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四探針電阻率測試儀的量程范圍是多少?

點擊次數:3596  更新時間:2021-01-21

BEST-300C四探針電阻率測試儀范圍: 
1、電阻率: 1×10-6~2×106Ω.cm、

電   阻:1×10-5~2×105Ω

電導率:5×10-6~1×108ms/cm

分辨率:  小1μΩ
測量誤差±5%
2、測量電壓量程: 2mV   20mV  200mV 2V 
   測量精度±(0.1%讀數) 分辨率:  0.1uV  1uV  10uV  100uV
3、⑴電流輸出:直流電流 0~1000mA 連續可調,由交流電源供電。
   ⑵量程:1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,1000mA, 
   ⑶誤差:±0.2%讀數±2字

4. 主(zhu)機外(wai)形(xing)尺寸(cun):330mm*340mm*120mm

5、顯示方式:液晶顯示6、電源:220±10% 50HZ/60HZ

7、標配:測試平臺一套(tao)、主機(ji)一套(tao)、電源線(xian)數據線(xian)一套(tao)。

自(zi)動(dong)(dong)量程,自(zi)動(dong)(dong)測(ce)量電(dian)阻,電(dian)阻率(lv),電(dian)導(dao)率(lv)數據.

以及體電阻 R,測量時需調整相應的修正系數和選擇相應的功能。

為(wei)測定表(biao)面電阻率,試樣的形狀不限(xian),只要允許使用第三(san)電極來抵消體積效應(ying)引起的誤(wu)差即可。

也(ye)可測試電池(chi)極(ji)片等箔(bo)上涂層電阻率方阻。

可(ke)配置不同(tong)測量(liang)裝(zhuang)置測試不同(tong)類型材料之電阻率。液晶顯示,溫(wen)度補償功能,自動(dong)量(liang)程(cheng),自動(dong)測量(liang)電阻,電阻率,電導率數據。

量程: 20.00mV

配置(zhi)不同(tong)測量裝置(zhi)測試不同(tong)類型材料之電阻率.

大(da)分辨力(li):1.0µV

然而,對于很寬范(fan)圍的環境條(tiao)件(jian)和材料性能,當(dang)電極尺寸合適時, 體(ti)積電阻的影響可忽略不計。

以及體電阻 R,測量時(shi)需調整相應的修正(zheng)系數和選擇(ze)相應的功能。

恒流源(yuan)輸出;選(xuan)配:PC軟件過程數據處理和標準(zhun)(zhun)電阻校準(zhun)(zhun)儀器(qi),薄膜按鍵操作(zuo)簡單,中文(wen)(wen)或英(ying)文(wen)(wen)兩種(zhong)語言界(jie)面選(xuan)擇.

顯示: 4 位數字顯示,小(xiao)數點自動顯示

采用(yong)四端測量(liang)法適用(yong)于(yu)生產企業、高等院校、科研部(bu)門,實驗室;是檢(jian)驗和(he)分析導體材料和(he)半(ban)導體材料質量(liang)的工具。

有高耐磨碳化(hua)鎢(wu)探針探頭,以測試硅類半導體、金屬、導電塑(su)料類等硬質材(cai)料的電阻率(lv)/方阻;

PC軟件過(guo)程數據處理.

有高耐(nai)磨碳化鎢探(tan)針探(tan)頭(tou),以(yi)測試硅類(lei)半導(dao)體、金屬、導(dao)電塑料(liao)類(lei)等(deng)硬質材料(liao)的電阻率/方阻;

為測定表(biao)面電阻率,試(shi)樣的形(xing)狀不限,只(zhi)要(yao)允許(xu)使(shi)用第(di)三電極(ji)來(lai)抵消體積效應引(yin)起的誤差即可(ke)。

外形(xing)尺(chi)寸(cun):

液晶顯(xian)示,溫度(du)補償功能(neng).

電(dian)流(liu)輸出:直流(liu)電(dian)流(liu) 0.1µA~1.0A,系統自(zi)動(dong)(dong)調整。四探(tan)針電(dian)阻率測(ce)(ce)試儀采用4.3吋大液晶屏幕(mu)顯(xian)示,同(tong)(tong)時顯(xian)示電(dian)阻值(zhi)、電(dian)阻率、方(fang)阻、電(dian)導(dao)率值(zhi)、溫度、壓(ya)強值(zhi)、單位自(zi)動(dong)(dong)換算(suan),配(pei)(pei)置不(bu)同(tong)(tong)的測(ce)(ce)試治(zhi)具(ju)(ju)可(ke)以(yi)(yi)滿足不(bu)同(tong)(tong)材料的測(ce)(ce)試要(yao)(yao)求。測(ce)(ce)試治(zhi)具(ju)(ju)可(ke)以(yi)(yi)根(gen)據產品及測(ce)(ce)試項目要(yao)(yao)求選(xuan)購.自(zi)動(dong)(dong)測(ce)(ce)量并根(gen)據測(ce)(ce)試結果自(zi)動(dong)(dong)轉(zhuan)換量程,無(wu)需人工多次和(he)重復(fu)設(she)置。選(xuan)配(pei)(pei):配(pei)(pei)備軟件可(ke)以(yi)(yi)由(you)電(dian)腦(nao)操(cao)控,并保存和(he)打(da)印(yin)數據,自(zi)動(dong)(dong)生(sheng)成圖表和(he)報表。

聯系人:陳丹
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