點對點電阻測試儀適用于橡膠、塑料、薄膜、及粉體、液體、及固體和膏體形狀的各種絕緣材料體積和表面電阻值的測定。機內測試電壓為10V/50V/100V/250V/500V/1000V任意可調。電阻量限從1×10⁴Ω ～1×10¹⁸ Ω，是目前國內測量范圍寬，準確度醉高的數字超高阻測量儀。電流測量范圍為2×10^-4 ～1×10^-16Ａ,本儀器具有精度高、顯示迅速、性好穩定、讀數方便.

技術指標  

1、電阻測量范圍：1 ×10⁴Ω ～1×10¹⁸Ω。

2、電流測量范圍：2×10^-4A～1×10^-16A。

3、顯 示(shi) 方 式： 32位LED液晶屏顯示(shi)（直接顯示(shi)電(dian)阻值和電(dian)流）。

4、內置測(ce)試電壓： 10V 、50V、100V、250、500、1000V。

5、基本準確度：1% 。

6、使用環境、溫度：0℃～40℃，相(xiang)對濕度<80%。

7、機內測(ce)試電(dian)壓： 10V/50V/100/250/500/1000V 任意切換(huan)。

8、供電形(xing)式： AC 220V，50HZ，功耗約5W。

9、儀器尺寸： 285ｍｍ× 245ｍｍ× 120 mm。

10、質   量：約2.5KG。

11、電(dian)   極(ji)：粉體電(dian)極(ji)、液電(dian)極(ji)、固體電(dian)極(ji)（標配）。

符合標準：

GB/T 1410-2006《 固體(ti)絕緣材料體(ti)積電(dian)阻率(lv)和表面電(dian)阻率(lv)試(shi)驗方法(fa)》

GB/T 10581-2006 《絕緣(yuan)材(cai)料在高溫下電阻和(he)電阻率的試驗方法》

GB/T 1692-2008 《硫化橡(xiang)膠 絕緣電阻(zu)率的測定》

GB/T 2439-2001《硫化(hua)橡膠或熱塑性橡膠 導(dao)電性能和耗散(san)性能電阻率的測定》

GB/T 12703.4-2010 《紡織品  靜電(dian)性能的評定  第４部(bu)分(fen)：電(dian)阻(zu)率(lv)》

GB/T 10064-2006《測定固體絕緣(yuan)材(cai)料絕緣(yuan)電阻的試驗方法(fa)》

ASTM D257-99《絕緣材料的直流電阻或電導試驗方法(fa)》

典型應用

1、測(ce)量絕緣材料電(dian)阻率（需計算）、電(dian)阻。

2、測量防靜電(dian)材料的電(dian)阻及電(dian)阻率（需計算）。

3、測量計算機房(fang)用活動地板的系統電阻值。

4、測量防靜電(dian)鞋、導電(dian)鞋的(de)電(dian)阻(zu)值(zhi)。

5、光電(dian)二(er)極管(guan)暗電(dian)流(liu)測量。

6、物(wu)理,光學(xue)和(he)材料研究。

標準配置： 

1、測試(shi)儀器(qi)：1臺。

2、固(gu)體電極(ji)：1套。

2、電源(yuan)線：1條。

3、測(ce)量線：3根（屏蔽線、測(ce)試接(jie)線、接(jie)地線）。

4、使用說明書：1份。

備注：

點對點電阻測試儀配不同的測量電極（夾具）可以測量不同材料（固體、粉體或液體）的體積電阻率和表面電阻率或電導率，*符合國家標準GB1410－2006固體電工絕緣材料絕緣電阻、體積電阻系數和表面電阻試驗方法，ASTM D257 絕緣材料的直流電阻或電導試驗方法　等標準要求。

操作方式：

1、電(dian)流先(xian)手動調零。

2、調整(zheng)測試電壓。

3、旋轉電阻波蕩觀察數值。

4、讀取電阻值。

5、根據(ju)電阻(zu)值按以下公式求出體積電阻(zu)率(lv)和表面電阻(zu)率(lv)。

1）體(ti)(ti)積電阻率

式中：PV——體(ti)積電阻(zu)率，單(dan)位(wei)為(wei)歐姆(mu)厘(li)米（Ω.cm）；

RX——按測(ce)得的體(ti)積電阻(zu)，單位(wei)為歐姆(mu)（Ω）；

A——是(shi)被(bei)保護電極的有效(xiao)面積，單位為平(ping)方米（m2）或（平(ping)方厘(li)米（cm2））

h——試樣的平均厚度(du)，單位為米(m)或厘米（cm）

（2）表(biao)面電阻率(lv)計算：

表面電(dian)阻(zu)率計算公式如下：

式(shi)中：Ps——體積電阻率，單(dan)位為歐姆米（Ω.cm）；

RX——按(an)測得的(de)表(biao)電阻，單位為歐(ou)姆（Ω）；

P——是被(bei)保護電極的(de)有效周長(chang)，單位為米（m）或（厘米（cm））

g——兩電極之間的(de)距離，單位為(wei)米(mi)(mi)(m)或厘米(mi)(mi)（cm）

備注：P=15.708(cm) g=0.2(cm)

配套(tao)的電極(ji)尺寸：

圓柱(zhu): 直徑50 mm

圓環: 外徑(jing) 75 mm ,內徑(jing) 55± 0.2 mm  厚度10 高度30

圓盤: 直徑(jing)100mm

屏蔽箱尺寸：20cm*20cm*9 cm  內部高度50mm

固體(ti)(ti)式樣尺寸要(yao)求測體(ti)(ti)積電(dian)(dian)(dian)阻率直徑(jing)大(da)于(yu)55mm（大(da)于(yu)電(dian)(dian)(dian)極內(nei)徑(jing)）  測表(biao)面積電(dian)(dian)(dian)阻直接大(da)于(yu)100mm， 低于(yu)此直徑(jing)大(da)小需改電(dian)(dian)(dian)極

下列定義適用于本標準

1、體積電阻　volume resistance

在試樣兩(liang)相對(dui)表面上放置的(de)兩(liang)電極(ji)間所加(jia)直流(liu)電壓與(yu)流(liu)過這兩(liang)個電極(ji)之(zhi)間的(de)穩態(tai)電流(liu)之(zhi)商(shang)，不(bu)包　括沿試樣表面的(de)電流(liu)，在兩(liang)電極(ji)上可能形成的(de)極(ji)化(hua)忽(hu)略不(bu)計。

注：除非(fei)另有(you)規定，體(ti)積電(dian)阻是在電(dian)化一(yi)分(fen)鐘(zhong)后測定。

2、體積電(dian)阻(zu)率　volume resistivity

在絕緣材料里(li)面的(de)直流(liu)電(dian)場強度和穩態(tai)電(dian)流(liu)密度之商，即單位體積(ji)內的(de)體積(ji)電(dian)阻。

注：體積(ji)電阻率的SI單位是(shi)。 ' m。 實(shi)際上也使(shi)用。? cm 這一(yi)單位。

3、表面電阻　surface resistance

在試樣的(de)(de)(de)其表面上的(de)(de)(de)兩(liang)電(dian)極間所加電(dian)壓與在規定的(de)(de)(de)電(dian)化時間里流過兩(liang)電(dian)極間的(de)(de)(de)電(dian)流之(zhi)商，在兩(liang)電(dian)　極上可能形成的(de)(de)(de)極化忽略不計。

注1：除非另有規定，表面(mian)電阻是在電化(hua)一分鐘后(hou)測定。

注2：通常電流(liu)主(zhu)要(yao)流(liu)過試樣的一(yi)個(ge)表面層，但也包(bao)括(kuo)流(liu)過試樣體(ti)積(ji)內的成分。

4、表面電阻率　surface resistivity

在絕(jue)緣(yuan)材料的表(biao)面(mian)層(ceng)里(li)的直(zhi)流電場強(qiang)度(du)與(yu)線電流密度(du)之(zhi)商，即單位面(mian)積內的表(biao)面(mian)電阻(zu)。　面(mian)積的大　小是不重要的。

注：表面(mian)電阻率的SI單位(wei)是0。實(shi)際上(shang)有時(shi)也用(yong) “歐每平方單位(wei)”來表示。

5、電極electrodes

電(dian)極是具有一定(ding)形狀(zhuang)、尺寸和結構(gou)的(de)與被測(ce)試樣相接觸(chu)的(de)導體。

注：絕緣(yuan)電(dian)阻是(shi)加在與試樣相接觸的兩(liang)電(dian)極之間的直流電(dian)壓與通過兩(liang)電(dian)極的總電(dian)流之商。絕緣(yuan)電(dian)阻取(qu)決于試樣的

 注意事項
儀器使用前請仔細閱讀以下內容，否則將造成儀器損壞或電擊情況。
1.檢查儀器后面板電壓量程是否置于10V檔，電流電阻量程是否置于104檔。
2.接通電源調零，在“Rx”兩端開路的情況下，調零使電流表的顯示為0000。然后關機。
3.將待測試樣平鋪在不保護電極正中央，然后用保護電極壓住樣品，再插入被保護電極。
4.測體積電阻時測試按鈕撥到Rv邊，測表面電阻時測試按鈕撥到Rs邊，
5.接好測試線，將測試線將主機與屏蔽箱連接好。量程置于104檔，打開主機后面板電源開關按鈕。從儀器后面板調電壓按鈕到所要求的測量電壓

6.電流電阻量程按鈕從低檔位逐漸撥，每撥一次停留1-2秒觀察顯示數字，當被測電阻大于儀器測量量程時，電阻表顯示“1”，此時應繼續將儀器撥到量程更高的位置。測量儀器有顯示值時應停下，在1min的電化時間后測量電阻，當前的數字乘以檔次即是被測電阻。
7.測試完畢先將量程撥至（104）檔，然后將測量電壓撥至10V檔，后將測試按鈕撥到中央位置后關閉電源。然后進行下一次測試。
8.應在“Rx”兩端開路時調零，一般一次調零后在測試過程中不需再調零。
9.禁止將“RX”兩端短路，以免微電流放大器受大電流沖擊。
10.不得在測試過程中不要隨意改動測量電壓。
11.測量時從低次檔逐漸撥往高次檔。
12.接通電源后，手指不能觸及高壓線的金屬部分。
13.不得測試過程中不能觸摸微電流測試端。
14.在測量高阻時，應采用屏蔽盒將被測物體屏蔽。
15.嚴禁在試測過程隨意改變電壓量程及在通電過程中打開主機。
16.嚴禁電流電阻量程未在104檔及電壓在10V檔，更換試樣。

電阻率測定儀重要性和用途

電阻(zu)或(huo)(huo)電導可用于間(jian)接預(yu)測(ce)某(mou)些(xie)材料的(de)(de)(de)低頻(pin)率電介(jie)(jie)質(zhi)擊穿和損耗因(yin)數(shu)性(xing)能(neng)。電阻(zu)或(huo)(huo)電導通(tong)常作為(wei)濕度含量(liang)，固化程度，機械連續性(xing)或(huo)(huo)不同類型老化的(de)(de)(de)間(jian)接測(ce)量(liang)方式(shi)。這些(xie)間(jian)接測(ce)量(liang)的(de)(de)(de)效用取決于通(tong)過理(li)論或(huo)(huo)經驗研究確立(li)的(de)(de)(de)相關度。表(biao)面電阻(zu)的(de)(de)(de)降低可導致因(yin)為(wei)電場強(qiang)度降低而(er)發生電介(jie)(jie)質(zhi)擊穿電壓(ya)的(de)(de)(de)增(zeng)加，或(huo)(huo)者由(you)于應力(li)面積的(de)(de)(de)增(zeng)加而(er)發生電介(jie)(jie)質(zhi)擊穿電壓(ya)的(de)(de)(de)降低。

絕緣(yuan)材料用(yong)于電(dian)(dian)子(zi)系統(tong)彼此和與(yu)地面(mian)(mian)之(zhi)間隔離，該材料能(neng)提供(gong)零部件的(de)(de)機(ji)(ji)械支撐。由于此用(yong)途(tu)，通(tong)常(chang)要(yao)求具有(you)盡(jin)可(ke)能(neng)高的(de)(de)絕緣(yuan)電(dian)(dian)阻(zu)，以與(yu)可(ke)接受的(de)(de)機(ji)(ji)械、化學和耐熱性(xing)能(neng)*。因為絕緣(yuan)電(dian)(dian)阻(zu)或電(dian)(dian)導(dao)組合了體積和表面(mian)(mian)電(dian)(dian)阻(zu)或電(dian)(dian)導(dao)，當(dang)實際使用(yong)時(shi)，要(yao)求試(shi)驗樣本和電(dian)(dian)極有(you)相同的(de)(de)形(xing)式，此時(shi)的(de)(de)測量值是非常(chang)有(you)用(yong)的(de)(de)。表面(mian)(mian)電(dian)(dian)阻(zu)或電(dian)(dian)導(dao)隨著(zhu)濕度發生快速變(bian)化，然而(er)體積電(dian)(dian)阻(zu)或電(dian)(dian)導(dao)則稍微(wei)變(bian)化，盡(jin)管總的(de)(de)變(bian)化在一些(xie)變(bian)化可(ke)能(neng)更(geng)大。

所有的電(dian)(dian)(dian)介質電(dian)(dian)(dian)阻或(huo)電(dian)(dian)(dian)導都取決于(yu)電(dian)(dian)(dian)化時間長短和(he)施加的電(dian)(dian)(dian)壓值（除(chu)了普通的環境變量之外）。這些因素必(bi)須(xu)已(yi)知，同時報告，以使得電(dian)(dian)(dian)阻或(huo)電(dian)(dian)(dian)導測(ce)量值有意義。在(zai)電(dian)(dian)(dian)絕緣材料工業中(zhong)，形(xing)容詞“表觀”通常適用于(yu)在(zai)任(ren)意選擇(ze)電(dian)(dian)(dian)化時間條件下獲得的電(dian)(dian)(dian)阻值。

體積電阻或電導可通過在特定應用場合設計某個絕緣體使用的電阻和尺寸數據計算得出。研究已經表明電阻或電導隨著溫度和濕度的變化而變化（1,2,3,4）⁴，同時在設計工作條件時，必須已知這種變化。體積電阻或電導測量值通常用于檢查絕緣材料的均勻性，或者對于加工，可探測影響材料質量的導電雜質，而這不容易通過其它方法觀察到。

體積電阻超過10²¹Ω·cm(10¹⁹Ω&middot;cm)時，樣本在普通實驗室條件測試獲得的數值計算得出體積電阻，如果結果確實可疑，則應考慮通常使用的測量設備的局限性。

　表(biao)(biao)面(mian)電(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)或電(dian)(dian)(dian)(dian)導(dao)不(bu)能(neng)(neng)準(zhun)確測量，只(zhi)能(neng)(neng)近似(si)測量，因(yin)為(wei)(wei)體積電(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)或電(dian)(dian)(dian)(dian)導(dao)總是受(shou)到測量方法的影(ying)響(xiang)。測量值還受(shou)到表(biao)(biao)面(mian)污染的影(ying)響(xiang)。表(biao)(biao)面(mian)污染及其積聚(ju)速(su)度受(shou)到許多因(yin)素的影(ying)響(xiang)，包括(kuo)靜(jing)電(dian)(dian)(dian)(dian)充電(dian)(dian)(dian)(dian)和界面(mian)張力。這(zhe)些因(yin)素反過(guo)來(lai)可(ke)以影(ying)響(xiang)表(biao)(biao)面(mian)電(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)。當(dang)包括(kuo)污染，但是在通常常識(shi)下(xia)判斷不(bu)是電(dian)(dian)(dian)(dian)絕緣材料的材料性能(neng)(neng)時，此時表(biao)(biao)面(mian)電(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)或電(dian)(dian)(dian)(dian)導(dao)可(ke)視(shi)為(wei)(wei)與材料性能(neng)(neng)相關。