GB/T1682硫化橡膠低溫脆性的測定單試樣法介紹
大家在日常實驗中(zhong)，會(hui)經常搞不清楚低溫脆性的單式樣和(he)多式樣方法(fa)，下(xia)面我來為大家介紹(shao)下(xia)GB/T1682硫化橡膠低溫脆性的測定單試樣法(fa)：
1、范圍：
本標準規(gui)定了使(shi)用(yong)(yong)單試(shi)樣脆性(xing)溫(wen)度(du)試(shi)驗機測定硫化(hua)(hua)橡膠(jiao)脆性(xing)溫(wen)度(du)和(he)判斷硫化(hua)(hua)橡膠(jiao)在(zai)規(gui)定溫(wen)度(du)下被沖擊(ji)后是(shi)否產生(sheng)破(po)壞的方法，包括兩種程序：程序A適(shi)用(yong)(yong)于測定脆性(xing)溫(wen)度(du)；程序B適(shi)用(yong)(yong)于在(zai)規(gui)定溫(wen)度(du)下沖擊(ji)試(shi)樣，判斷是(shi)否產生(sheng)破(po)壞。
注(zhu)：本標準所(suo)測定的(de)(de)(de)(de)脆(cui)性(xing)溫(wen)度，是硫化(hua)橡(xiang)膠的(de)(de)(de)(de)特性(xing)溫(wen)度，不(bu)代表硫化(hua)橡(xiang)膠及其(qi)制品(pin)工作溫(wen)度的(de)(de)(de)(de)下限。用(yong)脆(cui)性(xing)溫(wen)度可(ke)以比較不(bu)同橡(xiang)膠材料或不(bu)同配方的(de)(de)(de)(de)硫化(hua)橡(xiang)膠低溫(wen)性(xing)能的(de)(de)(de)(de)優劣。因(yin)此，在橡(xiang)膠材料及其(qi)制品(pin)的(de)(de)(de)(de)質量(liang)檢驗、生產過程控制等方面，都具有(you)一定實用(yong)價值。
2、規范性引用文件：
下列文(wen)(wen)件(jian)對于(yu)本(ben)(ben)文(wen)(wen)件(jian)的(de)應用是(shi)(shi)*的(de)。凡是(shi)(shi)注日期的(de)引用文(wen)(wen)件(jian)，僅(jin)注日期的(de)版本(ben)(ben)適用于(yu)本(ben)(ben)文(wen)(wen)件(jian)。凡是(shi)(shi)不注日期的(de)引用文(wen)(wen)件(jian)，其版本(ben)(ben)（包(bao)括所有的(de)修）適用于(yu)本(ben)(ben)文(wen)(wen)件(jian)。
GB/T 2941—2006橡膠物(wu)理試驗方法試樣制備和(he)調節通用程序(xu)
3、術語和定義：
下(xia)列術語(yu)和定(ding)義適(shi)用(yong)于本文件。
3.1
脆(cui)性溫度（單(dan)試樣法）
試樣(yang)在一(yi)定(ding)條(tiao)件下受沖擊(ji)產生破壞時的高(gao)溫度。
3.2
破壞fail
試樣出現斷裂、裂紋及(ji)人眼(yan)直接(jie)可(ke)見微孔的現象。
4、試驗設備：
4.1 組成
設(she)備由工作臺(tai)、升降(jiang)夾持(chi)器、沖擊裝置、低溫(wen)測溫(wen)計(ji)、盛裝冷凍(dong)介質的低溫(wen)容器、攪拌(ban)器等部(bu)分(fen)組(zu)成。
4.2 升降夾持器
升降夾(jia)持(chi)器由夾(jia)持(chi)器和升降裝(zhuang)置組成。
從試樣(yang)受沖擊部位，到夾持器下端的距離為（11.0±0.5）mm。如圖1所(suo)示(shi)。
說明：
1——絕熱材料；
2——試樣；
3——沖擊位置；
4——沖(chong)擊(ji)器頭部
圖1試樣夾持與沖(chong)擊位(wei)置示意圖
4.3 沖擊裝置
沖(chong)擊裝置由沖(chong)擊器和沖(chong)擊彈(dan)簧(huang)等組(zu)成(cheng)。
4.3.1 沖擊器
沖擊器頭部形狀和(he)尺寸如(ru)圖(tu)2所示。沖擊器的(de)質量(liang)為（200±20）g，其工作行程(cheng)為（40±1）mm。
單位為毫米
圖2沖擊器(qi)頭(tou)部示(shi)意圖
沖擊裝置(zhi)的彈簧在壓縮(suo)狀態下，沖擊器端(duan)部到試樣(yang)的距離為（25±l）mm。
4.3.2 沖擊彈簧
沖擊彈(dan)簧應符合如下技術(shu)要求：
a）自由狀態：直(zhi)徑為19mm，長度(du)為85 mm?90mm；
b）壓縮狀態：長(chang)度為（40±1）mm，負(fu)荷為108N?118N。
4.4 低溫(wen)測溫(wen)計
采用小分度(du)不大于1℃的(de)(de)低(di)溫測(ce)溫計(ji)(ji)測(ce)量冷凍介(jie)質(zhi)的(de)(de)溫度(du)，可使用低(di)溫溫度(du)計(ji)(ji)、熱電偶(ou)、電阻溫度(du)計(ji)(ji)等。低(di)溫溫度(du)計(ji)(ji)為(wei)內標式半浸的(de)(de)，以(yi)尾長150mm，浸入(ru)液體深(shen)度(du)75mm為(wei)宜(yi)。
4.5 冷凍介質
冷凍介(jie)質由(you)適宜的傳熱(re)介(jie)質加(jia)致(zhi)冷劑調配而成。
4.5.1 傳熱介質
在試(shi)驗(yan)溫度下，能保(bao)持流動，對試(shi)樣無附(fu)加影響的液體均可作(zuo)傳(chuan)熱(re)介(jie)質(zhi)。這類傳(chuan)熱(re)介(jie)質(zhi)通常使用乙(yi)醇，此(ci)外還有丙酮、硅氧烷等。
4.5.2 致冷(leng)劑(ji)
可根據需(xu)要選(xuan)用干冰或(huo)液氮。
注：也可(ke)采用其他(ta)降溫方式。
5、試樣：
5.1 規(gui)格
試(shi)樣(yang)的長(chang)度(du)為(wei)(wei)（25.0±0.5）mm，寬度(du)為(wei)(wei)（6.0±0.5）mm，厚(hou)度(du)為(wei)(wei)（2.0±0.2）mm。
5.2 要求
試(shi)驗(yan)前(qian)，試(shi)樣應(ying)放置在標準實驗(yan)室溫(wen)度下調節至少3h，并在明亮的(de)光線下彎曲試(shi)樣并檢(jian)查試(shi)樣表面(mian)，試(shi)樣表面(mian)應(ying)光滑，無(wu)雜(za)質、損傷及微孔。成(cheng)品應(ying)經(jing)打磨后裁制成(cheng)相應(ying)尺寸。
6、試驗室溫度：
試驗(yan)室溫(wen)度應符合(he)GB/T 2941—2006中的有關規定。
7、試驗步驟：
7.1 程(cheng)序A
7.1.1 試驗準備：降下升降夾(jia)持(chi)器(qi)，安放低溫(wen)(wen)測溫(wen)(wen)計，使測溫(wen)(wen)計的(de)(de)測溫(wen)(wen)點與夾(jia)持(chi)器(qi)下端(duan)處于同一(yi)水平位置(zhi)。向低溫(wen)(wen)容器(qi)中(zhong)注入傳熱介質(zhi)，其注入量應保證夾(jia)持(chi)器(qi)的(de)(de)下端(duan)到液(ye)面的(de)(de)距離為（75±10）mm。
7.1.2 向傳(chuan)熱(re)介(jie)質中加入致冷劑（一般(ban)采用(yong)干(gan)冰）并緩(huan)慢(man)攪拌，調(diao)配到所需溫(wen)度(du)(du)或略低于所需溫(wen)度(du)(du)，以(yi)便在(zai)試樣浸入后冷凍(dong)介(jie)質溫(wen)度(du)(du)正好是所需溫(wen)度(du)(du)。
7.1.3 升(sheng)(sheng)起(qi)升(sheng)(sheng)降(jiang)夾持器，將(jiang)試(shi)樣(yang)垂直夾在(zai)夾持器上（如圖1）。夾得不宜過緊(jin)或過松，以防(fang)止試(shi)樣(yang)變形或脫(tuo)落。
7.1.4 降(jiang)下升降(jiang)夾(jia)持器，開始(shi)冷(leng)(leng)凍(dong)(dong)試(shi)(shi)樣(yang)，同時(shi)開始(shi)計時(shi)。試(shi)(shi)樣(yang)冷(leng)(leng)凍(dong)(dong)時(shi)間規定為(wei)min。試(shi)(shi)樣(yang)冷(leng)(leng)凍(dong)(dong)期間，冷(leng)(leng)凍(dong)(dong)介質(zhi)溫度波(bo)動(dong)不應超過(guo)±1℃。
7.1.5 升起升降夾持器，使沖擊器在0.5s內沖擊試樣。
7.1.6 取(qu)下(xia)試樣，停放至少30 s后(hou)擦去試樣表面殘液(ye)并將試樣按沖擊方向彎(wan)曲成(cheng)180°，在明亮的光線(xian)下(xia)仔細觀察有(you)無(wu)破壞(huai)并記(ji)(ji)錄。當(dang)試樣發生破壞(huai)時應記(ji)(ji)錄具體破壞(huai)現象。
7.1.7 試(shi)樣(yang)經沖(chong)擊后（每個試(shi)樣(yang)只(zhi)允許沖(chong)擊一次），如出現破(po)壞，應(ying)提(ti)高冷(leng)凍(dong)介質的溫度，否則降低其溫度，繼續進行試(shi)驗(yan)。
通過反復試驗(yan)，確定至少有兩個試樣(yang)不破壞的(de)低溫度(du)和至少一個試樣(yang)破壞的(de)高溫度(du)，如這兩個結(jie)果相差不大于1℃時(shi)，即試驗(yan)結(jie)束。
7.2 程序B
按7.1.1?7.1.6步驟進行試(shi)(shi)驗，一組(zu)試(shi)(shi)驗至少需(xu)要3個試(shi)(shi)樣。
8、試驗結果與處理：
8.1 程序A
8.1.1 試(shi)樣(yang)出現破(po)壞的高溫(wen)度，就是(shi)該試(shi)樣(yang)的脆性溫(wen)度。
8.1.2 溫度值應精確(que)到(dao)1℃。
8.2 程序B
如果(guo)(guo)一組(zu)試(shi)(shi)樣(yang)中(zhong)沒有任何1個(ge)(ge)試(shi)(shi)樣(yang)破(po)壞(huai)(huai)(huai)，則(ze)試(shi)(shi)驗結果(guo)(guo)為(wei)無破(po)壞(huai)(huai)(huai)，如果(guo)(guo)一組(zu)試(shi)(shi)樣(yang)中(zhong)有2個(ge)(ge)或(huo)2個(ge)(ge)以上試(shi)(shi)樣(yang)發生(sheng)破(po)壞(huai)(huai)(huai)，則(ze)試(shi)(shi)驗結果(guo)(guo)為(wei)破(po)壞(huai)(huai)(huai)。如果(guo)(guo)一組(zu)試(shi)(shi)樣(yang)中(zhong)只有1個(ge)(ge)試(shi)(shi)樣(yang)發生(sheng)破(po)壞(huai)(huai)(huai)，則(ze)再次取(qu)3個(ge)(ge)新的完(wan)好試(shi)(shi)樣(yang)測試(shi)(shi)，3個(ge)(ge)試(shi)(shi)樣(yang)均未發生(sheng)破(po)壞(huai)(huai)(huai)則(ze)試(shi)(shi)驗結果(guo)(guo)為(wei)無破(po)壞(huai)(huai)(huai)；否則(ze)試(shi)(shi)驗結果(guo)(guo)為(wei)破(po)壞(huai)(huai)(huai)。
9、試驗報告：
試(shi)驗報告應包括(kuo)以(yi)下內容：
a）本標準名稱或編(bian)號；
b）樣品的詳細說明及(ji)其來源；
c）使用的傳熱介質、致冷(leng)劑或(huo)其他降溫方式；
d）程(cheng)序A：脆性溫(wen)度和試(shi)樣(yang)破壞現象；
e）程序(xu)B：規定的試驗溫(wen)度和試驗結果。
高鐵橡膠低溫脆性試驗機 橡膠低溫脆性試驗機 塑料沖擊脆化溫度測定儀 多試樣法橡膠低溫沖擊試驗機
