高頻/音頻介電常數測試儀作為新一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器，測試頻率上限達到目前國內高的160MHz。

 高頻/音頻介電常數測試儀技術參數：

1．Q值(zhi)測量

a．Q值(zhi)測(ce)量范圍：2～1023。

b．Q值量程分檔：30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔。

c．標稱誤(wu)差

     ;頻(pin)率范圍（100kHz～10MHz）： 頻(pin)率范圍（10MHz～160MHz）：

     固有(you)誤差：≤5％±滿度(du)值的(de)2% 固有(you)誤差：≤6％±滿度(du)值的(de)2%

     工(gong)作誤差(cha)：≤7％±滿(man)度(du)(du)值(zhi)(zhi)的(de)2% 工(gong)作誤差(cha)：≤8％±滿(man)度(du)(du)值(zhi)(zhi)的(de)2%

2．電感測量范圍：4.5nH~7.9mH

3．電容(rong)測量：1~205

     主電(dian)容調節范圍：18～220pF

     準確度：150pF以下±1.5pF； 150pF以上±1%

     注：大于直接測量(liang)范圍的電(dian)容測量(liang)見后頁使用說(shuo)明

4.  信號(hao)源頻(pin)率覆蓋范圍

     頻率(lv)范(fan)圍CH1:0.1～0.999999MHz, CH2: 1～9.99999MHz,

     CH3:10～99.9999MHz, CH1 :100～160MHz,

5．Q合格指示預(yu)置功能:   ;   預(yu)置范圍：5～1000。

6．B-測(ce)試儀正常工(gong)作條件

a.  環境溫度：0℃～+40℃；

b．相(xiang)對濕度(du)：<80％；

c．電(dian)源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。

7．其他

a．消(xiao)耗功率：約25W；

b．凈重：約7kg；

c. 外型(xing)尺寸：（l×b&times;h）mm：380×132×280。

測試注(zhu)意事項

a．本儀器應水平安放；

b．如果(guo)你需要較精(jing)確地(di)測量(liang)，請(qing)接(jie)通電源后，預熱30分鐘；

c．調(diao)(diao)節主(zhu)調(diao)(diao)電(dian)容(rong)或主(zhu)調(diao)(diao)電(dian)容(rong)數碼開關時(shi)(shi)，當接近諧振(zhen)點時(shi)(shi)請(qing)緩調(diao)(diao)；

d．被測(ce)(ce)件和測(ce)(ce)試電路(lu)接(jie)線(xian)柱間的接(jie)線(xian)應盡量短(duan)，足夠粗，并應接(jie)觸良好、可靠，以減少因(yin)接(jie)線(xian)的電阻和分布參數所帶來(lai)的測(ce)(ce)量誤差；

e．被(bei)測(ce)件(jian)不要直接擱在面板頂部，離頂部一公分以(yi)上(shang)，必要時可用低損耗的(de)絕(jue)緣材料如聚(ju)苯乙烯等做成的(de)襯(chen)墊物襯(chen)墊；

f．手不得(de)靠近試件(jian)(jian)，以(yi)免人體感應(ying)影響(xiang)造成測量誤差，有屏蔽(bi)的(de)試件(jian)(jian)，屏蔽(bi)罩應(ying)連接(jie)在低(di)電位端的(de)接(jie)線柱。

影響介電(dian)性能的因(yin)素

 下面分別討論(lun)頻率、溫(wen)度、濕(shi)度和電氣強(qiang)度對介電性(xing)能(neng)的影響。

1頻率

 因(yin)為只有少數(shu)材料如石(shi)英(ying)玻璃、聚苯(ben)乙烯或聚乙烯在很(hen)寬的(de)(de)頻(pin)率范圍內它們的(de)(de) 。r和(he) tans幾乎是恒定的(de)(de)，且被用(yong)作工程電(dian)介(jie)質材料，然而一(yi)般的(de)(de)電(dian)介(jie)質材料必須(xu)在所使(shi)用(yong)的(de)(de)頻(pin)率下測量(liang)其介(jie)質損(sun)耗因(yin)數(shu)和(he)電(dian)容率。

 電容率和介質(zhi)損耗因數的(de)(de)變化(hua)(hua)是由于介質(zhi)極化(hua)(hua)和電導而產生，重要的(de)(de)變化(hua)(hua)是極性(xing)分子引(yin)起(qi)的(de)(de)偶(ou)極子極化(hua)(hua)和材料的(de)(de)不均勻性(xing)導致的(de)(de)界面極化(hua)(hua)所引(yin)起(qi)的(de)(de).

2溫度

 損(sun)耗指(zhi)數(shu)在(zai)一個(ge)頻(pin)率下(xia)可(ke)以(yi)出現一個(ge)大(da)值(zhi)，這個(ge)頻(pin)率值(zhi)與電(dian)介質材料的溫度有關。介質損(sun)耗因數(shu)和電(dian)容率的溫度系數(shu)可(ke)以(yi)是正的或負的，這取決(jue)于(yu)在(zai)測量(liang)溫度下(xia)的介質損(sun)耗指(zhi)數(shu)大(da)值(zhi)位置。

3濕度(du)

 極化的程度隨水分的吸收量或電(dian)介(jie)質材料表面水膜的形(xing)成而增加，其(qi)結果使電(dian)容率、介(jie)質損耗因數和直(zhi)流電(dian)導(dao)率增大。因此試驗前和試驗時(shi)對環境濕(shi)度進行控(kong)制是*的.

 注(zhu):濕度的顯著影響常常發生在 1MHz以下及微波頻率(lv)范圍(wei)內(nei)

4電場強度(du)

 存(cun)在界面(mian)極化時，自由(you)離子的(de)數目(mu)隨電場強度(du)增大而增加，其損耗(hao)指數大值的(de)大小和(he)位置也隨此而變(bian)。

&nbsp;在較高(gao)的頻率(lv)下，只要電介質中不出(chu)現局部放電，電容(rong)率(lv)和介質損耗因數與電場強度無關(guan)

測量方法(fa)的選擇：

 測量(liang)電(dian)容率和介質(zhi)損耗因數的方法(fa)可分成兩種:零點指示法(fa)和諧振法(fa)。

1 零點(dian)指示法(fa)適用于頻率(lv)不(bu)超過(guo)50 MHz時的(de)(de)測量。測量電(dian)容率(lv)和(he)(he)介質損(sun)耗因數可用替代法(fa);也就是(shi)在接人試(shi)樣和(he)(he)不(bu)接試(shi)樣兩種狀態下，調節回路(lu)的(de)(de)一個臂使電(dian)橋平衡。通常回路(lu)采用西林(lin)電(dian)橋、變(bian)壓器電(dian)橋(也就是(shi)互感藕合比例(li)臂電(dian)橋)和(he)(he)并聯 T型網絡。變(bian)壓器電(dian)橋的(de)(de)優點(dian):采用保護(hu)電(dian)極(ji)不(bu)需任何外加附件或過(guo)多操作，就可采用保護(hu)電(dian)極(ji);它沒(mei)有其他網絡的(de)(de)缺點(dian)。

2 諧振法適(shi)用于10 kHz一幾百MHz的頻(pin)率范圍(wei)內的測(ce)量(liang)。該(gai)方法為替代(dai)法測(ce)量(liang)，常用的是(shi)變電(dian)抗法。但該(gai)方法不適(shi)合采用保護電(dian)極(ji)。

 注(zhu):典型的電(dian)橋和(he)電(dian)路(lu)示例見附錄。附錄中所舉的例子自然是不全面的，敘述電(dian)橋和(he)側量方法報導(dao)見有關文獻和(he)該種儀器的原理說明書。

試驗報告

 試(shi)驗報(bao)告中應(ying)給(gei)出下(xia)列相關內容:

 絕緣材(cai)料的(de)型號名稱及(ji)種類、供貨(huo)形式、取樣方法、試(shi)樣的(de)形狀及(ji)尺寸和取樣 日期(并注明試(shi)樣厚度和試(shi)樣在與電(dian)極接觸的(de)表面(mian)進行處理的(de)情況(kuang));

 試樣條件處理(li)的(de)方法(fa)和(he)處理(li)時間;

 電極裝置類型，若有加(jia)在試樣(yang)上(shang)的電極應注(zhu)明其類型;

 測量儀(yi)器;

 試(shi)驗(yan)時的溫度和相對濕(shi)度以及(ji)試(shi)樣的溫度;

 施加的電壓;

 施加的(de)頻率(lv);

 相(xiang)對電(dian)容率(lv)ε(平均值);

 介質(zhi)損耗因數 tans(平均值);

 試驗(yan) 日(ri)期 ;

 相對電容率和(he)(he)介質損耗因數值以(yi)及由它(ta)們計算(suan)得到的(de)值如損耗指(zhi)數和(he)(he)損耗角，必要時，應給出與溫度和(he)(he)頻率的(de)關系。

特(te)點：

◎ 本公司創新的自(zi)動Q值保持技術，使(shi)測Q分(fen)辨率至0.1Q，使(shi)tanδ分(fen)辨率至0.00005 。

◎ 能對固體絕緣(yuan)材料在10kHz～120MHz介質損耗角(tanδ)和介電常數(&epsilon;)變化的測試。

◎ 調(diao)諧回(hui)路(lu)殘余(yu)電感值低至8nH，保證100MHz的(de)(tanδ)和(he)(ε)的(de)誤(wu)差較小。

◎ 特制LCD屏(ping)菜單式顯示多(duo)參數(shu)：Q值(zhi)，測試(shi)頻率，調諧狀(zhuang)態等。

◎ Q值(zhi)量程(cheng)(cheng)自動/手動量程(cheng)(cheng)控制。

◎ DPLL合成(cheng)發(fa)生1kHz～60MHz, 50kHz～160MHz測試信號。獨立信號 源(yuan)(yuan)輸出口(kou)，所以本機又是一臺合成(cheng)信號源(yuan)(yuan)。

◎ 測試裝(zhuang)置符合(he)國(guo)標GB/T 1409-2006,美標ASTM D150以(yi)及IEC60250規范要(yao)求。

介質(zhi)(zhi)(zhi)損(sun)耗：絕緣材料在(zai)電場(chang)作用(yong)下，由(you)于介質(zhi)(zhi)(zhi)電導和介質(zhi)(zhi)(zhi)極化(hua)的滯(zhi)后效應(ying)，在(zai)其內(nei)部引(yin)起的能量損(sun)耗。也(ye)叫介質(zhi)(zhi)(zhi)損(sun)失，簡(jian)稱介損(sun)。在(zai)交(jiao)變電場(chang)作用(yong)下，電介質(zhi)(zhi)(zhi)內(nei)流過的電流相量和電壓相量之(zhi)間的夾角(jiao)(jiao)(jiao)（功率因數角(jiao)(jiao)(jiao)Φ）的余(yu)角(jiao)(jiao)(jiao)δ稱為介質(zhi)(zhi)(zhi)損(sun)耗角(jiao)(jiao)(jiao)。

損(sun)(sun)耗(hao)因子(zi)也指耗(hao)損(sun)(sun)正切，是交流(liu)電被轉化為熱能(neng)的介電損(sun)(sun)耗(hao)（耗(hao)散的能(neng)量）的量度，一般情況下都期望耗(hao)損(sun)(sun)因子(zi)低些好

概念：

電(dian)(dian)(dian)介(jie)質(zhi)(zhi)(zhi)在外電(dian)(dian)(dian)場(chang)作(zuo)(zuo)用下，其內部會(hui)有發熱(re)現象，這說明有部分(fen)電(dian)(dian)(dian)能(neng)已(yi)轉化為(wei)(wei)熱(re)能(neng)耗散(san)掉(diao)，電(dian)(dian)(dian)介(jie)質(zhi)(zhi)(zhi)在電(dian)(dian)(dian)場(chang)作(zuo)(zuo)用下，在單位時間內因發熱(re)而(er)(er)消耗的(de)能(neng)量稱(cheng)為(wei)(wei)電(dian)(dian)(dian)介(jie)質(zhi)(zhi)(zhi)的(de)損(sun)(sun)(sun)耗功率(lv)，或簡稱(cheng)介(jie)質(zhi)(zhi)(zhi)損(sun)(sun)(sun)耗（diclectric loss）。介(jie)質(zhi)(zhi)(zhi)損(sun)(sun)(sun)耗是應(ying)用于交流電(dian)(dian)(dian)場(chang)中(zhong)電(dian)(dian)(dian)介(jie)質(zhi)(zhi)(zhi)的(de)重要(yao)品(pin)質(zhi)(zhi)(zhi)指標(biao)之一。介(jie)質(zhi)(zhi)(zhi)損(sun)(sun)(sun)耗不但消耗了電(dian)(dian)(dian)能(neng)，而(er)(er)且(qie)使元件(jian)發熱(re)影響(xiang)其正常工(gong)作(zuo)(zuo)。如果介(jie)電(dian)(dian)(dian)損(sun)(sun)(sun)耗較大(da)，甚至(zhi)會(hui)引起介(jie)質(zhi)(zhi)(zhi)的(de)過熱(re)而(er)(er)絕緣破壞(huai)，所以從(cong)這種意義上講，介(jie)質(zhi)(zhi)(zhi)損(sun)(sun)(sun)耗越(yue)小越(yue)好。

主要技術特性：

介(jie)(jie)質(zhi)損(sun)耗(hao)(hao)和介(jie)(jie)電(dian)(dian)(dian)常(chang)數(shu)(shu)是(shi)各種(zhong)電(dian)(dian)(dian)瓷、裝(zhuang)置瓷、電(dian)(dian)(dian)容(rong)器(qi)等(deng)(deng)陶瓷，還有復合材(cai)料(liao)等(deng)(deng)的(de)(de)一項重(zhong)要的(de)(de)物(wu)理(li)性(xing)(xing)質(zhi)，通(tong)過測(ce)定(ding)介(jie)(jie)質(zhi)損(sun)耗(hao)(hao)角(jiao)正(zheng)切(qie)tanδ及(ji)介(jie)(jie)電(dian)(dian)(dian)常(chang)數(shu)(shu)(ε)，可(ke)進(jin)一步了(le)(le)(le)解影響介(jie)(jie)質(zhi)損(sun)耗(hao)(hao)和介(jie)(jie)電(dian)(dian)(dian)常(chang)數(shu)(shu)的(de)(de)各種(zhong)因素，為(wei)(wei)提(ti)高(gao)(gao)材(cai)料(liao)的(de)(de)性(xing)(xing)能提(ti)供依(yi)據；儀(yi)器(qi)的(de)(de)基本(ben)原理(li)是(shi)采用(yong)高(gao)(gao)頻(pin)諧(xie)振法(fa)，并提(ti)供了(le)(le)(le)，通(tong)用(yong)、多(duo)用(yong)途、多(duo)量(liang)(liang)程的(de)(de)阻抗測(ce)試(shi)。它(ta)以單片計算機作為(wei)(wei)儀(yi)器(qi)的(de)(de)控制，測(ce)量(liang)(liang)核心采用(yong)了(le)(le)(le)頻(pin)率(lv)數(shu)(shu)字鎖定(ding)，標準頻(pin)率(lv)測(ce)試(shi)點(dian)自動(dong)(dong)設定(ding)，諧(xie)振點(dian)自動(dong)(dong)搜索(suo)，Q值(zhi)量(liang)(liang)程自動(dong)(dong)轉換，數(shu)(shu)值(zhi)顯示等(deng)(deng)新技術，改進(jin)了(le)(le)(le)調諧(xie)回(hui)路(lu)(lu)(lu)，使得(de)調諧(xie)測(ce)試(shi)回(hui)路(lu)(lu)(lu)的(de)(de)殘余電(dian)(dian)(dian)感減至(zhi)低，并保留了(le)(le)(le)原Q表(biao)中自動(dong)(dong)穩幅等(deng)(deng)技術，使得(de)新儀(yi)器(qi)在使用(yong)時更為(wei)(wei)方便，測(ce)量(liang)(liang)值(zhi)更為(wei)(wei)精確。儀(yi)器(qi)能在較高(gao)(gao)的(de)(de)測(ce)試(shi)頻(pin)率(lv)條件(jian)下，測(ce)量(liang)(liang)高(gao)(gao)頻(pin)電(dian)(dian)(dian)感或諧(xie)振回(hui)路(lu)(lu)(lu)的(de)(de)Q值(zhi)，電(dian)(dian)(dian)感器(qi)的(de)(de)電(dian)(dian)(dian)感量(liang)(liang)和分布電(dian)(dian)(dian)容(rong)量(liang)(liang)，電(dian)(dian)(dian)容(rong)器(qi)的(de)(de)電(dian)(dian)(dian)容(rong)量(liang)(liang)和損(sun)耗(hao)(hao)角(jiao)正(zheng)切(qie)值(zhi)，電(dian)(dian)(dian)工材(cai)料(liao)的(de)(de)高(gao)(gao)頻(pin)介(jie)(jie)質(zhi)損(sun)耗(hao)(hao)，高(gao)(gao)頻(pin)回(hui)路(lu)(lu)(lu)有效并聯及(ji)串聯電(dian)(dian)(dian)阻，傳(chuan)輸線的(de)(de)特性(xing)(xing)阻抗等(deng)(deng)。

使用方(fang)法

高頻(pin)Q表(biao)是多用(yong)途的阻抗測量(liang)儀器，為了提高測量(liang)精(jing)度，除了使(shi)Q表(biao)測試(shi)回(hui)路本身殘余(yu)參量(liang)盡可(ke)能地(di)小，使(shi)耦合(he)回(hui)路的頻(pin)響盡可(ke)能地(di)好(hao)之外，還要掌握正確的測試(shi)方法和殘余(yu)參數修正方法。

1．測試(shi)注(zhu)意事(shi)項

a．本儀器應水(shui)平安放；

b．如果你需要較精確地測量，請接通(tong)電源后(hou)，預熱(re)30分鐘；

c．調(diao)節主調(diao)電容(rong)(rong)或主調(diao)電容(rong)(rong)數(shu)碼開關時，當接近諧振點時請(qing)緩(huan)調(diao)；

d．被測件和測試電路接線(xian)柱間的(de)(de)接線(xian)應(ying)盡量短，足夠(gou)粗，并(bing)應(ying)接觸良(liang)好、可靠，以(yi)減(jian)少因接線(xian)的(de)(de)電阻和分布參數所帶來的(de)(de)測量誤差；

e．被測件不要直接擱在面板頂(ding)部，離頂(ding)部一(yi)公(gong)分以上，必要時可用(yong)低損耗的絕(jue)緣材料(liao)如聚苯乙烯等做成的襯(chen)墊物襯(chen)墊；

f．手不得(de)靠近(jin)試(shi)件，以免人(ren)體感應影響造成測量誤差，有屏蔽的試(shi)件，屏蔽罩應連接在低電(dian)位端的接線柱。

2．高頻線圈的Q值(zhi)測量(liang)（基本測量(liang)法）

原始包(bao)裝：

請(qing)保留所有的(de)原始包(bao)(bao)裝材(cai)(cai)料，如(ru)果機(ji)器必須回(hui)(hui)廠維修，請(qing)用原來(lai)的(de)包(bao)(bao)裝材(cai)(cai)料包(bao)(bao)裝。并請(qing)先與制造(zao)廠的(de)維修中心聯(lian)絡。送(song)修時，請(qing)務必將全部的(de)附件一起(qi)送(song)回(hui)(hui)，請(qing)注明故障現象和原因。另外，請(qing)在(zai)包(bao)(bao)裝上注明“易碎品”請(qing)小心搬運。

安全(quan)注(zhu)意(yi)事(shi)項：

開(kai)機之前，敬請仔細(xi)閱讀本 使用指(zhi)南(nan)，以防(fang)止出(chu)現對操作人(ren)員(yuan)的(de)(de)(de)意(yi)外傷害或(huo)對儀器的(de)(de)(de)損壞等的(de)(de)(de)事件。操作前，請閱讀“安(an)裝(zhuang)與設置”，保證對儀器各部(bu)件的(de)(de)(de)正確安(an)裝(zhuang)與連接(jie)。在*次操作前，務必請有操作經驗的(de)(de)(de)人(ren)員(yuan)進行指(zhi)導，防(fang)止誤(wu)操作造成(cheng)意(yi)外事件的(de)(de)(de)發生。電(dian)擊危險(xian)： 確保在安(an)裝(zhuang)或(huo)維(wei)修該儀器之前使所有導線斷電(dian)，防(fang)止在帶電(dian)情(qing)況(kuang)下，對人(ren)員(yuan)或(huo)設備造成(cheng)傷害。

注意(yi)事項: 1、該儀器(qi)初始的包裝(zhuang)(zhuang)材料需(xu)小心保(bao)存，安裝(zhuang)(zhuang)需(xu)由本公司的專業技(ji)術人員進(jin)行(xing)操(cao)(cao)作。2、若(ruo)儀器(qi)由于任何原因必(bi)(bi)須(xu)返修(xiu)，必(bi)(bi)須(xu)將其裝(zhuang)(zhuang)入原紙箱中以防(fang)運輸途中損壞。3、在開機前(qian)，操(cao)(cao)作者要首先熟悉操(cao)(cao)作方法。

電(dian)性能檢測儀器：介(jie)電(dian)強度測試儀、體積表面電(dian)阻率測試儀、介(jie)電(dian)常數介(jie)質損(sun)耗(hao)測試儀、漏(lou)電(dian)起痕試驗儀、耐(nai)電(dian)弧試驗儀；

塑(su)料(liao)橡(xiang)膠性能檢測儀(yi)器(qi)：無轉子硫化(hua)儀(yi)、門(men)尼(ni)粘度試(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)機(ji)、熱變形維卡溫度測定儀(yi)、簡支(zhi)梁(liang)沖擊試(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)機(ji)、毛(mao)細管流變儀(yi)、橡(xiang)膠塑(su)料(liao)滑動摩(mo)擦(ca)試(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)機(ji)

物理性(xing)能檢測(ce)儀(yi)(yi)(yi)器：氧指數測(ce)定(ding)儀(yi)(yi)(yi)、水平垂直(zhi)燃燒試驗機、熔體流動速率測(ce)定(ding)儀(yi)(yi)(yi)、低溫(wen)脆性(xing)測(ce)試儀(yi)(yi)(yi)

力學性能(neng)試驗機：萬能(neng)試驗機

北廣(guang)其他檢測(ce)(ce)海綿(mian)(mian)儀(yi)器：海綿(mian)(mian)泡(pao)沫(mo)(mo)壓(ya)陷硬(ying)度測(ce)(ce)試儀(yi)、海綿(mian)(mian)泡(pao)沫(mo)(mo)落(luo)球回彈測(ce)(ce)試儀(yi)、海綿(mian)(mian)泡(pao)沫(mo)(mo)壓(ya)縮變形試驗儀(yi)

另外我公司有：環(huan)境測(ce)試(shi)儀器、生物制藥測(ce)試(shi)儀器、動(dong)物行為測(ce)試(shi)儀、環(huan)境監測(ce)試(shi)驗儀