鍺單(dan)晶電阻(zu)率測(ce)(ce)(ce)定直流(liu)四探(tan)針(zhen)法》并參考美國(guo) A.S.T.M 標準(zhun)，本機(ji)配置232電腦接(jie)口(kou)及(ji)USB兩(liang)種接(jie)口(kou)，本機(ji)采用范德堡測(ce)(ce)(ce)量原理能改(gai)善樣品因(yin)幾何尺寸、邊界效應、探(tan)針(zhen)不(bu)等距(ju)和機(ji)械游(you)移等外部(bu)因(yin)素對(dui)測(ce)(ce)(ce)量結果的(de)影響及(ji)誤差，比(bi)市場上(shang)其他普通的(de)四探(tan)針(zhen)測(ce)(ce)(ce)試方法更(geng)加(jia)完善和進步,特別是方塊(kuai)電阻(zu)值較小的(de)產品測(ce)(ce)(ce)量，更(geng)加(jia)準(zhun)確.

本(ben)儀器(qi)本(ben)儀器(qi)采用(yong)四探針(zhen)(zhen)單(dan)(dan)電(dian)測(ce)(ce)量(liang)(liang)法適用(yong)于生產企業(ye)、高等院校、科研(yan)部門，是檢驗和(he)分析(xi)導體材料(liao)和(he)半(ban)導體材料(liao)質量(liang)(liang)的一種重(zhong)要(yao)(yao)的工(gong)(gong)具。本(ben)儀器(qi)配(pei)(pei)置(zhi)各類測(ce)(ce)量(liang)(liang)裝置(zhi)可(ke)以(yi)(yi)測(ce)(ce)試不(bu)(bu)同材料(liao)。液(ye)晶(jing)(jing)顯示，無(wu)需人(ren)工(gong)(gong)計算，并帶有(you)溫度補(bu)償(chang)功能，電(dian)阻(zu)率單(dan)(dan)位自(zi)(zi)動(dong)(dong)選(xuan)擇，儀器(qi)自(zi)(zi)動(dong)(dong)測(ce)(ce)量(liang)(liang)并根據測(ce)(ce)試結(jie)果自(zi)(zi)動(dong)(dong)轉換量(liang)(liang)程(cheng)，無(wu)需人(ren)工(gong)(gong)多(duo)次和(he)重(zhong)復設置(zhi)。采用(yong)高精度AD芯片控制，恒流輸(shu)出(chu)，結(jie)構(gou)合理、質量(liang)(liang)輕(qing)便(bian)，運輸(shu)安全(quan)、使用(yong)方便(bian)；選(xuan)配(pei)(pei)：配(pei)(pei)備軟件可(ke)以(yi)(yi)由電(dian)腦操控，并保存和(he)打印數據，自(zi)(zi)動(dong)(dong)生成(cheng)報(bao)表；本(ben)儀器(qi)采用(yong)4.3吋大液(ye)晶(jing)(jing)屏幕(mu)顯示，同時顯示液(ye)晶(jing)(jing)顯示：電(dian)阻(zu)、電(dian)阻(zu)率、方阻(zu)、溫度、單(dan)(dan)位換算、溫度系(xi)數、電(dian)流、電(dian)壓、探針(zhen)(zhen)形狀、探針(zhen)(zhen)間距(ju)、厚度 、電(dian)導率，配(pei)(pei)置(zhi)不(bu)(bu)同的測(ce)(ce)試治(zhi)具可(ke)以(yi)(yi)滿(man)足不(bu)(bu)同材料(liao)的測(ce)(ce)試要(yao)(yao)求。測(ce)(ce)試治(zhi)具可(ke)以(yi)(yi)根據產品及測(ce)(ce)試項目要(yao)(yao)求選(xuan)購

維護和保養

1 .使用者的維護

為了(le)防(fang)止意(yi)外(wai)發生，請不(bu)要接(jie)(jie)觸(chu)機內部件(jian)。本機器內部所有的零件(jian)，不(bu)需使(shi)用(yong)者的維護。如果機器有異常情(qing)況發生，請直(zhi)接(jie)(jie)與瑞柯儀器公司廠(chang)家或其的經銷商給予維護。

2. 使用者的修改

使用者不得(de)自(zi)行更改機(ji)器(qi)(qi)的線路(lu)或零件，如被更改機(ji)器(qi)(qi)后保修則自(zi)動失效并且本(ben)公(gong)(gong)司(si)不負任何事(shi)故責任。在保修內使用未(wei)經我公(gong)(gong)司(si)認可的零件或附件造成故障(zhang)也不予(yu)保證。如發(fa)現(xian)送回(hui)檢(jian)修的機(ji)器(qi)(qi)被更改，將機(ji)器(qi)(qi)的電路(lu)和零件修復回(hui)原來(lai)設(she)計的狀(zhuang)態，并收取修護費用。

3.測試工作站

3.1工(gong)作位置

工(gong)(gong)作(zuo)站的位置選(xuan)擇必須安排在一般人員非必經的處所，使(shi)非工(gong)(gong)作(zuo)人員選(xuan)離工(gong)(gong)作(zuo)站。如果(guo)因為條件(jian)限制(zhi)的安排而無法(fa)做到時(shi)，必須將工(gong)(gong)作(zuo)站與(yu)其(qi)這它設施(shi)隔開并且特別標(biao)明“測試工(gong)(gong)作(zuo)站”。如果(guo)工(gong)(gong)作(zuo)站與(yu)其(qi)它作(zuo)業站非常接近時(shi)，必須特別注意安全的問題。在測試時(shi)必須標(biao)明“測試執行中，非工(gong)(gong)作(zuo)人員請勿靠(kao)近”

4.輸(shu)入電源

輸入：220V±10%  使用頻率：50Hz

4.3.3工作場所

盡可能使用非導電的工作桌工作臺。操(cao)作人員和待測物(wu)之間不得(de)使用任(ren)何金(jin)屬。操(cao)作人員的位置不得(de)有(you)跨越待測物(wu)去操(cao)作或(huo)調整(zheng)測試儀器的現(xian)象。測試場所必須隨時(shi)保(bao)持整(zheng)齊、干凈，不得(de)雜(za)亂無章。測試站及(ji)其周邊之空氣中不能含(han)有(you)可燃氣體或(huo)在易燃物(wu)質。

4.3.4人員(yuan)資格

本儀器為精密儀器，必(bi)須由訓練(lian)合格的人員使(shi)用和(he)操作。

4.3.5安(an)全守則

操(cao)(cao)作(zuo)人員(yuan)必須隨時給予教(jiao)育(yu)和訓練，使其了解各種操(cao)(cao)作(zuo)規則的重要性，并依安全規則操(cao)(cao)作(zuo)。

4.3.6衣(yi)著規定

操作人員(yuan)不可穿有(you)金屬裝(zhuang)飾的(de)衣服或戴金屬手飾和手表(biao)等，這些金屬飾物很容易(yi)造成意外的(de)感電。

4.3.7醫學規(gui)定

不能讓(rang)有(you)心臟病或配戴心律調整器的(de)人員操作。

4.4測(ce)試安(an)全程序規定(ding)

一定要按照規定程序操作(zuo)。操作(zuo)人員必(bi)須(xu)確定能夠(gou)*自主掌控各部位的控制開關和功能。

4.5安全要點

● 非合格的(de)操作人(ren)員和(he)不相關的(de)人(ren)員應(ying)遠離測試(shi)區。

● 萬(wan)一發生問題，請立即關閉電源并及(ji)時處理故(gu)障原因。

1.使用前(qian)期準備(bei)--測試前(qian)準備(bei)工作：

1.1.開機預熱：將220V電(dian)源插頭插入電(dian)源插座，打開電(dian)源開關，讓儀器(qi)預熱15分鐘，保證測(ce)試數據穩定。若測(ce)試儀無常啟動，請(qing)按以下步驟(zou)檢查：

①檢查(cha)電源線是(shi)否接觸良(liang)好；

②檢查后面板(ban)上的電源開(kai)關是否已經打(da)開(kai)

③檢查(cha)保險絲是否熔(rong)斷，如有必要，請更換保險絲

④ 如經(jing)上述(shu)檢(jian)查無(wu)誤后，測試儀仍未正(zheng)常啟(qi)動，請(qing)本公(gong)司進行解決。

1.2.準備好被測(ce)物，鏈接(jie)好測(ce)試探頭，把測(ce)試探頭接(jie)口(kou)與(yu)主機接(jie)口(kou)相連(lian)接(jie)，并鎖(suo)定，防止松動或接(jie)觸不良而對測(ce)試結果造成(cheng)影響.

1.3.接通(tong)電源，開啟(qi)電源開關(guan)，待儀器液晶顯(xian)(xian)示屏上(shang)顯(xian)(xian)示出廠(chang)家和產品信息后(hou)，如圖3，按(an)“顯(xian)(xian)示”鍵進(jin)入，

1.4.進(jin)入(ru)(ru)測試(shi)功能(neng)界(jie)面如圖(tu)(tu)4、圖(tu)(tu)5；如測試(shi)方阻時，請選擇(ze)液晶顯(xian)示屏又側對應 的功能(neng)按(an)鍵“方阻”，則(ze)進(jin)入(ru)(ru)方阻測試(shi)界(jie)面；如測試(shi)其他(ta)材(cai)(cai)(cai)料時，請選擇(ze)“材(cai)(cai)(cai)料”則(ze)進(jin)入(ru)(ru)材(cai)(cai)(cai)料電(dian)(dian)阻，電(dian)(dian)阻率，電(dian)(dian)導率測試(shi)儀(yi)界(jie)面。

1.5.設置(zhi)好被測(ce)(ce)物(wu)所需之參數，把(ba)被測(ce)(ce)物(wu)放于測(ce)(ce)試治(zhi)具(ju)平臺上操(cao)(cao)作，測(ce)(ce)試完(wan)畢直接顯(xian)示(shi)測(ce)(ce)試數據。如配置(zhi)軟件，軟件操(cao)(cao)作說明書(shu)同安裝軟件在一(yi)起，請注(zhu)意(yi)查看操(cao)(cao)作步驟.

以下(xia)分別講解方(fang)阻和材料測試的設置

2.四探(tan)針方阻測試步驟

2.1.上述(shu)步驟中(zhong)1項，使用(yong)前期(qi)準備(bei)

2.2 把被(bei)測物測試所需(xu)要之參(can)數數據設定(ding)：

2.2.1依據(ju)不同之測試樣(yang)品，選(xuan)擇(ze)被測試電流，電流設置：按(an)(an)(an)方向鍵移(yi)動光標至“電流”功能，按(an)(an)(an)“設置”鍵進入；再按(an)(an)(an)“左右”方向鍵選(xuan)擇(ze)電流數據(ju)，選(xuan)擇(ze)完畢(bi)后按(an)(an)(an)“確(que)(que)定”鍵進行(xing)確(que)(que)認。按(an)(an)(an)照以(yi)上(shang)步驟和(he)方法選(xuan)擇(ze)電壓、長(chang)度單位、探針形狀(zhuang)設定、溫度.

2.2.2.探針(zhen)(zhen)(zhen)間距(ju)(ju)數據的輸入，探針(zhen)(zhen)(zhen)間距(ju)(ju)出廠時已經標定(ding)，無(wu)需再次測量，探針(zhen)(zhen)(zhen)頭上有詳細的探針(zhen)(zhen)(zhen)數據資(zi)料，探針(zhen)(zhen)(zhen)間距(ju)(ju)的設(she)置(zhi)：將(jiang)光標移動(dong)至“探針(zhen)(zhen)(zhen)間距(ju)(ju)”按“設(she)置(zhi)”鍵(jian)進入，通過面板(ban)上面的“數字”按鍵(jian)輸入數據按“確定(ding)”鍵(jian)進行確認(ren)；按照以上方法和(he)步(bu)驟設(she)定(ding)”厚度“，注意厚度和(he)探針(zhen)(zhen)(zhen)間距(ju)(ju)修正系數表已經設(she)置(zhi)在儀器程序中，自(zi)動(dong)修正，無(wu)需再次輸入和(he)查詢表格。

2.3.測(ce)試(shi)(shi)探(tan)頭和測(ce)試(shi)(shi)平(ping)臺(tai)操作

選配(pei)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)平(ping)臺(tai)(tai)的將被測(ce)(ce)(ce)(ce)物(wu)放在測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)平(ping)臺(tai)(tai)上，調節探(tan)(tan)頭(tou)(tou)探(tan)(tan)針(zhen)與樣(yang)品良好(hao)接觸，探(tan)(tan)頭(tou)(tou)有(you)二(er)種，一種是探(tan)(tan)針(zhen)是彈(dan)簧針(zhen)型，一種是硬針(zhen)而探(tan)(tan)頭(tou)(tou)內腔(qiang)有(you)彈(dan)簧；探(tan)(tan)頭(tou)(tou)有(you)方型和直線(xian)型兩種結構；調節測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)平(ping)臺(tai)(tai)上的水(shui)平(ping)定位(wei)角，保證(zheng)水(shui)平(ping)儀水(shui)準在中心(xin)位(wei)置(zhi)；放置(zhi)好(hao)被測(ce)(ce)(ce)(ce)物(wu)品，后壓(ya)下(xia)探(tan)(tan)頭(tou)(tou)