塑料、絕緣材料介電常數測試儀作為新一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器，測試頻率上限達到目前國內高的160MHz。

 塑料、絕緣材料介電常數測試儀技術參數：

1．Q值(zhi)測量

a．Q值(zhi)測量(liang)范(fan)圍：2～1023。

b．Q值量程分檔：30、100、300、1000、自動換(huan)檔或手動換(huan)檔。

c．標稱誤差

     頻(pin)率范圍(wei)(wei)（100kHz～10MHz）：  頻(pin)率范圍(wei)(wei)（10MHz～160MHz）：

     固有誤(wu)差：≤5％±;滿度值(zhi)的(de)(de)2%  固有誤(wu)差：≤6％±滿度值(zhi)的(de)(de)2%

     工作誤差：≤7％±滿(man)度值的2%  工作誤差：≤8％±滿(man)度值的2%

2．電感(gan)測量范(fan)圍：4.5nH~7.9mH

3．電(dian)容測量：1~205

     主(zhu)電容調節范圍(wei)：18～220pF

     準確度：150pF以下±;1.5pF；  150pF以上±1%

     注：大于直接測(ce)量(liang)范圍的電(dian)容測(ce)量(liang)見后頁(ye)使用說明

4.   信號源頻(pin)率覆蓋范(fan)圍

     頻率范圍CH1:0.1～0.999999MHz, CH2:  1～9.99999MHz,

     CH3:10～99.9999MHz, CH1  :100～160MHz,

5．Q合格(ge)指示預置(zhi)功能:      預置(zhi)范圍：5～1000。

6．B-測(ce)試(shi)儀(yi)正常工作(zuo)條件

a.   環境溫度：0℃～+40℃；

b．相對濕度：<80％；

c．電源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。

7．其他

a．消耗功率(lv)：約(yue)25W；

b．凈(jing)重：約7kg；

c.  外(wai)型尺寸：（l×b×h）mm：380×132×280。

高(gao)頻/音頻介電常數測試(shi)儀GDAT-A測試(shi)注意事項

a．本儀器應水平(ping)安放；

b．如果你(ni)需要較精確地測量，請接通電(dian)源后，預熱(re)30分鐘；

c．調節(jie)主調電容或主調電容數碼開(kai)關時，當接近(jin)諧振點時請緩(huan)調；

d．被測(ce)件和(he)測(ce)試電路接線(xian)(xian)柱間的接線(xian)(xian)應(ying)(ying)盡量短，足夠(gou)粗(cu)，并應(ying)(ying)接觸良好、可靠，以(yi)減少因(yin)接線(xian)(xian)的電阻(zu)和(he)分布參數所帶來的測(ce)量誤差；

e．被測件不要(yao)直接擱在面板頂部，離頂部一公分以上，必要(yao)時可用(yong)低損(sun)耗(hao)的絕緣(yuan)材料如聚(ju)苯乙烯等(deng)做(zuo)成的襯墊物襯墊；

f．手不得靠(kao)近試(shi)件，以免人體感(gan)應(ying)影響造成測量(liang)誤差，有(you)屏蔽的(de)試(shi)件，屏蔽罩應(ying)連接在(zai)低電位端(duan)的(de)接線(xian)柱(zhu)。

影響(xiang)介電性能的因(yin)素

 下面(mian)分(fen)別討論頻率(lv)、溫度(du)(du)、濕度(du)(du)和電氣強度(du)(du)對介(jie)電性能的影響。

1頻率

 因為只有少數材(cai)料如石(shi)英玻(bo)璃、聚(ju)苯乙烯或(huo)聚(ju)乙烯在很寬的頻率范圍(wei)內它們(men)的 。r和(he)  tans幾乎是(shi)恒定(ding)的，且(qie)被用作工程(cheng)電(dian)介質材(cai)料，然而一般的電(dian)介質材(cai)料必須在所使用的頻率下測量其介質損耗因數和(he)電(dian)容率。

 電(dian)容率(lv)和介(jie)質損耗因數的(de)變化(hua)是由于介(jie)質極(ji)化(hua)和電(dian)導(dao)而產生，重要的(de)變化(hua)是極(ji)性分子引起的(de)偶極(ji)子極(ji)化(hua)和材料的(de)不均勻性導(dao)致的(de)界面(mian)極(ji)化(hua)所引起的(de).

2溫度

 損(sun)(sun)(sun)耗指數(shu)在一個頻(pin)率下(xia)可(ke)以出(chu)現(xian)一個大(da)值(zhi)，這個頻(pin)率值(zhi)與電介(jie)(jie)質(zhi)材料(liao)的溫(wen)度有關。介(jie)(jie)質(zhi)損(sun)(sun)(sun)耗因數(shu)和電容率的溫(wen)度系數(shu)可(ke)以是正的或負(fu)的，這取(qu)決于(yu)在測(ce)量溫(wen)度下(xia)的介(jie)(jie)質(zhi)損(sun)(sun)(sun)耗指數(shu)大(da)值(zhi)位置。

3濕度(du)

 極化的(de)程度隨(sui)水(shui)分的(de)吸收量或電介(jie)質(zhi)材料表(biao)面水(shui)膜的(de)形成而(er)增加，其結果(guo)使電容率、介(jie)質(zhi)損耗(hao)因(yin)數和(he)(he)直流電導(dao)率增大。因(yin)此試(shi)驗(yan)前和(he)(he)試(shi)驗(yan)時對環(huan)境濕(shi)度進行(xing)控制(zhi)是*的(de).

 注:濕度的顯著影響常常發(fa)生在 1MHz以下及微波頻率(lv)范(fan)圍內

4電場強度

 存在界面極化時，自由(you)離子的(de)數(shu)目(mu)隨電(dian)場強度增大而增加(jia)，其損耗指數(shu)大值的(de)大小和位置也隨此而變。

 在較(jiao)高的頻率下，只要電(dian)介質中不出現局部放電(dian)，電(dian)容率和介質損耗因(yin)數與(yu)電(dian)場強(qiang)度無關

測量方(fang)法(fa)的選擇：

 高頻(pin)/音頻(pin)介(jie)電常(chang)數測試儀(yi)GDAT-A測量電容率和(he)介(jie)質損耗因數的方(fang)法(fa)可分成兩種:零點指示法(fa)和(he)諧振法(fa)。

1  零(ling)點(dian)指示法(fa)適用于頻率(lv)不超過50  MHz時的(de)測(ce)量。測(ce)量電(dian)(dian)容率(lv)和(he)介質損耗(hao)因數可(ke)用替代法(fa);也(ye)就是在接人試樣(yang)和(he)不接試樣(yang)兩(liang)種狀態(tai)下，調節回路的(de)一個臂使電(dian)(dian)橋(qiao)(qiao)平衡(heng)。通常回路采(cai)用西林電(dian)(dian)橋(qiao)(qiao)、變(bian)壓器電(dian)(dian)橋(qiao)(qiao)(也(ye)就是互感(gan)藕合(he)比(bi)例臂電(dian)(dian)橋(qiao)(qiao))和(he)并(bing)聯  T型網絡。變(bian)壓器電(dian)(dian)橋(qiao)(qiao)的(de)優點(dian):采(cai)用保護(hu)電(dian)(dian)極(ji)不需任何(he)外加附(fu)件(jian)或(huo)過多操作(zuo)，就可(ke)采(cai)用保護(hu)電(dian)(dian)極(ji);它(ta)沒有其他網絡的(de)缺點(dian)。

2 諧振(zhen)法(fa)適(shi)用于10  kHz一幾(ji)百MHz的(de)(de)頻(pin)率范圍(wei)內的(de)(de)測量(liang)。該(gai)方(fang)(fang)法(fa)為替代(dai)法(fa)測量(liang)，常用的(de)(de)是變(bian)電(dian)(dian)抗(kang)法(fa)。但該(gai)方(fang)(fang)法(fa)不(bu)適(shi)合采用保護電(dian)(dian)極。

 注:典(dian)型的(de)電橋(qiao)和電路示(shi)例見附錄。附錄中所舉的(de)例子自然是不(bu)全面(mian)的(de)，敘述(shu)電橋(qiao)和側量方法報導見有(you)關文獻和該種儀器的(de)原理說明書。

試驗報告

 試驗(yan)報告(gao)中(zhong)應(ying)給出下(xia)列相(xiang)關內(nei)容(rong):

 絕緣材料(liao)的(de)型號名稱及種類、供貨形式、取(qu)樣(yang)(yang)方法(fa)、試樣(yang)(yang)的(de)形狀及尺寸和取(qu)樣(yang)(yang)  日期(并注明試樣(yang)(yang)厚(hou)度和試樣(yang)(yang)在(zai)與(yu)電極接觸的(de)表面進行處理的(de)情況);

 試樣條件處理的方法和處理時(shi)間;

 電極(ji)裝置類(lei)型(xing)，若有加在試樣上的電極(ji)應注明其(qi)類(lei)型(xing);

 測(ce)量儀器;

 試(shi)驗時(shi)的溫度和相對濕(shi)度以(yi)及試(shi)樣的溫度;

 施加的(de)電壓(ya);

 施加的頻(pin)率(lv);

 相對電容率ε(平(ping)均值(zhi));

 介質損耗因數(shu)  tans(平(ping)均值);

 試驗 日(ri)期  ;

 相對電容率(lv)和介質損耗(hao)因數值以及由它們計算(suan)得到的值如損耗(hao)指數和損耗(hao)角，必要時，應(ying)給出(chu)與溫度和頻率(lv)的關(guan)系。

特點：  

◎  本公司創新的自動Q值(zhi)保持技術，使測(ce)Q分辨率至0.1Q，使tanδ分辨率至0.00005 。

◎  能(neng)對(dui)固體絕緣材料在(zai)10kHz～120MHz介質損耗角(tanδ)和介電常數(shu)(&epsilon;)變(bian)化的測(ce)試(shi)。

◎  調諧(xie)回(hui)路殘(can)余(yu)電感值低至8nH，保證(zheng)100MHz的(tanδ)和(ε)的誤差較小。

◎  特(te)制LCD屏菜單式(shi)顯(xian)示(shi)多參數：Q值，測(ce)試頻率(lv)，調(diao)諧狀態等。

◎  Q值量(liang)程自動/手動量(liang)程控制(zhi)。

◎  DPLL合(he)成(cheng)發生1kHz～60MHz, 50kHz～160MHz測試信(xin)號。獨立信(xin)號 源輸(shu)出口，所以本機(ji)又是一臺合(he)成(cheng)信(xin)號源。

◎  測(ce)試裝置符合國標GB/T 1409-2006,美標ASTM D150以及IEC60250規范要(yao)求。

介(jie)(jie)(jie)質損耗(hao)(hao)：絕(jue)緣材料在電(dian)(dian)(dian)場作(zuo)用下，由于介(jie)(jie)(jie)質電(dian)(dian)(dian)導和介(jie)(jie)(jie)質極(ji)化的(de)滯后效應，在其內(nei)(nei)部(bu)引起的(de)能量損耗(hao)(hao)。也叫介(jie)(jie)(jie)質損失，簡稱介(jie)(jie)(jie)損。在交變電(dian)(dian)(dian)場作(zuo)用下，電(dian)(dian)(dian)介(jie)(jie)(jie)質內(nei)(nei)流(liu)過(guo)的(de)電(dian)(dian)(dian)流(liu)相量和電(dian)(dian)(dian)壓相量之(zhi)間的(de)夾角(jiao)（功率因(yin)數角(jiao)Φ）的(de)余角(jiao)δ稱為介(jie)(jie)(jie)質損耗(hao)(hao)角(jiao)。

損耗(hao)(hao)(hao)因子(zi)也指耗(hao)(hao)(hao)損正(zheng)切，是交流電被轉(zhuan)化為熱能(neng)的介電損耗(hao)(hao)(hao)（耗(hao)(hao)(hao)散的能(neng)量(liang)(liang)）的量(liang)(liang)度，一(yi)般情況下都期望耗(hao)(hao)(hao)損因子(zi)低些好

概(gai)念：

電(dian)(dian)(dian)介(jie)(jie)(jie)(jie)質(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)在外(wai)電(dian)(dian)(dian)場作(zuo)用(yong)下，其內(nei)部(bu)會有(you)發(fa)熱(re)現象，這(zhe)說明有(you)部(bu)分電(dian)(dian)(dian)能(neng)已轉化為(wei)熱(re)能(neng)耗(hao)(hao)(hao)散掉，電(dian)(dian)(dian)介(jie)(jie)(jie)(jie)質(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)在電(dian)(dian)(dian)場作(zuo)用(yong)下，在單位時間內(nei)因發(fa)熱(re)而消(xiao)耗(hao)(hao)(hao)的能(neng)量稱為(wei)電(dian)(dian)(dian)介(jie)(jie)(jie)(jie)質(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)的損耗(hao)(hao)(hao)功率，或簡(jian)稱介(jie)(jie)(jie)(jie)質(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)損耗(hao)(hao)(hao)（diclectric  loss）。介(jie)(jie)(jie)(jie)質(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)損耗(hao)(hao)(hao)是(shi)應用(yong)于交流(liu)電(dian)(dian)(dian)場中電(dian)(dian)(dian)介(jie)(jie)(jie)(jie)質(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)的重要品質(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)指標(biao)之一。介(jie)(jie)(jie)(jie)質(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)損耗(hao)(hao)(hao)不但消(xiao)耗(hao)(hao)(hao)了電(dian)(dian)(dian)能(neng)，而且使元件發(fa)熱(re)影響其正常(chang)工(gong)作(zuo)。如果介(jie)(jie)(jie)(jie)電(dian)(dian)(dian)損耗(hao)(hao)(hao)較(jiao)大，甚至(zhi)會引起介(jie)(jie)(jie)(jie)質(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)的過熱(re)而絕緣破(po)壞，所以從這(zhe)種意義上講(jiang)，介(jie)(jie)(jie)(jie)質(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)損耗(hao)(hao)(hao)越小(xiao)越好。

主要技術(shu)特性：

介(jie)(jie)質(zhi)損(sun)(sun)耗(hao)(hao)和(he)介(jie)(jie)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)常數(shu)是各(ge)種電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)瓷、裝置瓷、電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)容(rong)器(qi)等(deng)(deng)陶(tao)瓷，還(huan)有(you)復合材料(liao)等(deng)(deng)的(de)(de)(de)(de)一(yi)項重要的(de)(de)(de)(de)物理(li)性質(zhi)，通過測(ce)(ce)(ce)定(ding)介(jie)(jie)質(zhi)損(sun)(sun)耗(hao)(hao)角正切(qie)tanδ及(ji)(ji)介(jie)(jie)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)常數(shu)(ε)，可進一(yi)步了(le)解影響(xiang)介(jie)(jie)質(zhi)損(sun)(sun)耗(hao)(hao)和(he)介(jie)(jie)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)常數(shu)的(de)(de)(de)(de)各(ge)種因素(su)，為(wei)提(ti)高材料(liao)的(de)(de)(de)(de)性能提(ti)供依據；儀(yi)器(qi)的(de)(de)(de)(de)基本原理(li)是采用(yong)(yong)高頻(pin)諧振(zhen)(zhen)法，并(bing)提(ti)供了(le)，通用(yong)(yong)、多用(yong)(yong)途、多量(liang)(liang)程的(de)(de)(de)(de)阻(zu)抗(kang)(kang)測(ce)(ce)(ce)試(shi)。它以單(dan)片計算機(ji)作為(wei)儀(yi)器(qi)的(de)(de)(de)(de)控制，測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)核心(xin)采用(yong)(yong)了(le)頻(pin)率(lv)數(shu)字鎖定(ding)，標準頻(pin)率(lv)測(ce)(ce)(ce)試(shi)點自(zi)動(dong)設定(ding)，諧振(zhen)(zhen)點自(zi)動(dong)搜索，Q值量(liang)(liang)程自(zi)動(dong)轉換，數(shu)值顯示等(deng)(deng)新(xin)(xin)技術(shu)，改進了(le)調諧回路(lu)(lu)，使(shi)得(de)調諧測(ce)(ce)(ce)試(shi)回路(lu)(lu)的(de)(de)(de)(de)殘余電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)感減至低，并(bing)保留(liu)了(le)原Q表中自(zi)動(dong)穩幅(fu)等(deng)(deng)技術(shu)，使(shi)得(de)新(xin)(xin)儀(yi)器(qi)在使(shi)用(yong)(yong)時更為(wei)方便(bian)，測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)值更為(wei)精確。儀(yi)器(qi)能在較高的(de)(de)(de)(de)測(ce)(ce)(ce)試(shi)頻(pin)率(lv)條件(jian)下(xia)，測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)高頻(pin)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)感或諧振(zhen)(zhen)回路(lu)(lu)的(de)(de)(de)(de)Q值，電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)感器(qi)的(de)(de)(de)(de)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)感量(liang)(liang)和(he)分布(bu)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)容(rong)量(liang)(liang)，電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)容(rong)器(qi)的(de)(de)(de)(de)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)容(rong)量(liang)(liang)和(he)損(sun)(sun)耗(hao)(hao)角正切(qie)值，電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)工材料(liao)的(de)(de)(de)(de)高頻(pin)介(jie)(jie)質(zhi)損(sun)(sun)耗(hao)(hao)，高頻(pin)回路(lu)(lu)有(you)效(xiao)并(bing)聯(lian)及(ji)(ji)串聯(lian)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)，傳輸線的(de)(de)(de)(de)特性阻(zu)抗(kang)(kang)等(deng)(deng)。

使用方法

高(gao)頻(pin)Q表是多用途的阻(zu)抗測(ce)量儀器，為了(le)提高(gao)測(ce)量精度，除了(le)使(shi)(shi)Q表測(ce)試回路(lu)(lu)本身殘余參量盡(jin)可(ke)能(neng)地(di)小，使(shi)(shi)耦合回路(lu)(lu)的頻(pin)響盡(jin)可(ke)能(neng)地(di)好之外，還(huan)要掌握正確(que)的測(ce)試方法和殘余參數(shu)修正方法。

1．測試注意事項

a．本儀器應水(shui)平安放(fang)；

b．如果你需要較精確地測量，請接通電源后，預熱30分鐘；

c．調(diao)(diao)節主(zhu)(zhu)調(diao)(diao)電(dian)容(rong)或主(zhu)(zhu)調(diao)(diao)電(dian)容(rong)數碼開關時(shi)，當(dang)接(jie)近諧振點時(shi)請緩調(diao)(diao)；

d．被測件(jian)和(he)測試(shi)電路(lu)接(jie)(jie)線(xian)(xian)(xian)柱間的(de)接(jie)(jie)線(xian)(xian)(xian)應盡量(liang)(liang)短，足夠粗，并(bing)應接(jie)(jie)觸良好、可靠(kao)，以減少因(yin)接(jie)(jie)線(xian)(xian)(xian)的(de)電阻和(he)分布參數所帶來的(de)測量(liang)(liang)誤差(cha)；

e．被測(ce)件不(bu)要直(zhi)接擱在面板頂(ding)部，離(li)頂(ding)部一公分(fen)以上，必要時可用低損耗(hao)的(de)絕緣(yuan)材料如聚(ju)苯乙(yi)烯等做成(cheng)的(de)襯墊物襯墊；

f．手不得靠近(jin)試件，以免(mian)人體感應影響造成測量(liang)誤(wu)差，有(you)屏蔽的試件，屏蔽罩(zhao)應連接(jie)在低電位(wei)端的接(jie)線柱。

2．高頻線圈的Q值(zhi)測量（基本測量法）

介電常數介質損耗測試儀  VFD顯示 采用新穎的大屏幕VFD點陣顯示器，在嚴冬和盛夏都能清晰顯示。全中文操作菜單，操作提示各種警告信息，直觀明了，不需查閱說明書即可操作。

打印 儀器附有微型(xing)打印機(ji)，以(yi)中文方(fang)式打印輸出測量(liang)結(jie)果及狀態。

RS232 儀器具有RS232接口，與計(ji)算機連接便于數據的統(tong)計(ji)和處理及(ji)保存(cun)。

可選購(gou)與計算機通信應用程序(xu)。

硫化橡膠介電常數介質損耗測試儀 電介質的用途

 電(dian)介質一般被用在兩個(ge)不(bu)同的方(fang)面:用作(zuo)電(dian)氣回路(lu)元(yuan)(yuan)件(jian)(jian)(jian)的支撐，并且使元(yuan)(yuan)件(jian)(jian)(jian)對地絕緣(yuan)(yuan)及元(yuan)(yuan)件(jian)(jian)(jian)之間(jian)相互(hu)絕緣(yuan)(yuan); 用作(zuo)電(dian)容器介質。

低頻電橋(qiao)

&nbsp;一般為(wei)(wei)高壓(ya)電(dian)橋，這不(bu)僅是由于靈敏度的緣故，也因為(wei)(wei)在(zai)低(di)頻下正是高電(dian)壓(ya)技術特別(bie)對電(dian)介質損耗

關注(zhu)的問題。電(dian)(dian)容臂和測量臂兩者的阻抗大(da)小(xiao)在數量級上(shang)相差(cha)很多(duo)，結(jie)果，絕大(da)部分電(dian)(dian)壓都(dou)施加在電(dian)(dian)容

Cx和 C}上，使電壓(ya)(ya)分配不平衡 上面給出的電橋平衡條件只(zhi)是當低壓(ya)(ya)元件對高壓(ya)(ya)元件屏蔽時(shi)才成

立。同時(shi)，屏(ping)蔽必須接地，以保(bao)證平衡穩定。如圖A. 2所示。屏(ping)蔽與使用被(bei)保(bao)護的電容 C、和(he) C、是一

致的(de)，這個保護(hu)對于Ch來(lai)說是*的(de)。

 由于選(xuan)擇不同(tong)的(de)接地(di)方法，實際上形成了兩類電橋。

電極系統(tong)

 1 加到試樣上的(de)電極

 電(dian)極(ji)可選用 5.1.3中任意一(yi)種(zhong)。如果不用保護環。而且試(shi)樣(yang)上下(xia)的兩(liang)個(ge)電(dian)極(ji)難(nan)以對齊時，其中一(yi)個(ge)電(dian)極(ji)應比另一(yi)個(ge)電(dian)極(ji)大些。已(yi)經加有(you)電(dian)極(ji)的試(shi)樣(yang)應放置(zhi)在兩(liang)個(ge)金(jin)屬(shu)(shu)電(dian)極(ji)之間，這(zhe)兩(liang)個(ge)金(jin)屬(shu)(shu)電(dian)極(ji)要比試(shi)樣(yang)上的電(dian)極(ji)稍(shao)小些。對于平板(ban)形和圓柱形這(zhe)兩(liang)種(zhong)不同電(dian)極(ji)結(jie)構的電(dian)容(rong)計算(suan)公式以及邊緣(yuan)電(dian)容(rong)近似計算(suan)的經驗公式由(you)表1給出.

 對于(yu)介質損耗因數的(de)測量，這種類型的(de)電(dian)極在高頻下不能滿足要求，除(chu)非試(shi)樣(yang)的(de)表面和金屬板都非常(chang)平整。圖 1所(suo)示的(de)電(dian)極系統也要求試(shi)樣(yang)厚度(du)均(jun)勻

2 試樣(yang)上不加電極

 表面(mian)電(dian)(dian)導率很低的試樣(yang)可以不加電(dian)(dian)極而將(jiang)試樣(yang)插人電(dian)(dian)極系(xi)統中(zhong)測量，在這(zhe)個電(dian)(dian)極系(xi)統中(zhong)，試樣(yang)的一側(ce)(ce)或兩側(ce)(ce)有一個充(chong)滿空氣或液體的間隙。

 平板電(dian)極(ji)或圓柱(zhu)形電(dian)極(ji)結構的電(dian)容計算公式由表 3給出。

 下面兩種型式的電極裝置(zhi)特別(bie)合適

2.1 空氣(qi)填充測微計電極

 當(dang)試樣插(cha)人和不插(cha)人時，電(dian)容都能(neng)調節到同一個值 ，不需進(jin)行測量系(xi)統的電(dian)氣(qi)校正(zheng)就能(neng)測定電(dian)容率(lv)。電(dian)極系(xi)統中可包括保(bao)護電(dian)極.

2.2 流體排出(chu)法

 在電容(rong)率近(jin)似等于試樣的(de)電容(rong)率，而介(jie)質損耗因數可以(yi)忽略的(de)一種(zhong)液體(ti)內進行測量，這種(zhong)測量與試樣厚度(du)(du)測量的(de)精度(du)(du)關系(xi)不大。當(dang)相繼采用兩種(zhong)流體(ti)時，試樣厚度(du)(du)和電極系(xi)統的(de)尺寸可以(yi)從計算公(gong)式(shi)中消去

 試(shi)(shi)樣為與試(shi)(shi)驗池電(dian)(dian)極(ji)直(zhi)徑相同的(de)圓片，或對測微計(ji)(ji)(ji)電(dian)(dian)極(ji)來說，試(shi)(shi)樣可(ke)以(yi)比電(dian)(dian)極(ji)小到足以(yi)使邊緣效應忽略不計(ji)(ji)(ji) 在測微計(ji)(ji)(ji)電(dian)(dian)極(ji)中(zhong)，為了忽略邊緣效應，試(shi)(shi)樣直(zhi)徑約比測微計(ji)(ji)(ji)電(dian)(dian)極(ji)直(zhi)徑小兩倍的(de)試(shi)(shi)樣厚(hou)度。

原始包裝：

請(qing)保留所有的原(yuan)始(shi)包裝(zhuang)材料，如果機器必(bi)須(xu)回廠(chang)維修(xiu)(xiu)(xiu)，請(qing)用原(yuan)來的包裝(zhuang)材料包裝(zhuang)。并請(qing)先與制造廠(chang)的維修(xiu)(xiu)(xiu)中心聯絡。送修(xiu)(xiu)(xiu)時，請(qing)務(wu)必(bi)將(jiang)全部的附件一(yi)起送回，請(qing)注明(ming)故障現象和原(yuan)因。另外，請(qing)在包裝(zhuang)上注明(ming)“易碎品”請(qing)小心搬運(yun)。

安全注意事項：

開(kai)機之前(qian)，敬(jing)請(qing)仔細閱讀(du)本  使(shi)用指(zhi)南，以防(fang)止(zhi)出現對(dui)操作(zuo)(zuo)人(ren)(ren)員的(de)意(yi)外傷害(hai)或(huo)對(dui)儀器(qi)的(de)損壞(huai)等的(de)事件。操作(zuo)(zuo)前(qian)，請(qing)閱讀(du)“安裝(zhuang)與設(she)置”，保證對(dui)儀器(qi)各(ge)部件的(de)正(zheng)確安裝(zhuang)與連(lian)接。在*次操作(zuo)(zuo)前(qian)，務必(bi)請(qing)有操作(zuo)(zuo)經驗的(de)人(ren)(ren)員進行指(zhi)導，防(fang)止(zhi)誤操作(zuo)(zuo)造(zao)成意(yi)外事件的(de)發(fa)生。電(dian)擊(ji)危險(xian)：  確保在安裝(zhuang)或(huo)維修該儀器(qi)之前(qian)使(shi)所(suo)有導線斷電(dian)，防(fang)止(zhi)在帶電(dian)情況下，對(dui)人(ren)(ren)員或(huo)設(she)備造(zao)成傷害(hai)。

注意(yi)事項(xiang):  1、該儀器初(chu)始的包(bao)裝(zhuang)材料需小心保(bao)存，安裝(zhuang)需由(you)本(ben)公司的專業(ye)技術人(ren)員(yuan)進行操作。2、若(ruo)儀器由(you)于(yu)任何原因必須(xu)返修(xiu)，必須(xu)將其裝(zhuang)入原紙(zhi)箱(xiang)中以防運輸(shu)途中損(sun)壞。3、在開機前，操作者要首先熟(shu)悉(xi)操作方法。

電性能檢測(ce)儀(yi)(yi)(yi)器：介(jie)電強度(du)測(ce)試儀(yi)(yi)(yi)、體積表面電阻率(lv)測(ce)試儀(yi)(yi)(yi)、介(jie)電常數介(jie)質損(sun)耗測(ce)試儀(yi)(yi)(yi)、漏電起(qi)痕(hen)試驗儀(yi)(yi)(yi)、耐電弧試驗儀(yi)(yi)(yi)；

塑料(liao)橡膠性能檢(jian)測(ce)儀(yi)器：無轉子硫化儀(yi)、門尼粘度試驗(yan)(yan)機(ji)、熱變形(xing)維卡溫(wen)度測(ce)定儀(yi)、簡支(zhi)梁沖擊試驗(yan)(yan)機(ji)、毛細(xi)管(guan)流變儀(yi)、橡膠塑料(liao)滑動摩擦試驗(yan)(yan)機(ji)

物理(li)性能檢測儀(yi)器：氧指數(shu)測定儀(yi)、水平垂直(zhi)燃燒試驗機(ji)、熔體流動速(su)率測定儀(yi)、低溫脆性測試儀(yi)

力學性能試驗機(ji)(ji)：試驗機(ji)(ji)

北(bei)廣其(qi)他檢測(ce)(ce)海(hai)綿儀器：海(hai)綿泡(pao)沫(mo)壓陷硬度(du)測(ce)(ce)試(shi)儀、海(hai)綿泡(pao)沫(mo)落球(qiu)回彈(dan)測(ce)(ce)試(shi)儀、海(hai)綿泡(pao)沫(mo)壓縮變形試(shi)驗(yan)儀

另外我公司有：環境測(ce)試(shi)儀(yi)(yi)器、生物(wu)制(zhi)藥測(ce)試(shi)儀(yi)(yi)器、動(dong)物(wu)行為測(ce)試(shi)儀(yi)(yi)、環境監(jian)測(ce)試(shi)驗(yan)儀(yi)(yi)