體積電阻率測定儀BEST-121正確操作方法
體(ti)積電阻率(lv)測定儀注(zhu)意事項
儀器(qi)使(shi)用前請仔細閱讀以下內容，否則(ze)將造成儀器(qi)損(sun)壞或電擊(ji)情況。
1.檢查儀器后面板電壓量(liang)程是否(fou)置(zhi)于10V檔，電流(liu)電阻量(liang)程是否(fou)置(zhi)于104檔。
2.接通(tong)電(dian)源調零，（注意(yi)此時主機(ji)不(bu)得與(yu)屏(ping)蔽(bi)箱線路連接）在(zai)“Rx”兩端開(kai)路的情況下(xia)，調零使電(dian)流表的顯示為0000。然后關機(ji)。
3.將待測試樣平鋪(pu)在不(bu)保(bao)(bao)護(hu)電(dian)極(ji)正*，然后(hou)用(yong)保(bao)(bao)護(hu)電(dian)極(ji)壓住樣品，再插入被保(bao)(bao)護(hu)電(dian)極(ji)（不(bu)保(bao)(bao)護(hu)電(dian)極(ji)、保(bao)(bao)護(hu)電(dian)極(ji)、被保(bao)(bao)護(hu)電(dian)極(ji)應同軸且確認電(dian)極(ji)之(zhi)間無短路(lu)）。
4.測(ce)體(ti)積電阻時測(ce)試(shi)按鈕撥到(dao)Rv邊(bian)，測(ce)表面電阻時測(ce)試(shi)按鈕撥到(dao)Rs邊(bian)，
5.接(jie)好(hao)測(ce)試線，將(jiang)測(ce)試線將(jiang)主機與屏(ping)蔽箱連(lian)接(jie)好(hao)。量(liang)程置(zhi)于104檔，打開(kai)主機后面板電(dian)源開(kai)關按(an)鈕。從儀器后面板調電(dian)壓按(an)鈕到所要求的(de)測(ce)量(liang)電(dian)壓。(比如：GBT 1692-2008 硫化橡(xiang)膠 絕緣電(dian)阻率(lv)的(de)測(ce)定(ding)(ding) 標準中注明(ming)要求在500V電(dian)壓進行測(ce)定(ding)(ding)，那么電(dian)壓就(jiu)要升到500V)
6.電流電阻(zu)(zu)(zu)量(liang)(liang)程(cheng)按鈕從(cong)低(di)檔位逐漸(jian)撥(bo)，每撥(bo)一次(ci)停留1-2秒(miao)觀察顯示數字，當被測(ce)電阻(zu)(zu)(zu)大于儀器(qi)(qi)測(ce)量(liang)(liang)量(liang)(liang)程(cheng)時(shi)，電阻(zu)(zu)(zu)表顯示“1”，此時(shi)應繼續將(jiang)儀器(qi)(qi)撥(bo)到量(liang)(liang)程(cheng)更高的位置。測(ce)量(liang)(liang)儀器(qi)(qi)有顯示值時(shi)應停下，在1min的電化時(shi)間后測(ce)量(liang)(liang)電阻(zu)(zu)(zu)，當前的數字乘(cheng)以(yi)檔次(ci)即是被測(ce)電阻(zu)(zu)(zu)。
7.測試(shi)完畢(bi)先將量(liang)程撥(bo)至（104）檔(dang)，然后(hou)將測量(liang)電壓撥(bo)至10V檔(dang)，zui后(hou)將測試(shi)按鈕撥(bo)到(dao)*位置后(hou)關閉電源。然后(hou)進行下(xia)一(yi)次測試(shi)。
8.應在“Rx”兩端開路(lu)時調零，一般一次(ci)調零后在測試過程中不需再調零。
9.禁止將(jiang)“RX”兩端短路，以免(mian)微電流放大(da)(da)器受大(da)(da)電流沖擊。
10.不得(de)在(zai)測試過程中(zhong)不要隨(sui)意改動測量電壓。
11.測量時從低次檔逐漸撥(bo)往(wang)高次檔。
12.接(jie)通(tong)電源后，手指不能觸及(ji)高壓(ya)線的金屬(shu)部分。
13.不(bu)得測試過程(cheng)中(zhong)不(bu)能觸摸微電(dian)流測試端。
14.在測量高阻時，應采用屏蔽(bi)盒將被測物體屏蔽(bi)。
15.嚴(yan)禁在試(shi)測過程隨意改變電(dian)(dian)壓量程及(ji)在通電(dian)(dian)過程中打開主機。
16.嚴禁電流電阻量程未在104檔(dang)及電壓(ya)在10V檔(dang)，更換(huan)試樣。
體(ti)積(ji)電阻(zu)率(lv)測(ce)定儀(yi)操作方式
BEST-121體積、表面電(dian)阻率測(ce)定儀是(shi)一臺能(neng)測(ce)量*電(dian)阻和非常微弱(ruo)電(dian)流(liu)的精密(mi)儀器(qi)是(shi)因為機器(qi)內有一個超高性(xing)能(neng)的靜電(dian)計放(fang)大器(qi)，盡管儀器(qi)有多種保護措(cuo)施，這個超高性(xing)能(neng)的靜電(dian)放(fang)大器(qi)在以下(xia)這些不正確操作使用(yong)中均可能(neng)因過大電(dian)流(liu)沖擊、過電(dian)壓(ya)或放(fang)電(dian)等(deng)*損壞(huai)或降低其測(ce)量精度與性(xing)能(neng)。
測(ce)試過程
不正(zheng)確的操作方式后果
開機前
沒有將電壓(ya)撥(bo)至10V，電阻(zu)電流量程檔撥(bo)至104
過(guo)電流沖擊造成儀器放大器過(guo)電流而損壞
測試過(guo)程
隨意調節后面板電壓(ya)量程(cheng)而改(gai)變測試電壓(ya)
過電(dian)流或反向(xiang)放電(dian)沖(chong)擊造成儀器(qi)過電(dian)流而損(sun)壞
測試過程
改(gai)變屏蔽箱上體面電(dian)阻，表面電(dian)測測試開關
過(guo)電流或反向放電沖(chong)擊(ji)造成儀器過(guo)電流而損(sun)壞(huai)
測試過程(cheng)
測(ce)試電壓過高(gao)，導致測(ce)試材(cai)料(liao)擊穿
過電(dian)(dian)流或(huo)反向放電(dian)(dian)沖擊造成(cheng)儀器過電(dian)(dian)流而(er)損壞或(huo)測量(liang)性(xing)能降(jiang)低
測試過(guo)程
微電(dian)流測(ce)量(liang)線與高壓線短路
過電(dian)(dian)流(liu)或反向放電(dian)(dian)沖(chong)擊造成(cheng)儀器(qi)過電(dian)(dian)流(liu)而損壞或測(ce)量(liang)性能降低
測試完成
未將電(dian)(dian)壓量(liang)(liang)程(cheng)撥至(zhi)10V，電(dian)(dian)阻電(dian)(dian)流量(liang)(liang)程(cheng)檔撥至(zhi)104進行關機。
過電流或反向放電沖(chong)擊造成儀(yi)器過電流而損壞或測量(liang)性能降低
標簽：
電(dian)壓擊穿(chuan)試(shi)驗儀
電阻率測試儀
